El accesorio de medición de película óptica paralela es un componente óptico que se utiliza para mejorar la intensidad de la señal de películas delgadas y reducir la influencia de las señales del sustrato en los resultados de la medición. Generalmente se utiliza en experimentos o instrumentos ópticos, principalmente para generar haces paralelos o realizar mediciones ópticas en muestras de película delgada. Al aumentar la longitud de la rejilla, se puede lograr un control y filtrado de la luz más precisos. Cuando la luz pasa a través de ella, la placa de rejilla puede filtrar más líneas dispersas, lo que hace que la luz transmitida sea más pura y más concentrada, reduciendo así la interferencia de la luz dispersa en la señal de la película delgada y mejorando la intensidad de la señal de la propia película delgada, mejorando la precisión y confiabilidad de la medición. 1. Función principal del accesorio de medición de película óptica paralela Mejora de la precisión de la medición: en la detección y el análisis relacionados con películas delgadas, como la medición del espesor de películas delgadas, la determinación de la constante óptica, etc., los accesorios de película delgada de luz paralela pueden reducir eficazmente la influencia de las señales del sustrato, haciendo que los resultados de la medición sean más cercanos a las características reales de la película delgada, mejorando así la precisión y exactitud de la medición. Mejora de la intensidad de la señal: ayuda a aumentar la intensidad de la señal luminosa reflejada o transmitida por la película fina, lo que es particularmente importante para algunas muestras de película fina con señales más débiles. La señal mejorada puede ser recibida y reconocida con mayor claridad por el detector, lo que reduce el límite de detección y mejora la sensibilidad del instrumento para detectar muestras de película fina. Mejora de la calidad de la imagen: en algunas aplicaciones que requieren la observación de imágenes de películas delgadas, como la observación de la morfología de la superficie de películas delgadas bajo un microscopio, los accesorios de película delgada de luz paralela pueden reducir el ruido de fondo y la borrosidad causada por la luz dispersa, lo que hace que la imagen de la película delgada sea más clara, tenga mayor contraste y sea más fácil observar y analizar la estructura detallada de la película delgada. 2. Componentes principales del accesorio de medición de película óptica paralela Fuente de luz: normalmente se utilizan láseres, LED u otras fuentes de luz monocromáticas. Lente colimadora: convierte los haces de luz divergentes en luz paralela. Soporte de muestra: se utiliza para colocar muestras de película, generalmente ajustable en posición y ángulo. Detector: se utiliza para recibir señales de luz transmitidas o reflejadas para medición y análisis. 3. Campos de aplicación del accesorio de medición de película óptica paralela Investigación óptica: se utiliza para estudiar las propiedades ópticas de películas delgadas, como interferencia, difracción, etc. Ciencia de los materiales: se utiliza para medir el espesor y el índice de refracción de películas delgadas y evaluar las propiedades del material. Pruebas industriales: se utilizan para el control de calidad y las pruebas en la producción de películas. 4. Instrucciones para el accesorio de medición de película óptica paralela Ajuste la fuente de luz: asegúrese de que la fuente de luz sea estable y el haz sea uniforme. Haz colimado: ajusta el haz de luz a través de una lente colimadora para hacerlo paralelo. Colocar la muestra: Coloque la muestra de película en la platina de muestra, ajuste la posición y el ángulo. Medición y análisis: Utilice detectores para recibir señales de luz, registrar datos y realizar análisis. 5. Precauciones Estabilidad de la fuente de luz: asegúrese de la estabilidad de la fuente de luz para evitar errores de medición. Limpieza de componentes ópticos: Mantenga los componentes ópticos limpios para evitar que el polvo y las manchas afecten los resultados de la medición. Preparación de la muestra: Asegúrese de que la muestra de película sea uniforme y libre de defectos para obtener resultados de medición precisos. En resumen, el accesorio de medición de película óptica paralela es un componente óptico importante que juega un papel crucial en múltiples campos y es de gran importancia en la promoción de la investigación científica y el progreso tecnológico en campos relacionados.

El accesorio de temperatura media y baja de un difractómetro de rayos X es un componente clave utilizado para el análisis de difracción de rayos X en entornos de baja temperatura. El accesorio de temperatura media y baja se usa ampliamente en trabajos de investigación y desarrollo en ciencia de materiales, física, química y otros campos, especialmente adecuado para escenarios que requieren análisis estructural de materiales en diferentes condiciones de temperatura. Para comprender los cambios en la estructura cristalina durante el proceso de refrigeración a baja temperatura, los siguientes son los parámetros técnicos del accesorio de temperatura media y baja: Entorno de vacío: 196 ~ 500 ℃ Precisión del control de temperatura: ± 0,5 ℃ Método de refrigeración: nitrógeno líquido (consumo inferior a 4L/h) Material de la ventana: Película de poliéster. Método de enfriamiento: enfriamiento por circulación de agua desionizada. En resumen, el accesorio de temperatura media y baja del difractómetro de rayos X es un componente importante del equipo que puede brindar un fuerte apoyo para la investigación científica y el análisis de materiales. El accesorio de temperatura media y baja de un difractómetro es una de las herramientas importantes en el campo del análisis de la estructura de los materiales, con amplias perspectivas de aplicación y un valor de investigación significativo. El accesorio de temperatura media y baja del difractómetro es un componente clave para garantizar el funcionamiento normal y la medición precisa del instrumento en condiciones de baja temperatura. Su diseño y rendimiento afectan directamente la precisión y confiabilidad de los resultados experimentales. Al seleccionar y aplicar el accesorio de temperatura media y baja, se deben considerar completamente los requisitos experimentales, las características de la muestra, así como los parámetros técnicos y las características de rendimiento de los accesorios para garantizar los mejores resultados experimentales.

El irradiador de rayos X genera rayos X de alta energía para irradiar objetos objetivo o tejidos biológicos. La generación de rayos X generalmente se logra acelerando electrones para que colisionen con objetivos metálicos (como tungsteno, cobre, etc.), generando bremsstrahlung y formando haces de rayos X, que luego irradian células o animales pequeños. El irradiador de rayos X se utiliza para diversas investigaciones básicas y aplicadas. Históricamente, se utilizaban irradiadores de isótopos radiactivos, que requerían transportar muestras a una instalación de irradiación central. Sin embargo, hoy en día, se pueden instalar irradiadores de rayos X más pequeños, seguros, simples y de menor costo en los laboratorios para una irradiación conveniente y rápida de células. Varias muestras se pueden irradiar directamente en el laboratorio sin afectar la fertilidad o la seguridad. El irradiador de rayos X es conveniente para el personal que no ha recibido capacitación profesional en rayos X para su uso, y no hay solicitudes de licencia costosas ni costos de seguridad o mantenimiento de la fuente de radiación. El irradiador de rayos X es fácil de operar, seguro, confiable y rentable, y puede reemplazar las fuentes de isótopos radiactivos. 1. Las principales áreas de aplicación del irradiador de rayos X incluyen el campo médico, el campo de la investigación científica, etc. 2. Precauciones de seguridad para equipos de irradiación de rayos X: Protección radiológica: Los operadores deben usar ropa protectora para evitar la exposición prolongada a los rayos X. Mantenimiento del equipo: Inspeccione periódicamente el equipo para garantizar su funcionamiento normal y evitar fugas de radiación. Control de dosis: Controle estrictamente la dosis de irradiación para evitar daños innecesarios a la muestra o al cuerpo humano.

Principio y aplicación de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT: La máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT es el uso de las propiedades acústicas, ópticas, magnéticas y eléctricas de los materiales para detectar la presencia de defectos o irregularidades en el objeto probado sin dañar o afectar su rendimiento. Proporciona información sobre el tamaño, la ubicación, la naturaleza y la cantidad de defectos. En comparación con las pruebas destructivas, las pruebas no destructivas tienen las siguientes características. La primera es no destructiva, ya que no compromete el rendimiento del objeto detectado durante la prueba; La segunda es integral, como la detección no es destructiva, es necesario realizar una detección 100% integral del objeto probado, que no se puede lograr mediante la detección destructiva; La tercera es integral, y las pruebas destructivas generalmente solo se aplican a las pruebas de materias primas, como tensión, compresión, flexión, etc., comúnmente utilizadas en ingeniería mecánica. Las pruebas destructivas se llevan a cabo en materias primas de fabricación, y para productos terminados y artículos en uso, las pruebas destructivas no se pueden realizar a menos que no estén destinados a continuar sirviendo. Las pruebas no destructivas, por otro lado, no dañan el rendimiento del objeto probado. Por lo tanto, no solo puede realizar pruebas de procesos completos en materias primas de fabricación, procesos intermedios e incluso productos finales, sino también probar equipos en servicio. Características de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT: El generador de rayos X tiene un volumen pequeño, con un ánodo conectado a tierra y enfriamiento forzado por un ventilador; ◆ Ligero, fácil de transportar y sencillo de operar; Trabajar y descansar en proporción 1:1; Hermosa apariencia y estructura razonable; ◆ Exposición retardada para garantizar la seguridad del operador; El propósito principal de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT: El objetivo principal del equipo es inspeccionar la calidad del procesamiento y la soldadura de materiales y componentes como cascos de barcos, tuberías, recipientes de alta presión, calderas, aeronaves, vehículos y puentes en sectores industriales como la defensa nacional, la construcción naval, el petróleo, la química, la mecánica, la aeroespacial y la construcción, así como los defectos internos y la calidad inherente de varios metales ligeros, caucho, cerámica, etc.

El orientador de cristales de rayos X funciona según el principio de difracción de rayos X. El alto voltaje generado por el transformador de alto voltaje actúa sobre el tubo de rayos X, produciendo rayos X. Cuando los rayos X se irradian sobre la muestra, se produce difracción cuando se satisface la condición de difracción de Bragg (n λ = 2dsin θ). Entre ellas, λ es la longitud de onda de los rayos X, d es el espaciamiento entre los planos atómicos dentro del cristal y θ es el ángulo entre los rayos X incidentes y el plano del cristal. La línea de difracción es recibida por el tubo de conteo y mostrada en el microamperímetro del amplificador. Cuando se utiliza un monocromador, la línea de difracción se monocromatiza y luego es recibida por el contador y mostrada en el microamperímetro del amplificador, mejorando así la precisión de la medición. El orientador de cristales de rayos X puede determinar con precisión y rapidez el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales (cristales piezoeléctricos, cristales ópticos, cristales láser, cristales semiconductores) y está equipado con una máquina de corte para el corte direccional de los cristales mencionados anteriormente. El orientador de cristales de rayos X es un instrumento indispensable para el mecanizado de precisión y la fabricación de dispositivos de cristal. El orientador de cristales de rayos X se utiliza ampliamente en las industrias de investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos. El orientador de cristales de rayos X es fácil de operar, no requiere conocimientos profesionales ni técnicas especializadas, muestra el ángulo digitalmente, es fácil de observar y reduce los errores de lectura. La pantalla del instrumento de orientación de cristales de rayos X se puede poner a cero en cualquier posición, lo que facilita la visualización del valor de desviación del ángulo del chip. El instrumento de medición de ángulo dual puede funcionar simultáneamente, lo que mejora la eficiencia. El orientador de cristales de rayos X tiene un integrador especial con amplificación de pico, que mejora la precisión de detección. La integración del tubo de rayos X y el cable de alto voltaje aumenta la confiabilidad del alto voltaje. El detector de alto voltaje adopta un módulo de alto voltaje de CC y una placa de muestra de succión al vacío, lo que mejora la precisión y la velocidad de la medición del ángulo. En general, el orientador de cristales de rayos X es un instrumento de precisión basado en el principio de difracción de rayos X, que proporciona un importante soporte técnico para la investigación de materiales cristalinos y aplicaciones relacionadas al medir con precisión el ángulo de corte de los cristales.

Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en difractómetros de rayos X. Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño permiten realizar mediciones de difracción de rayos X dentro de un rango de ángulos muy pequeño, de 0° a 5°, para pruebas de espesor de nanopelículas multicapa. Desempeñan un papel importante en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología. Tipos y características comunes: Accesorio de película delgada de luz paralela: este accesorio puede generar haces de rayos X paralelos y es adecuado para mediciones de difracción de ángulos pequeños de muestras de película delgada. Puede mejorar la precisión y la resolución de las mediciones, reducir los errores de medición causados ​​por la divergencia del haz y adaptarse mejor a muestras de película delgada de diferentes espesores y propiedades. Platina de muestra multifuncional: Equipada con accesorios de difracción de ángulo pequeño, la platina de muestra multifuncional puede proporcionar varios entornos de prueba para muestras, como calentamiento, enfriamiento, estiramiento in situ, etc. Esto hace que sea más conveniente estudiar los cambios estructurales de los materiales en diferentes condiciones externas y permite la observación en tiempo real de la respuesta estructural de los materiales durante la temperatura, el estrés y otros cambios. Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño juegan un papel importante en múltiples campos, como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología, al lograr una difracción de ángulo pequeño y una medición precisa del espesor de película nanométrica multicapa, proporcionando a los investigadores una herramienta poderosa para la exploración en profundidad de las microestructuras y propiedades de los materiales.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la cristalinidad de la fibra y el ancho de medio pico. Un componente especializado que se utiliza para analizar materiales de fibra como textiles, fibras poliméricas, fibras biológicas, etc. Se utiliza comúnmente para estudiar la estructura cristalina, la orientación y la disposición molecular de las fibras. Funciones principales de los accesorios de fibra: 1. Fijación de la muestra de fibra: Los accesorios de fibra se utilizan para fijar la muestra de fibra, asegurando su posición y estabilidad de dirección en el haz de rayos X. 2. Análisis de la orientación de las fibras: ajustando la posición y el ángulo de la muestra, se estudia la orientación de los cristales y la disposición molecular de las fibras. 3. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS): algunos accesorios de fibra admiten SAXS para analizar la estructura a nanoescala de las fibras. Tipos comunes de accesorios de fibra: 1. Dispositivo de estiramiento de fibra: puede aplicar tensión a las fibras durante el análisis XRD para estudiar cambios estructurales bajo estrés. 2. Platina de muestra giratoria: permite que las muestras de fibra giren, lo que facilita la recopilación de datos de difracción desde diferentes ángulos. 3. Accesorios de control de temperatura: se utilizan para analizar materiales de fibra a temperaturas específicas y estudiar el efecto de la temperatura en la estructura. Campos de aplicación de los accesorios de fibra: 1. Ciencia de los materiales: estudia la estructura cristalina y las propiedades mecánicas de fibras sintéticas como el nailon y el poliéster. 2. Biomateriales: Analizar la estructura de fibras naturales como el colágeno y la celulosa. 3. Textiles: Evaluar la orientación y cristalinidad de las fibras textiles. Pasos para utilizar accesorios de fibra: 1. Preparación de la muestra: Fije la muestra de fibra en el accesorio. 2. Ajustar parámetros: configure la fuente de rayos X, el detector y las posiciones de la muestra. 3. Recopilación de datos: Recopilar patrones de difracción. 4. Análisis de datos: Utilizar software para analizar datos de difracción y obtener información estructural. Asuntos que requieren atención: -Alineación de la muestra: asegúrese de que la muestra esté alineada con precisión con el haz de rayos X. -Optimización de parámetros: Optimice la energía de los rayos X, el tiempo de exposición, etc. en función de las características de la muestra. -Calidad de los datos: garantizar patrones de difracción claros y evitar interferencias de ruido. Nuestra empresa ofrece capacitación en sitio sobre el uso de instrumentos y conocimientos relacionados con la industria, así como el uso y mantenimiento posterior del software de análisis y servicios completos de mantenimiento de máquinas.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, y la carga de este detector ha mejorado enormemente el rendimiento general de la máquina. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 utiliza el principio de difracción de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de sobremesa se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 está equipado con una variedad de detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales, detectores SDD, etc. El difractómetro de rayos X TD-3700 integra análisis rápido, operación conveniente y seguridad para el usuario. La arquitectura de hardware modular y el sistema de software personalizado logran una combinación perfecta, lo que hace que su tasa de falla sea extremadamente baja, el rendimiento antiinterferencia sea bueno y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de rayos X TD-3700 puede aumentar la intensidad del cálculo de difracción en decenas de veces o más, obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto, y también admite el escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio.

El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la textura de la fibra y el ancho de medio pico.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala y un instrumento de rayos X que se utiliza para estudiar la microestructura interna de los materiales. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.