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+86-415-6123805Un difractómetro de tensión de rayos X es un instrumento ampliamente utilizado en el campo de la ciencia e ingeniería de materiales para medir la distribución de tensión interna de los materiales.
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Un equipo de investigación del Instituto Hefei de Ciencias Físicas de la Academia de Ciencias de China realizó recientemente un estudio que propone un método novedoso para mejorar la detección de rayos X mediante la incorporación de cristales peritécticos de CsPb2Br5 desfasados en materiales de bloques de CsPbBr3.
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La difracción de rayos X es una técnica básica para el estudio de la estructura sólida, que puede proporcionar información espectral única para la composición química y la disposición estructural de las muestras.
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Recientemente, el Ministerio de Ciencia y Tecnología anunció la lista del segundo lote de proyectos clave en el marco del Plan Nacional de Investigación y Desarrollo clave de 2023 "Condiciones de investigación científica básica e investigación y desarrollo de instrumentos y equipos científicos importantes".
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Científicos dirigidos por NTU Singapur han desarrollado y simulado un nuevo método de ahorro de energía que puede producir rayos X altamente enfocados y finamente controlados que son mil veces más potentes que los métodos convencionales.
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El análisis XRD es un método para analizar la estructura de los átomos internos en la distribución espacial de sustancias mediante el uso de difracción de rayos X formados por cristales.
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La tecnología XRD proporciona una poderosa herramienta para estudiar la composición química y mineral de la salmuera. Mediante el uso de esta técnica, se pueden comprender mejor las características y el valor de la salmuera.
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Los investigadores del NREL han utilizado capacidades de diagnóstico por rayos X de última generación como método no destructivo para examinar la composición y estructura de los materiales de las baterías.
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XRD utiliza rayos X monocromáticos como fuente de difracción, que generalmente pueden penetrar el sólido para verificar su estructura interna. XRD proporciona información sobre la estructura de fase masiva del material.
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Desde la década de 1990, la tecnología de imágenes por tomografía de rayos X con radiación sincrotrón se ha utilizado ampliamente en la investigación de materiales.
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