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El difractómetro de rayos X TD-5000 rompe el monopolio internacional en instrumentos científicos de alta gama. Esta innovación china ofrece una precisión excepcional (0,0001°) y capacidades de detección avanzadas, al servicio de investigadores en farmacia, ciencia de materiales y química mediante análisis estructurales exhaustivos.

Avance en instrumentos científicos: el difractómetro de rayos X TD-3700 de Dandong Tongda impulsa la innovación en investigación. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es una empresa de alta tecnología especializada en la investigación, el desarrollo y la producción de instrumentos de análisis de rayos X. Su producto estrella, el difractómetro de rayos X TD-3700, integra análisis rápido, un manejo intuitivo y sólidas funciones de seguridad. La perfecta sinergia entre su hardware modular y sus sistemas de software personalizados lo convierte en una potente herramienta para campos de investigación como la ciencia de los materiales, la química y la mineralogía. El difractómetro de rayos X TD-3700 presenta importantes ventajas tanto en la tecnología de detección como en los modos de medición, lo que le permite satisfacer una amplia gama de necesidades analíticas. Tecnología central y rendimiento Detectores de alto rendimiento: El instrumento puede equiparse con detectores de matriz 1D de alta velocidad opcionales (p. ej., MYTHEN2R), detectores SDD o detectores 2D. Gracias a la tecnología híbrida de conteo de fotones, funciona sin ruido de lectura, alcanza velocidades de adquisición de datos de decenas a cientos de veces más rápidas que los detectores de centelleo tradicionales y elimina eficazmente los efectos de fluorescencia para lograr una excelente resolución energética. Por ejemplo, el detector de matriz 1D cuenta con 640 canales con un tiempo de lectura excepcionalmente corto de tan solo 89 microsegundos, lo que contribuye a una excelente relación señal-ruido. Modos de escaneo flexibles: El difractómetro de rayos X TD-3700 admite dos métodos principales de escaneo de datos: el modo de reflexión (difracción) convencional y el modo de transmisión. El modo de transmisión proporciona una mayor resolución, lo que lo hace ideal para analizar muestras limitadas o realizar análisis estructurales. El modo de reflexión ofrece una señal más potente, más apropiada para la identificación rutinaria de fases en entornos de laboratorio. Esta flexibilidad permite al instrumento procesar una amplia variedad de tipos de muestras, desde trazas de polvo y sólidos a granel hasta incluso líquidos y muestras viscosas. Sistema de Goniómetro de Precisión: Utiliza un goniómetro vertical θS-θd donde la muestra permanece horizontal y estacionaria durante la medición. Este diseño no solo facilita la preparación de la muestra, sino que también ayuda a prevenir la posible corrosión del sistema de ejes del goniómetro por las muestras, prolongando así su vida útil. Con un amplio rango de escaneo 2θ (-110° a 161°) y una excepcional precisión repetitiva de 0,0001°, garantiza mediciones altamente precisas y repetibles. Características del instrumento y garantía de seguridad El difractómetro de rayos X TD-3700 está diseñado con un fuerte énfasis en la experiencia del usuario y la seguridad operativa. Diseño fácil de usar: Operación sin esfuerzo: cuenta con un sistema de adquisición de un solo clic e incorpora una interfaz de pantalla táctil para monitoreo en tiempo real del estado del instrumento. Diseño modular: los componentes están diseñados para una funcionalidad plug-and-play, sin necesidad de calibración y garantizando un mantenimiento sencillo. Protección de seguridad integral: Incorpora un sistema de enclavamiento electrónico de puerta principal para protección de doble capa, garantizando la seguridad del usuario. La fuga de radiación externa del sistema de protección es ≤ 0,1 μSv/h, cumpliendo con estrictos estándares internacionales de seguridad. Incluye múltiples funciones de protección contra kV excesivamente alto/bajo, mA excesivamente alto/bajo, falla del flujo de agua y sobrecalentamiento del tubo de rayos X. Sistema estable y confiable: Utiliza un generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje, reconocido por su rendimiento estable y confiable, con una estabilidad del sistema ≤ 0,005 %. El enfriador de recirculación integrado cuenta con una función de enfriamiento integrada, lo que elimina la necesidad de una unidad externa de circulación de agua. Aplicaciones y reconocimiento global El difractómetro de rayos X TD-3700 se utiliza ampliamente para análisis de fase cualitativo/cuantitativo, análisis de estructura cristalina, investigación de estructura de materiales, determinación del tamaño de grano y medición de cristalinidad. Reconocida por su confiable calidad, los productos de Dandong Tongda se han exportado a numerosos países y regiones, como Estados Unidos, Corea del Sur, Irán, Azerbaiyán, Irak y Jordania, lo que les ha valido el reconocimiento internacional. La empresa también ha obtenido la certificación ISO 9001 y otras certificaciones internacionales de sistemas de gestión de calidad. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece a sus clientes un servicio y soporte integrales, que incluyen servicio posventa, capacitación profesional y apoyo comercial internacional. Agradecemos sus consultas y esperamos su compra.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros reticulares, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristal de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta la tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que puede lograr un funcionamiento confiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje, la elevación y tiene la función de entrenar automáticamente el tubo de rayos X, lo que extiende efectivamente la vida útil del tubo de rayos X y del instrumento de rayos X.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Utiliza el principio de interacción entre los rayos X y el cristal para determinar la disposición atómica dentro del cristal mediante el análisis del patrón de difracción de rayos X. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, la investigación de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristales de rayos X, como instrumento de rayos X, proporciona información valiosa para la investigación en ciencia de materiales y otros campos relacionados. Con el avance continuo de la tecnología y la expansión de las aplicaciones, el analizador de cristales de rayos X seguirá desempeñando un papel importante en la investigación científica y la producción industrial.

El instrumento automático de orientación por rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la estructura cristalina, la orientación y los parámetros de red. Tiene una amplia gama de aplicaciones en la ciencia de los materiales, la geología, la física y la química, especialmente en el estudio de la microestructura y las propiedades de los materiales monocristalinos, policristalinos y de película delgada. A continuación se proporcionará una introducción detallada al principio de funcionamiento, la aplicación y las precauciones operativas del orientador de cristales por rayos X. Con el avance de la tecnología, los dispositivos de instrumentos de orientación de rayos X automáticos continúan mejorando, con una mayor resolución y un funcionamiento más sencillo. Al mismo tiempo, la combinación con otras técnicas analíticas como la microscopía electrónica y el análisis espectroscópico hace que el análisis de la estructura cristalina sea más completo y profundo. Además, los dispositivos analizadores de orientación de rayos X portátiles y de monitoreo en línea se han desarrollado gradualmente, brindando posibilidades de análisis in situ y monitoreo en tiempo real. En resumen, el analizador de orientación por rayos X es una potente herramienta analítica que resulta crucial para comprender y controlar la microestructura de los materiales. Con el continuo desarrollo de la tecnología, su aplicación en diversos campos se hará más extensa y profunda.

El irradiador de rayos X WBK-01 de Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. ofrece una alternativa segura y rentable a los irradiadores de isótopos. Este instrumento de laboratorio compacto agiliza la irradiación de células y pequeños animales para la investigación biomédica y el control de plagas, y se caracteriza por su facilidad de uso sin necesidad de licencias de radiación.

La difracción de rayos X es una técnica de ensayo no destructiva de materiales rápida, precisa y eficiente. Como medio para caracterizar la estructura cristalina y su regla de cambio, se usa ampliamente en muchos campos como la biología, la medicina, la cerámica, etc.

El difractómetro de rayos X es un tipo de instrumento para analizar la estructura cristalina, la composición de fases y la orientación cristalina de una sustancia mediante la interacción de los rayos X con la materia.