El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 es un nuevo miembro de la serie TD, equipado con diversos detectores de alto rendimiento, como detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales y detectores SDD, entre otros. Integra un análisis rápido, un funcionamiento sencillo y seguridad para el usuario. La arquitectura modular de hardware y el sistema de software personalizado se combinan a la perfección, lo que reduce al mínimo la tasa de fallos, ofrece un excelente rendimiento antiinterferencias y garantiza un funcionamiento estable a largo plazo de la fuente de alimentación de alto voltaje. El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 admite tanto el método convencional de escaneo de datos por difracción como el de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que resulta ideal para análisis estructurales y otros campos. El modo de difracción presenta señales de difracción potentes y es más adecuado para la identificación rutinaria de fases en el laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede estar en cantidades traza, lo que resulta adecuado para la adquisición de datos en casos donde el tamaño de la muestra es relativamente pequeño y no cumple los requisitos del método de difracción para la preparación de muestras. El detector de matriz utiliza plenamente la tecnología de conteo de fotones mixtos, sin ruido, con una rápida adquisición de datos y una velocidad diez veces superior a la de los detectores de centelleo. Ofrece una excelente resolución energética y puede eliminar eficazmente los efectos de fluorescencia. Los detectores multicanal ofrecen tiempos de lectura más rápidos y una mejor relación señal-ruido. Un sistema de control del detector con puerta electrónica y disparo externo completa eficazmente la sincronización del sistema. El principio de funcionamiento del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Al aprovechar la fluctuación de los rayos X, al irradiarlos sobre un cristal, los átomos o iones del cristal actúan como centros de dispersión, dispersando los rayos X en todas direcciones. Debido a la regularidad de la disposición atómica en los cristales, estas ondas dispersas interfieren y se refuerzan mutuamente en ciertas direcciones, formando difracción. Midiendo el ángulo y la intensidad de difracción, se puede obtener información estructural del cristal. Las principales características del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 son: (1) Fácil de operar, sistema de recolección con un solo clic; (2) Diseño modular, accesorios de instrumento plug and play, sin necesidad de calibración; (3) Monitoreo en línea en tiempo real mediante pantalla táctil para mostrar el estado del instrumento; (4) Dispositivo de enclavamiento de puerta con cable electrónico, doble protección, que garantiza la seguridad del usuario; (5) Generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje, con un rendimiento estable y confiable; (6) Unidad de control de grabación avanzada con fuerte capacidad antiinterferencia. La alta precisión del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 permite un análisis de alta precisión de la estructura cristalina de los materiales, como la determinación precisa de constantes reticulares, parámetros celulares, etc. La precisión de la medición del ángulo puede alcanzar ±0,0001°. La alta resolución del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 puede distinguir claramente los picos de difracción adyacentes, analizar con precisión la información de difracción de diferentes planos cristalinos para estructuras cristalinas complejas y revelar las características de microestructura de los materiales. La naturaleza no destructiva del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: no dañará la muestra durante el proceso de prueba y la muestra puede mantenerse en su estado original para múltiples pruebas, lo que es particularmente importante para muestras preciosas o difíciles de obtener. Análisis rápido del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Los difractómetros de rayos X de alta resolución modernos tienen capacidades de detección rápida y pueden completar las pruebas de muestras en un corto período de tiempo, lo que mejora la eficiencia del trabajo. 3. Áreas de aplicación del difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700: Materiales semiconductores: se utilizan para detectar la calidad cristalina de materiales semiconductores monocristalinos y películas delgadas epitaxiales, analizar desajustes de red, defectos y otra información, lo que ayuda a optimizar el rendimiento de los dispositivos semiconductores. Materiales superconductores: estudiar la estructura cristalina y el proceso de transición de fase de los materiales superconductores para proporcionar una base para optimizar las propiedades superconductoras. Nanomateriales: Analizar el tamaño del grano, la estructura cristalina, la deformación microscópica, etc. de los nanomateriales ayuda a los investigadores a comprender mejor sus propiedades y aplicaciones. Otros campos: También se utiliza ampliamente en la investigación y el control de calidad de materiales metálicos, cerámicos, poliméricos, biomateriales y otros campos. El difractómetro de rayos X de alta resolución es un instrumento analítico de alta precisión, alta resolución, no destructivo y rápido, con importantes aplicaciones en diversos campos.

1. Función del difractómetro monocristalino: El difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes electrónicas de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad electrónica de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, los enlaces de hidrógeno intermoleculares y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. El difractómetro de rayos X de cristal único se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro de monocristal de rayos X es un producto de alta tecnología financiado por el Proyecto de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales Nacionales del Ministerio de Ciencia y Tecnología de China, dirigido por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., que llena el vacío en el desarrollo y la producción de difractómetros de monocristal en China. 2. Características del difractómetro monocristalino: Toda la máquina adopta tecnología de control de controlador lógico programable (PLC); Fácil de operar, sistema de recolección de un clic; Diseño modular, accesorios plug and play, sin necesidad de calibración; Monitoreo en línea en tiempo real a través de pantalla táctil, mostrando el estado del instrumento; Generador de rayos X de alta potencia con un rendimiento estable y confiable; Dispositivo de enclavamiento de puerta de plomo electrónico, doble protección. 3. Precisión del difractómetro de monocristal: Precisión de repetibilidad del ángulo 2 θ: 0,0001 °; Ángulo de paso mínimo: 0,0001 ° Rango de control de temperatura: 100 K-300 K; Precisión de control: ± 0,3 K 4. Instrumento de medición de ángulos utilizado en el difractómetro monocristalino: El uso de la técnica de cuatro círculos concéntricos garantiza que el centro del instrumento de medición de ángulos permanezca inalterado independientemente de cualquier rotación, lo que permite obtener datos con la máxima precisión y una mayor integridad. Los cuatro círculos concéntricos son un requisito indispensable para el escaneo con difractómetros monocristalinos convencionales. 5. Detector bidimensional de alta velocidad utilizado en difractómetros monocristalinos de rayos X: El detector combina las tecnologías clave de conteo de fotones individuales y tecnología de píxeles mixtos para lograr la mejor calidad de datos, a la vez que garantiza un bajo consumo de energía y una refrigeración reducida. Se aplica en diversos campos, como la radiación sincrotrón y las fuentes de luz de laboratorio convencionales, eliminando eficazmente la interferencia del ruido de lectura y la corriente oscura. La tecnología de píxeles mixtos permite detectar rayos X directamente, facilitando la distinción de la señal y proporcionando datos de alta calidad de forma eficiente. 6. Equipos de baja temperatura utilizados en difractómetros monocristalinos de rayos X: Los datos recopilados mediante equipos de baja temperatura producen resultados óptimos. Con la ayuda de estos equipos, se pueden crear condiciones más ventajosas que permitan que los cristales indeseables obtengan resultados óptimos, así como que los cristales ideales los obtengan. Rango de control de temperatura: 100 K ~ 300 K; Precisión de control: ± 0,3 K; Consumo de nitrógeno líquido: 1,1 ~ 2 litros/hora; 7. Accesorio opcional, lente de enfoque de película multicapa: Potencia del tubo de rayos X: 30 W o 50 W, etc. Divergencia: 0,5 ~ 1 mrad; Material del objetivo del tubo de rayos X: objetivo de Mo/Cu; punto focal: 0,5~2 mm.

El espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. El principio del espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): El espectro de estructura fina de absorción de rayos X se refiere a los espectros de alta resolución cerca de los bordes característicos de los electrones del núcleo atómico que absorben rayos X. Cuando la energía de los rayos X es igual a la energía de excitación de los electrones de la capa interna del elemento medido, estos sufrirán una fuerte absorción, lo que resulta en un límite de absorción (o borde de absorción). Cerca del borde de absorción, debido a la dispersión múltiple y otras razones, el coeficiente de absorción de los rayos X presentará fenómenos oscilatorios, concretamente, la estructura fina. 2. Principales ventajas del espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): (1) El producto de flujo luminoso más alto, con un flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV y una eficiencia espectral varias veces mayor que otros productos; Obtener una calidad de datos equivalente a la radiación de sincrotrón (2) Excelente estabilidad, la estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que 0,1% y la deriva de energía repetida es inferior a 50 meV. (3) El límite de detección del 1%, el alto flujo de luz, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que aún se puedan obtener datos EXAFS de alta calidad cuando el contenido de elementos medidos es >1%. 3. Áreas de aplicación de XAFS: Catálisis industrial, materiales de almacenamiento de energía, nanomateriales, toxicología ambiental, análisis cualitativo, análisis de elementos pesados, etc. 4. Características principales de XAFS: (1) Ordenamiento de corto alcance: EXAFS se basa en interacciones de corto alcance y no en el ordenamiento de largo alcance. XAFS permite estudiar la estructura de sistemas desordenados, como centros activos amorfos, líquidos, fundidos y catalizadores. (2) Especificidad del elemento: El método de fluorescencia permite medir muestras de elementos con concentraciones tan bajas como una millonésima. Ajustando la energía incidente de los rayos X, se pueden estudiar las estructuras vecinas de los átomos de diferentes elementos en el mismo compuesto. (3) Características de polarización: Los rayos X polarizados se pueden utilizar para medir ángulos de enlace atómico y estructuras superficiales en muestras orientadas. El espectro de estructura fina de absorción de rayos X, con sus principios únicos, características significativas y amplios campos de aplicación, se ha convertido en una herramienta indispensable e importante en múltiples campos como la ciencia de los materiales, la química catalítica y la investigación energética, proporcionando un fuerte apoyo para la exploración en profundidad de las microestructuras de los materiales y los estados electrónicos.

El cambiador automático de muestras utilizado en los difractómetros de rayos X es un dispositivo utilizado para el reemplazo automático de muestras, cuyo objetivo es mejorar la eficiencia y la precisión de los experimentos de difracción de rayos X. Impulsado por un motor paso a paso importado y controlado por un controlador lógico programable (PLC) Siemens, no es necesario reemplazar las muestras manualmente. El sistema mide las muestras de forma continua y guarda los datos automáticamente. Se pueden cargar varias muestras a la vez para realizar mediciones continuas. Los componentes principales de un cambiador de muestras automático son: Mecanismo de transferencia de muestra: generalmente incluye una cinta transportadora, una placa de presión elástica y un motor de accionamiento, responsable de transferir secuencialmente las placas de muestra de prueba a la posición de recuperación. Mecanismo de reemplazo de muestra: generalmente compuesto por componentes de sujeción, componentes de accionamiento de acción y plato giratorio, puede reemplazar automáticamente la placa de muestra entre la posición de recogida de la cinta transportadora y la etapa de muestra del instrumento de difracción. Módulo sensor: como el módulo sensor fotoeléctrico y el módulo sensor de fotorresistencia, se utiliza para detectar la posición de la muestra y el estado de funcionamiento del difractómetro, con el fin de controlar el módulo de circuito para realizar las acciones de control correspondientes. Módulo de circuito de control: conecta y controla el trabajo colaborativo de los mecanismos y módulos mencionados anteriormente para garantizar un funcionamiento preciso y estable del proceso de cambio automático de muestras. Módulo de potencia: proporciona soporte energético para todo el dispositivo de cambio automático de muestras. 2. Principio de funcionamiento del cambiador de muestras automático: Una vez que el difractómetro completa la prueba de la muestra actual, el módulo sensor detecta el cambio de estado de la luz del obturador del difractómetro y transmite la señal al módulo del circuito de control. Después de recibir la señal, el módulo del circuito de control activa el mecanismo de reemplazo de muestra para moverlo a la posición de recogida de la cinta transportadora y a la etapa de muestra del instrumento de difracción, y sujeta las placas de muestra en las dos posiciones respectivamente a través de las piezas de sujeción. Luego, el mecanismo de reemplazo de muestra intercambia las posiciones de las dos placas de muestra para completar la operación de reemplazo de muestra. A continuación, la cinta transportadora se pone en marcha y transporta la siguiente placa de muestra a la posición de recogida, a la espera del siguiente cambio de muestra. 3. Ventajas y características de los cambiadores automáticos de muestras: • Mejora la eficiencia de las pruebas: puede reemplazar automáticamente las muestras durante el proceso de prueba del instrumento de difracción sin intervención manual, acortando en gran medida el ciclo de prueba y mejorando la eficiencia del trabajo. • Reducir el error humano: evitar errores operativos y errores que pueden ocurrir al reemplazar manualmente las muestras, y mejorar la precisión y confiabilidad de los resultados de las pruebas. • Protección del instrumento: reduce la posibilidad de falla del instrumento causada por la apertura y cierre manual frecuente de la puerta del difractómetro y extiende la vida útil del difractómetro. • Adecuado para probar una gran cantidad de muestras: puede cargar múltiples muestras para satisfacer las necesidades de pruebas continuas de una gran cantidad de muestras y es adecuado para la detección de alto rendimiento en campos como la investigación científica y la producción. En resumen, el cambiador automático de muestras utilizado en los instrumentos de difracción de rayos X es un equipo automatizado eficiente y preciso que aporta muchas comodidades y ventajas a los experimentos de difracción de rayos X, ayudando a mejorar la eficiencia y la calidad experimental.

El monocromador de cristal curvo de grafito utilizado en difractómetros de rayos X es un componente clave para seleccionar longitudes de onda específicas de rayos X y eliminar la radiación no deseada, como las líneas K β y los rayos X fluorescentes. El monocromador de cristal curvo de grafito es un componente instalado delante del detector de rayos X, que monocromatiza los rayos X que pasan a través de la rendija receptora y solo detecta los rayos X característicos Kα en el espectro de rayos X. Al usar este dispositivo, los rayos X continuos, los rayos X característicos K β y los rayos X fluorescentes se pueden eliminar por completo, lo que permite un análisis de difracción de rayos X con una alta relación señal-ruido. Cuando se utilizan tubos de rayos X con objetivo de cobre junto con los monocromadores correspondientes, se pueden eliminar los rayos X fluorescentes generados a partir de muestras basadas en Mn, Fe, Co y Ni, lo que los hace adecuados para el análisis de diversas muestras. Principio de funcionamiento: Difracción de Bragg: Según la ley de Bragg, cuando los rayos X inciden sobre un cristal con un ángulo determinado, si 2d sen θ = n λ (donde d es la distancia interplanar del cristal, θ es el ángulo de incidencia, λ es la longitud de onda de los rayos X y n es un número entero), se produce difracción. Este principio se utiliza para ajustar la orientación del cristal de modo que solo los rayos X que cumplen las condiciones específicas puedan atravesarlo, logrando así la selección de longitudes de onda de rayos X. Resolución energética: Gracias al espaciamiento interplanar y a las características estructurales de los cristales de grafito, se pueden distinguir eficazmente rayos X de diferentes energías. El monocromador de cristal curvo de grafito de alta resolución energética puede reducir aún más la radiación no deseada y mejorar la calidad de los datos de difracción. Características estructurales: Forma curva: Los monocromadores de cristal curvo de grafito suelen tener una forma curva, lo que facilita el enfoque de los rayos X y mejora la eficiencia de difracción. Además, esta forma curva también reduce la tensión en el cristal, lo que mejora su estabilidad y vida útil. Grafito de alta pureza: El monocromador de cristal curvo de grafito generalmente está hecho de materiales de grafito de alta pureza para garantizar su buen rendimiento de difracción y estabilidad. Alta eficiencia de difracción: Tiene una alta eficiencia de difracción, que puede seleccionar eficazmente rayos X de la longitud de onda deseada, mejorando así la calidad de los datos de difracción. Amplio rango de longitud de onda: puede funcionar en un amplio rango de longitud de onda y es adecuado para varios tipos de experimentos de difracción de rayos X. Buena estabilidad: debido al uso de material de grafito de alta pureza, tiene buena estabilidad y una larga vida útil. Áreas de aplicación: Ciencia de los Materiales: En el campo de la ciencia de los materiales, los difractómetros de rayos X se utilizan ampliamente para estudiar la estructura cristalina, la composición de fases y otras propiedades de los materiales. El monocromador de cristal curvo de grafito, como componente importante del difractómetro de rayos X, proporciona un importante soporte técnico para la investigación en ciencia de los materiales. Física: En el campo de la física, los difractómetros de rayos X también se utilizan para estudiar la microestructura y las propiedades físicas de la materia. En resumen, el monocromador de cristal curvo de grafito utilizado en los difractómetros de rayos X es un dispositivo de selección y filtrado de rayos X eficiente y preciso, que proporciona un importante apoyo técnico para los experimentos de difracción de rayos X.

El portamuestras giratorio de un difractómetro de rayos X es un componente clave para el ajuste y la fijación precisos de la posición de la muestra. Esta puede rotar dentro de su propio plano, lo cual facilita la corrección de errores causados ​​por granos gruesos. Para muestras con textura y cristalografía, el portamuestras giratorio garantiza una buena reproducibilidad de la intensidad de difracción y elimina la necesidad de una orientación preferente. Principio de funcionamiento del portamuestras giratorio: Cuando el difractómetro de rayos X está en funcionamiento, los rayos X de alta energía generados por la fuente se irradian sobre la muestra fijada en la platina giratoria. Debido a la estructura cristalina y los parámetros reticulares específicos de la muestra, los rayos X experimentan fenómenos de dispersión, absorción y difracción al interactuar con ella, donde los fenómenos de difracción ocurren según los requisitos de la ecuación de Bragg. El portamuestras giratorio puede girar en ángulos más pequeños según la configuración, lo que permite que la muestra reciba radiación de rayos X en diferentes ángulos y, por lo tanto, obtenga patrones de difracción en diferentes ángulos. De esta manera, el detector puede medir la intensidad de los rayos X tras la difracción de la muestra y convertirla en una señal eléctrica que se transmite al ordenador para el procesamiento de datos. La función principal del portamuestras giratorio es: Método de rotación: eje β (plano de muestra) Velocidad de rotación: 1~60 RPM Ancho de paso pequeño: 0,1º Modo de funcionamiento: Rotación a velocidad constante para escaneo de muestras (paso, continuo) Ventajas del portamuestras giratorio: El portamuestras giratorio puede mejorar la precisión de los datos de difracción: En muestras con formas irregulares de polvo o partículas, la orientación preferida tiende a aparecer durante la preparación convencional de muestras de polvo, lo que provoca desviaciones en la distribución de la intensidad de difracción y afecta la precisión del análisis de los resultados. La rotación de la platina de muestra permite mover la muestra con una forma específica en un espacio adecuado, eliminando así la influencia de la orientación preferida y mejorando así la precisión de los datos de difracción. El portamuestras giratorio se adapta a diversas necesidades de prueba: se adapta a diferentes tipos de instrumentos de medición de ángulos de difracción de rayos X, como instrumentos de medición de ángulos verticales y equipos de difracción de polvo compactos de bajo consumo, entre otros, lo que facilita su aplicación en diversas pruebas. Además, el portamuestras giratorio puede satisfacer los requisitos de diversas muestras y condiciones de prueba mediante el ajuste de parámetros como la velocidad y la dirección. El portamuestras giratorio puede ampliar las capacidades analíticas del instrumento: constantemente se desarrollan y aplican nuevos tipos de etapas de muestra giratorias, como algunas etapas de muestra para análisis de difracción de rayos X electroquímicos in situ, que pueden monitorear y analizar los cambios de materiales en diferentes entornos o condiciones en tiempo real, ampliando las capacidades de análisis de los equipos de difracción de rayos X. En resumen, el portamuestras giratorio en el difractómetro de rayos X es crucial para obtener con precisión información sobre la estructura cristalina de las sustancias. El portamuestras giratorio no solo puede mejorar la precisión de los datos de difracción, sino que también se adapta a diversas necesidades de prueba y amplía las capacidades analíticas del instrumento.

En el difractómetro de rayos X, los accesorios de medición integrados multifuncionales son un componente crucial que mejora considerablemente la funcionalidad y la flexibilidad del instrumento. Se utilizan para el análisis de películas en placas, bloques y sustratos, y permiten realizar pruebas como la detección de fase cristalina, la orientación, la textura, la tensión y la estructura en el plano de películas delgadas. Descripción básica de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Definición: Es un término general para una serie de dispositivos o módulos adicionales utilizados en el difractómetro de rayos X para ampliar las funciones del instrumento, mejorar la precisión y la eficiencia de la medición. Propósito: Estos accesorios tienen como objetivo permitir que el difractómetro de rayos X satisfaga una gama más amplia de necesidades experimentales y proporcione información más completa y precisa sobre la estructura del material. Características funcionales de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión; Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación; Prueba de película delgada (rotación en el plano de la muestra). Características técnicas de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Alta precisión: generalmente utilizan tecnología de detección avanzada y sistemas de control para garantizar una alta precisión y repetibilidad de las mediciones. Automatización: muchos accesorios admiten operaciones automatizadas y pueden integrarse perfectamente con el host del difractómetro de rayos X para lograr una medición con un solo clic. Diseño modular: facilita a los usuarios seleccionar y combinar diferentes módulos de accesorios según sus necesidades reales. Áreas de aplicación de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Ampliamente utilizado en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química, la biología y la geología; Evaluación de estructuras de conjuntos metálicos tales como placas laminadas; Evaluación de la orientación cerámica; Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada; Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.); Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.); Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas; Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.); Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes. Los accesorios de medición multifuncionales integrados en el difractómetro de rayos X son clave para mejorar el rendimiento del instrumento. No solo mejoran su funcionalidad, sino que también mejoran la precisión y la eficiencia de la medición, proporcionando a los investigadores métodos de análisis de materiales más completos y profundos. Con el continuo avance tecnológico, estos accesorios seguirán desempeñando un papel importante en el fomento de la investigación científica en campos relacionados para lograr nuevos avances.

El accesorio de alta temperatura de un difractómetro es un dispositivo adicional que permite realizar análisis de difracción de rayos X en muestras a alta temperatura. Este dispositivo permite comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura, así como los cambios en la disolución mutua de diversas sustancias durante dicho calentamiento. Principio de funcionamiento del accesorio de alta temperatura: Mediante métodos como calentamiento por resistencia, calentamiento por inducción o calentamiento por radiación, la muestra se calienta dentro de un rango de temperatura establecido. Al mismo tiempo, está equipado con sensores de temperatura de alta precisión y sistemas de control para monitorear y ajustar la temperatura de la muestra en tiempo real, garantizando la estabilidad y precisión de la temperatura. La precisión del control de temperatura puede alcanzar ±0,5 °C o incluso más. Para mantener la estabilidad de la muestra a altas temperaturas y evitar que reaccione con el oxígeno del aire, los accesorios de alta temperatura suelen requerir un sistema de protección de atmósfera. Las atmósferas comunes incluyen gases inertes como argón, nitrógeno, etc. El sistema de control de atmósfera puede controlar con precisión el caudal y la presión de la atmósfera, proporcionando un entorno experimental estable para la muestra. Las funciones principales del accesorio de alta temperatura son: El monitoreo en tiempo real de la transición de fase de la muestra, las reacciones químicas, los cambios en la estructura cristalina y otros procesos se puede realizar en entornos de alta temperatura para obtener información sobre la estructura y las propiedades de las sustancias a diferentes temperaturas. Mediante el análisis de la posición, la intensidad y la forma de los picos de difracción, se pueden obtener los parámetros de la celda cristalina, la estructura cristalina, la composición de la fase y otra información de la muestra, y se puede medir con precisión el contenido de cada componente. Estudie la velocidad, el mecanismo y el comportamiento de difusión de las reacciones químicas. Por ejemplo, observe los cambios estructurales de los catalizadores durante las reacciones a alta temperatura, comprenda la formación y desaparición de sus centros activos y optimice su rendimiento. Área de aplicación del accesorio de alta temperatura: Se utiliza para estudiar la transición de fase, la evolución de la estructura cristalina y los cambios de rendimiento de materiales superconductores de alta temperatura, aleaciones metálicas, materiales cerámicos, etc., a diferentes temperaturas, lo que proporciona una base para el diseño y la preparación de materiales. El seguimiento de los cambios en las sustancias durante las reacciones químicas, como el estudio de los cambios estructurales de los catalizadores y la evolución de los centros activos en reacciones catalíticas de alta temperatura, puede contribuir al desarrollo de catalizadores eficientes. Estudia las propiedades físicas de las sustancias a altas temperaturas, como el magnetismo, la estructura electrónica y su relación con la temperatura, y explora nuevos fenómenos y leyes físicas. Parámetros técnicos del accesorio de alta temperatura: Ajuste de temperatura: Entorno de gas inerte desde temperatura ambiente hasta 1200 ℃ Entorno de vacío: alta temperatura de 1600 ℃ Precisión del control de temperatura: ± 0,5 ℃ Material de la ventana: Película de poliéster Método de enfriamiento: enfriamiento por circulación de agua desionizada En resumen, el accesorio de alta temperatura en el difractómetro es una herramienta de prueba importante que puede realizar análisis de difracción de rayos X en muestras en condiciones de alta temperatura, lo que proporciona un fuerte respaldo para la investigación en campos como la ciencia de los materiales, la ingeniería química y la física.

El portamuestras multifunción de un difractómetro de rayos X es un dispositivo que se utiliza para colocar y fijar muestras y que cuenta con múltiples funciones y características. Puede analizar cantidades mínimas de muestras en polvo, así como muestras que tienen forma de lámina, son de gran tamaño, irregulares, no se pueden cortar o moler hasta convertirlas en polvo. Soporte y fijación de muestra con portamuestras multifunción: el portamuestras puede fijar firmemente la muestra, lo que garantiza que esta permanezca estable durante la difracción de rayos X y evita que la precisión y confiabilidad de los datos de difracción se vean afectados por el movimiento de la muestra. Ajuste de altura y ángulo del portamuestras multifunción: tiene la función de ajustar la altura y el ángulo, y puede ajustar de manera flexible la distancia y el ángulo relativo entre la muestra y el tubo de rayos X y el detector de acuerdo con el tamaño, la forma y los requisitos de detección de diferentes muestras, para obtener el mejor efecto de difracción. Función de rotación del portamuestras multifunción: algunas mesas de muestra pueden girar, lo que permite que la muestra reciba irradiación de rayos X en diferentes ángulos, obteniendo así más información de difracción desde diferentes ángulos, lo que ayuda a analizar de manera integral la estructura cristalina y la orientación de la muestra. Adaptación del portamuestras multifunción: puede adaptarse a diferentes tipos de muestras, como sólidas, líquidas, en polvo, etc. Al reemplazar diferentes accesorios o fijaciones de muestra, puede cumplir con los requisitos de prueba de varias muestras. Control ambiental del portamuestras multifunción: algunos portamuestras avanzados también están equipados con sistemas de control ambiental que pueden probar muestras bajo condiciones específicas de temperatura, humedad, atmósfera y otras condiciones para simular los efectos de diferentes entornos en las muestras, ampliando aún más el rango de aplicación de los difractómetros de rayos X. El portamuestras multifunción en el difractómetro de rayos X es un equipo auxiliar potente, flexible y versátil, de gran importancia para mejorar la precisión y la eficiencia de los experimentos de difracción de rayos X.

El accesorio de medición de película óptica paralela es un componente óptico que se utiliza para mejorar la intensidad de la señal de películas delgadas y reducir la influencia de las señales del sustrato en los resultados de la medición. Generalmente se utiliza en experimentos o instrumentos ópticos, principalmente para generar haces paralelos o realizar mediciones ópticas en muestras de película delgada. Al aumentar la longitud de la rejilla, se puede lograr un control y filtrado de la luz más precisos. Cuando la luz pasa a través de ella, la placa de rejilla puede filtrar más líneas dispersas, lo que hace que la luz transmitida sea más pura y más concentrada, reduciendo así la interferencia de la luz dispersa en la señal de la película delgada y mejorando la intensidad de la señal de la propia película delgada, mejorando la precisión y confiabilidad de la medición. 1. Función principal del accesorio de medición de película óptica paralela Mejora de la precisión de la medición: en la detección y el análisis relacionados con películas delgadas, como la medición del espesor de películas delgadas, la determinación de la constante óptica, etc., los accesorios de película delgada de luz paralela pueden reducir eficazmente la influencia de las señales del sustrato, haciendo que los resultados de la medición sean más cercanos a las características reales de la película delgada, mejorando así la precisión y exactitud de la medición. Mejora de la intensidad de la señal: ayuda a aumentar la intensidad de la señal luminosa reflejada o transmitida por la película fina, lo que es particularmente importante para algunas muestras de película fina con señales más débiles. La señal mejorada puede ser recibida y reconocida con mayor claridad por el detector, lo que reduce el límite de detección y mejora la sensibilidad del instrumento para detectar muestras de película fina. Mejora de la calidad de la imagen: en algunas aplicaciones que requieren la observación de imágenes de películas delgadas, como la observación de la morfología de la superficie de películas delgadas bajo un microscopio, los accesorios de película delgada de luz paralela pueden reducir el ruido de fondo y la borrosidad causada por la luz dispersa, lo que hace que la imagen de la película delgada sea más clara, tenga mayor contraste y sea más fácil observar y analizar la estructura detallada de la película delgada. 2. Componentes principales del accesorio de medición de película óptica paralela Fuente de luz: normalmente se utilizan láseres, LED u otras fuentes de luz monocromáticas. Lente colimadora: convierte los haces de luz divergentes en luz paralela. Soporte de muestra: se utiliza para colocar muestras de película, generalmente ajustable en posición y ángulo. Detector: se utiliza para recibir señales de luz transmitidas o reflejadas para medición y análisis. 3. Campos de aplicación del accesorio de medición de película óptica paralela Investigación óptica: se utiliza para estudiar las propiedades ópticas de películas delgadas, como interferencia, difracción, etc. Ciencia de los materiales: se utiliza para medir el espesor y el índice de refracción de películas delgadas y evaluar las propiedades del material. Pruebas industriales: se utilizan para el control de calidad y las pruebas en la producción de películas. 4. Instrucciones para el accesorio de medición de película óptica paralela Ajuste la fuente de luz: asegúrese de que la fuente de luz sea estable y el haz sea uniforme. Haz colimado: ajusta el haz de luz a través de una lente colimadora para hacerlo paralelo. Colocar la muestra: Coloque la muestra de película en la platina de muestra, ajuste la posición y el ángulo. Medición y análisis: Utilice detectores para recibir señales de luz, registrar datos y realizar análisis. 5. Precauciones Estabilidad de la fuente de luz: asegúrese de la estabilidad de la fuente de luz para evitar errores de medición. Limpieza de componentes ópticos: Mantenga los componentes ópticos limpios para evitar que el polvo y las manchas afecten los resultados de la medición. Preparación de la muestra: Asegúrese de que la muestra de película sea uniforme y libre de defectos para obtener resultados de medición precisos. En resumen, el accesorio de medición de película óptica paralela es un componente óptico importante que juega un papel crucial en múltiples campos y es de gran importancia en la promoción de la investigación científica y el progreso tecnológico en campos relacionados.

El accesorio de temperatura media y baja de un difractómetro de rayos X es un componente clave utilizado para el análisis de difracción de rayos X en entornos de baja temperatura. El accesorio de temperatura media y baja se usa ampliamente en trabajos de investigación y desarrollo en ciencia de materiales, física, química y otros campos, especialmente adecuado para escenarios que requieren análisis estructural de materiales en diferentes condiciones de temperatura. Para comprender los cambios en la estructura cristalina durante el proceso de refrigeración a baja temperatura, los siguientes son los parámetros técnicos del accesorio de temperatura media y baja: Entorno de vacío: 196 ~ 500 ℃ Precisión del control de temperatura: ± 0,5 ℃ Método de refrigeración: nitrógeno líquido (consumo inferior a 4L/h) Material de la ventana: Película de poliéster. Método de enfriamiento: enfriamiento por circulación de agua desionizada. En resumen, el accesorio de temperatura media y baja del difractómetro de rayos X es un componente importante del equipo que puede brindar un fuerte apoyo para la investigación científica y el análisis de materiales. El accesorio de temperatura media y baja de un difractómetro es una de las herramientas importantes en el campo del análisis de la estructura de los materiales, con amplias perspectivas de aplicación y un valor de investigación significativo. El accesorio de temperatura media y baja del difractómetro es un componente clave para garantizar el funcionamiento normal y la medición precisa del instrumento en condiciones de baja temperatura. Su diseño y rendimiento afectan directamente la precisión y confiabilidad de los resultados experimentales. Al seleccionar y aplicar el accesorio de temperatura media y baja, se deben considerar completamente los requisitos experimentales, las características de la muestra, así como los parámetros técnicos y las características de rendimiento de los accesorios para garantizar los mejores resultados experimentales.

El irradiador de rayos X genera rayos X de alta energía para irradiar objetos objetivo o tejidos biológicos. La generación de rayos X generalmente se logra acelerando electrones para que colisionen con objetivos metálicos (como tungsteno, cobre, etc.), generando bremsstrahlung y formando haces de rayos X, que luego irradian células o animales pequeños. El irradiador de rayos X se utiliza para diversas investigaciones básicas y aplicadas. Históricamente, se utilizaban irradiadores de isótopos radiactivos, que requerían transportar muestras a una instalación de irradiación central. Sin embargo, hoy en día, se pueden instalar irradiadores de rayos X más pequeños, seguros, simples y de menor costo en los laboratorios para una irradiación conveniente y rápida de células. Varias muestras se pueden irradiar directamente en el laboratorio sin afectar la fertilidad o la seguridad. El irradiador de rayos X es conveniente para el personal que no ha recibido capacitación profesional en rayos X para su uso, y no hay solicitudes de licencia costosas ni costos de seguridad o mantenimiento de la fuente de radiación. El irradiador de rayos X es fácil de operar, seguro, confiable y rentable, y puede reemplazar las fuentes de isótopos radiactivos. 1. Las principales áreas de aplicación del irradiador de rayos X incluyen el campo médico, el campo de la investigación científica, etc. 2. Precauciones de seguridad para equipos de irradiación de rayos X: Protección radiológica: Los operadores deben usar ropa protectora para evitar la exposición prolongada a los rayos X. Mantenimiento del equipo: Inspeccione periódicamente el equipo para garantizar su funcionamiento normal y evitar fugas de radiación. Control de dosis: Controle estrictamente la dosis de irradiación para evitar daños innecesarios a la muestra o al cuerpo humano.