Elmuestra rotatoriahmás viejoen undifractómetro de rayos Xes un componente clave utilizado para el ajuste y fijación precisos de la posición de la muestra,La muestra puede rotar dentro de su propio plano, lo cual es beneficioso para errores causados ​​por granos gruesos. Para muestras con textura y cristalografía,muestra rotatoria hmás viejogarantiza una buena reproducibilidad de la intensidad de difracción y elimina la orientación preferida.

Principio de funcionamiento demuestra rotatoria hmás viejo:

Cuando eldifractómetro de rayos XEn funcionamiento, los rayos X de alta energía generados por la fuente se irradian sobre la muestra fijada en la platina giratoria. Debido a la estructura cristalina y los parámetros reticulares específicos de la muestra, los rayos X experimentan fenómenos de dispersión, absorción y difracción al interactuar con ella. Los fenómenos de difracción se producen según los requisitos de la ecuación de Bragg.

Elmuestra rotatoria hmás viejoPuede girar en ángulos más pequeños según la configuración, lo que permite que la muestra reciba radiación de rayos X en diferentes ángulos, obteniendo así patrones de difracción en diferentes ángulos. De esta manera, el detector puede medir la intensidad de los rayos X tras la difracción de la muestra y convertirla en una señal eléctrica que se transmite al ordenador para el procesamiento de datos.

La función principal de lamuestra rotatoria hmás viejoes:

Método de rotación: eje β (plano de muestra)

Velocidad de rotación: 1~60 RPM

Ancho de paso pequeño: 0,1º

Modo de funcionamiento: Rotación a velocidad constante para escaneo de muestras (paso, continuo)

Ventajas demuestra rotatoria hmás viejo:

Ely muestra giratoria hmás viejo Puede mejorar la precisión de los datos de difracción: En muestras con formas irregulares de polvo o partículas, la orientación preferida tiende a aparecer durante la preparación convencional de muestras de polvo, lo que provoca desviaciones en la distribución de la intensidad de difracción y afecta la precisión del análisis de los resultados. La rotación de la platina de muestra permite mover la muestra con una forma específica en un espacio adecuado, eliminando así la influencia de la orientación preferida y mejorando así la precisión de los datos de difracción.

Elmuestra giratoria hmás viejo Adaptable a diversas necesidades de prueba: compatible con diferentes tipos de instrumentos de medición de ángulos de difracción de rayos X, como instrumentos de medición de ángulos verticales, equipos de difracción de polvo compactos de bajo consumo, etc., lo que facilita su uso en diferentes pruebas. muestra giratoria hmás viejo Puede satisfacer los requisitos de varias muestras y condiciones de prueba ajustando parámetros como la velocidad y la dirección.

Elmuestra giratoria hmás viejo Puede ampliar las capacidades analíticas del instrumento: constantemente se desarrollan y aplican nuevos tipos de etapas de muestra giratorias, como algunas etapas de muestra para el análisis de difracción de rayos X electroquímicos in situ, que pueden monitorear y analizar los cambios de materiales en diferentes entornos o condiciones en tiempo real, ampliando las capacidades de análisis de los equipos de difracción de rayos X.

En resumen, elmuestra rotatoria hmás viejoendifractómetro de rayos Xes crucial para obtener con precisión información sobre la estructura cristalina de las sustancias.el muestra rotatoria hmás viejoNo solo puede mejorar la precisión de los datos de difracción, sino que también puede adaptarse a diversas necesidades de prueba y ampliar las capacidades analíticas del instrumento.