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+86-415-6123805La espectroscopia de absorción de rayos X es una técnica espectral para analizar la composición elemental y los estados electrónicos de los materiales mediante el uso de los cambios de señal antes y después de la incidencia de los rayos X de radiación sincrotrón.
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La radiación de sincrotrón es la radiación electromagnética producida a lo largo de la dirección tangente de la órbita cuando el electrón se mueve en una curva de alta velocidad, que puede usarse para llevar a cabo muchas investigaciones científicas y tecnológicas avanzadas.
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En 1912, Laue et al. La teoría predijo y confirmó experimentalmente que la difracción puede ocurrir cuando los rayos X se encuentran con el cristal, lo que demuestra que los rayos X tienen la propiedad de una onda electromagnética, lo que se convirtió en el primer hito en la difracción de rayos X.
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XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.
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La difracción de rayos X es una técnica analítica no destructiva de uso común que se puede utilizar para revelar la estructura cristalina, la composición química y las propiedades físicas de sustancias.
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De acuerdo con los cambios de posición e intensidad de los picos de difracción de XRD in situ, se pueden inferir los intermedios generados durante el ciclo y el mecanismo de reacción se puede derivar aún más a partir de estos intermedios.
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La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.
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Cuando un haz de rayos X extremadamente delgado pasa a través de un material con una densidad electrónica desigual de tamaño nanométrico, los rayos X se dispersarán en una pequeña región angular cerca de la dirección del haz original; este fenómeno se llama ángulo X pequeño. -dispersión de rayos.
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La dispersión de rayos X de ángulo pequeño es la dispersión difusa de electrones en rayos X en el rango de ángulo pequeño cerca del haz original. La dispersión de ángulo pequeño ocurre en todos los materiales con una densidad de electrones no uniforme en la escala nanométrica.
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El uso de rayos X para estudiar la estructura de los cristales principalmente a través del fenómeno de difracción de rayos X en el cristal.
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