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+86-415-6123805Las pruebas no destructivas (NDT) son un tipo de método de prueba ampliamente utilizado en diversas industrias, que es ampliamente elogiado por su alta precisión, efecto de imagen de alta resolución y velocidad de detección rápida y eficiente.
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Hoy en día, la tecnología de imágenes de rayos X ha formado un sistema de tecnología de pruebas no destructivas de rayos X relativamente completo. También se están innovando nuevas tecnologías de detección, utilizando la tecnología de detección en línea por rayos X.
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La incidencia rasante significa que los rayos X están expuestos a la película en un ángulo de incidencia muy pequeño (< 5°), which greatly reduces the penetration depth in the film.At the same time, the low incidence Angle increases the irradiation area of the X-ray on the sample
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La XRD de haz paralelo de cristales ópticos de rayos X se ha aplicado con éxito en análisis de películas delgadas, evaluación de textura de muestras, monitoreo de estructura y fase cristalina, etc.
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El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas, etc.
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Investigadores de la instalación de radiación sincrotrón SPring-8 del Instituto de Investigación RIKEN en Japón y sus colaboradores han desarrollado una forma más rápida y sencilla de realizar análisis de segmentación, un proceso importante en la ciencia de materiales.
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Los investigadores han desarrollado una técnica de imágenes de rayos X que produce imágenes detalladas de organismos con dosis de rayos X mucho más bajas de lo que era posible anteriormente.
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El nombre completo de XRD es difracción de rayos X, que utiliza el fenómeno de difracción de rayos X en el cristal para obtener las características de la señal de rayos X después de la difracción y obtiene el patrón de difracción después del procesamiento.
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La dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS) es una tecnología que recopila señales dispersas generadas por los rayos X que pasan a través de una muestra para estudiar la información estructural de una muestra en el rango de 1 a 100 nm.
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La difracción de rayos X es un medio importante para que las personas comprendan y exploren la naturaleza, especialmente en la física de la materia condensada, la medicina biológica, la historia y muchos otros campos que desempeñan un papel activo.
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