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La difracción de rayos X de monocristal es fundamental en la ciencia de los materiales para el análisis de la estructura cristalina, la identificación de fases y el análisis de tensiones. Permite una caracterización precisa a nivel atómico, facilita el diseño racional de materiales y avanza gracias a nuevas tecnologías como la radiación sincrotrón y la determinación de estructuras asistida por IA.
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El difractómetro de rayos X TD-5000 rompe el monopolio internacional en instrumentos científicos de alta gama. Esta innovación china ofrece una precisión excepcional (0,0001°) y capacidades de detección avanzadas, al servicio de investigadores en farmacia, ciencia de materiales y química mediante análisis estructurales exhaustivos.
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