El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

El irradiador de rayos X puede generar rayos X de alta energía para irradiar células o animales pequeños. Se utiliza para diversas investigaciones básicas y aplicadas. A lo largo de la historia, se han utilizado irradiadores de isótopos radiactivos, que requieren transportar muestras a una instalación de irradiación central. Hoy en día, se pueden instalar equipos de irradiación de rayos X más pequeños, seguros, simples y de menor costo en los laboratorios para una irradiación de células conveniente y rápida.

Los accesorios de alta temperatura están diseñados para comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura, así como los cambios en la disolución mutua de varias sustancias durante el calentamiento a alta temperatura.

El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 integra generación de rayos X avanzada, alta precisión goniométrica y detección eficiente en un diseño compacto. Proporciona análisis de fase fiables para la ciencia de los materiales, la industria farmacéutica y el control de calidad industrial, con el respaldo de soporte global y certificaciones internacionales.

El difractómetro de rayos X TD-5000 rompe el monopolio internacional en instrumentos científicos de alta gama. Esta innovación china ofrece una precisión excepcional (0,0001°) y capacidades de detección avanzadas, al servicio de investigadores en farmacia, ciencia de materiales y química mediante análisis estructurales exhaustivos.

El accesorio de alta temperatura in situ de Dandong Tongda permite el análisis en tiempo real de cambios estructurales en materiales de hasta 1600 °C con una precisión de ±1 °C. Ideal para la investigación de superconductores, cerámicas y películas delgadas, se exporta a todo el mundo.

De confianza mundial: el analizador de orientación por rayos X de Dandong Tongda recibe certificaciones multinacionales. En el cambiante panorama global actual de semiconductores, dispositivos ópticos y ciencia de materiales, la medición precisa de la orientación de los cristales se ha vuelto crucial para mejorar la calidad del producto y la eficiencia de la producción. Como desarrollador y fabricante especializado en el campo de instrumentos de análisis de rayos X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. anuncia el lanzamiento de su Analizador de Orientación de Rayos X de alto rendimiento. Este instrumento integra tecnología avanzada de difracción de rayos X con algoritmos inteligentes, ofreciendo soluciones de medición de orientación rápidas y precisas para las industrias relacionadas con los cristales en todo el mundo. Principio técnico: La integración perfecta de la difracción de rayos X y la medición de precisión El Analizador de Orientación de Rayos X funciona según la ley de difracción de Bragg. Cuando los rayos X inciden en la superficie del cristal, los planos atómicos, dispuestos regularmente, generan fenómenos de difracción en ángulos específicos. Al capturar estas señales de difracción con detectores de precisión y calcular los ángulos de difracción, el instrumento puede determinar con precisión la orientación del cristal, proporcionando datos fiables para el corte y procesamiento posteriores. En comparación con los métodos de orientación tradicionales, la tecnología de orientación de cristales por rayos X ofrece importantes ventajas: no es destructiva, es de alta precisión y altamente eficiente, lo que garantiza resultados de medición fiables sin dañar la muestra. El instrumento alcanza una precisión de medición de ±30 segundos de arco (±30″), con una lectura mínima de 10 segundos de arco, lo que cumple con los requisitos de orientación de la gran mayoría de los materiales cristalinos. Serie de productos: Soluciones integrales para diversas necesidades de aplicaciones Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda Technology incluyen principalmente dos modelos fundamentales: el TYX-200 y el TYX-2H8. El modelo TYX-200, como versión básica, cuenta con una pantalla digital con una lectura mínima de 10″ y una precisión de medición de ±30″, lo que lo hace ideal para las necesidades rutinarias de orientación de materiales cristalinos. El modelo TYX-2H8 es una actualización completa del TYX-200, con una estructura de goniómetro mejorada, pistas de carga mejoradas y una platina de muestra elevada. El TYX-2H8 puede medir muestras de 1 a 30 kg de peso con diámetros de 2 a 8 pulgadas. Algunas configuraciones pueden incluso ampliarse para manejar muestras de 30 a 180 kg de peso, con diámetros de hasta 350 mm y longitudes de hasta 480 mm. Para requisitos de investigación más complejos, la empresa también ofrece los analizadores de orientación de rayos X de la serie TDF, que utilizan tecnología de control PLC importada, ofrecen un rango de voltaje de tubo de 10 a 60 kV y permiten funcionalidades más amplias, como la orientación de monocristales, la detección de defectos y la determinación de parámetros de red. Aplicaciones funcionales: una herramienta clave para el procesamiento de cristales en múltiples industrias El Analizador de Orientación por Rayos X puede determinar con precisión y rapidez los ángulos de corte de monocristales naturales y sintéticos y, en coordinación con las máquinas de corte, realizar cortes orientados. Es un instrumento indispensable para el mecanizado de precisión y la fabricación de dispositivos cristalinos. En la industria de semiconductores, este instrumento se utiliza ampliamente para inspeccionar lingotes, obleas y chips, controlando procesos como el corte, el rectificado y el pulido para garantizar un rendimiento constante de los dispositivos semiconductores. Para el procesamiento de cristales ópticos y láser, el instrumento puede determinar con precisión la orientación del cristal, garantizando así que el rendimiento óptico de los dispositivos ópticos cumpla con los requisitos de diseño y mejorando el rendimiento del producto. En particular, en el campo del procesamiento de cristal de zafiro, el instrumento puede satisfacer simultáneamente los requisitos de medición para las orientaciones de cristal de zafiro A, C, M y R, con un rango de medición ajustable eléctricamente de 0 a 45°, adaptándose a las complejas necesidades de procesamiento. En la industria de la joyería y las piedras preciosas, el instrumento facilita la orientación precisa de las piedras preciosas, mejorando la precisión del corte y el valor de los productos terminados, ayudando a los fabricantes a maximizar los efectos ópticos y el valor comercial de las piedras preciosas. Características del producto: El diseño innovador mejora la experiencia del usuario Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda Technology incorporan varias características innovadoras que mejoran significativamente la practicidad y confiabilidad del instrumento. Fácil operación: el instrumento se puede operar sin conocimientos profesionales o habilidades extensas, lo que reduce la barrera de uso y el tiempo de capacitación del personal. Pantalla digital: La pantalla de ángulo digital proporciona una observación intuitiva, reduce los errores de lectura y se puede poner a cero en cualquier posición, lo que facilita la visualización directa de la desviación del ángulo de la oblea. Diseño eficiente: Algunos modelos están equipados con goniómetros duales que pueden funcionar simultáneamente, lo que mejora en gran medida la eficiencia de la inspección. Precisión mejorada: un integrador especial con amplificación de pico mejora la precisión de detección y una placa de muestra con succión al vacío garantiza un posicionamiento estable de la muestra. Fiabilidad y durabilidad: El diseño integrado del tubo de rayos X y el cable de alto voltaje mejora la fiabilidad. El detector de alto voltaje utiliza un módulo de CC de alto voltaje, lo que garantiza un funcionamiento estable a largo plazo. Protección de seguridad: El instrumento utiliza vidrio de plomo de alta densidad y alta transmitancia como escudo protector contra rayos X. La dosis de radiación externa no supera los 0,1 µSv/h, cumpliendo con las normas internacionales de seguridad. Configuración de la etapa de muestra: Adaptación flexible a diversas necesidades de medición Para cumplir con los requisitos de medición de muestras de diferentes formas y tamaños, Dandong Tongda Technology ofrece varias configuraciones de etapa de muestra: Platina de muestra tipo TA: Diseñada específicamente para barras de cristal cilíndricas, equipada con rieles de carga. Puede medir barras de cristal con un peso de 1 a 30 kg y un diámetro de 2 a 6 pulgadas (ampliable a 8 pulgadas), así como la superficie de referencia de cristales en forma de barra o la superficie de obleas de cristal en forma de lámina. Platina de muestra tipo TB: También diseñada para varillas de cristal cilíndricas, incorpora rieles de soporte en forma de V y puede medir varillas de cristal de hasta 500 mm de longitud, lo que la hace particularmente adecuada para medir las caras de los extremos de cristales en forma de varilla. Platina de muestra tipo TC: Se utiliza principalmente para detectar la superficie de referencia de la circunferencia exterior de obleas monocristalinas como silicio y zafiro. Su diseño abierto soluciona los problemas de obstrucción de rayos X y las imprecisiones de posicionamiento causadas por las placas de succión. Platina de muestra tipo TD: Diseñada específicamente para la medición multipunto de obleas como silicio y zafiro. La oblea puede rotarse manualmente en la platina (p. ej., 0°, 90°, 180°, 270°) para satisfacer las necesidades de medición específicas del cliente. Mercado global: Capacitando a clientes internacionales para lograr avances tecnológicos Los productos de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. se han introducido con éxito en el mercado internacional, exportando a numerosos países y regiones, como Estados Unidos, Corea del Sur, Irán, Azerbaiyán, Irak y Jordania. Basándose en los principios de "Primero el cliente, primero el producto, primero el servicio", la empresa ofrece a usuarios globales productos de alta tecnología y alta calidad, además de un soporte técnico integral. Para los clientes internacionales, la empresa ofrece asesoramiento técnico completo y servicio posventa, que incluye capacitación operativa, soporte de mantenimiento y suministro de repuestos, garantizando la tranquilidad de los usuarios. Atendiendo las necesidades de los clientes en diferentes regiones, la empresa también puede ofrecer soluciones personalizadas, como el diseño especial de la platina de muestra y la configuración del software de medición, garantizando así la perfecta adaptación del instrumento a las aplicaciones específicas. Las interfaces de operación multilingües y la documentación técnica detallada en inglés reducen aún más las barreras de uso para los clientes internacionales y mejoran la experiencia de usuario internacional. El Analizador de Orientación por Rayos X de Dandong Tongda Technology no es solo una herramienta de medición, sino un socio estratégico para mejorar la competitividad empresarial. Puede acortar significativamente el ciclo de I+D de materiales cristalinos, optimizar los procesos de producción, garantizar la calidad del producto y generar valor tangible para la industria global de fabricación de cristales. Ya sea en la fabricación de chips semiconductores, el procesamiento de componentes ópticos o la investigación de nuevos materiales, elegir Dandong Tongda Technology significa optar por una solución de orientación de cristales fiable, eficiente y precisa.

Avance en instrumentos científicos: el difractómetro de rayos X TD-3700 de Dandong Tongda impulsa la innovación en investigación. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es una empresa de alta tecnología especializada en la investigación, el desarrollo y la producción de instrumentos de análisis de rayos X. Su producto estrella, el difractómetro de rayos X TD-3700, integra análisis rápido, un manejo intuitivo y sólidas funciones de seguridad. La perfecta sinergia entre su hardware modular y sus sistemas de software personalizados lo convierte en una potente herramienta para campos de investigación como la ciencia de los materiales, la química y la mineralogía. El difractómetro de rayos X TD-3700 presenta importantes ventajas tanto en la tecnología de detección como en los modos de medición, lo que le permite satisfacer una amplia gama de necesidades analíticas. Tecnología central y rendimiento Detectores de alto rendimiento: El instrumento puede equiparse con detectores de matriz 1D de alta velocidad opcionales (p. ej., MYTHEN2R), detectores SDD o detectores 2D. Gracias a la tecnología híbrida de conteo de fotones, funciona sin ruido de lectura, alcanza velocidades de adquisición de datos de decenas a cientos de veces más rápidas que los detectores de centelleo tradicionales y elimina eficazmente los efectos de fluorescencia para lograr una excelente resolución energética. Por ejemplo, el detector de matriz 1D cuenta con 640 canales con un tiempo de lectura excepcionalmente corto de tan solo 89 microsegundos, lo que contribuye a una excelente relación señal-ruido. Modos de escaneo flexibles: El difractómetro de rayos X TD-3700 admite dos métodos principales de escaneo de datos: el modo de reflexión (difracción) convencional y el modo de transmisión. El modo de transmisión proporciona una mayor resolución, lo que lo hace ideal para analizar muestras limitadas o realizar análisis estructurales. El modo de reflexión ofrece una señal más potente, más apropiada para la identificación rutinaria de fases en entornos de laboratorio. Esta flexibilidad permite al instrumento procesar una amplia variedad de tipos de muestras, desde trazas de polvo y sólidos a granel hasta incluso líquidos y muestras viscosas. Sistema de Goniómetro de Precisión: Utiliza un goniómetro vertical θS-θd donde la muestra permanece horizontal y estacionaria durante la medición. Este diseño no solo facilita la preparación de la muestra, sino que también ayuda a prevenir la posible corrosión del sistema de ejes del goniómetro por las muestras, prolongando así su vida útil. Con un amplio rango de escaneo 2θ (-110° a 161°) y una excepcional precisión repetitiva de 0,0001°, garantiza mediciones altamente precisas y repetibles. Características del instrumento y garantía de seguridad El difractómetro de rayos X TD-3700 está diseñado con un fuerte énfasis en la experiencia del usuario y la seguridad operativa. Diseño fácil de usar: Operación sin esfuerzo: cuenta con un sistema de adquisición de un solo clic e incorpora una interfaz de pantalla táctil para monitoreo en tiempo real del estado del instrumento. Diseño modular: los componentes están diseñados para una funcionalidad plug-and-play, sin necesidad de calibración y garantizando un mantenimiento sencillo. Protección de seguridad integral: Incorpora un sistema de enclavamiento electrónico de puerta principal para protección de doble capa, garantizando la seguridad del usuario. La fuga de radiación externa del sistema de protección es ≤ 0,1 μSv/h, cumpliendo con estrictos estándares internacionales de seguridad. Incluye múltiples funciones de protección contra kV excesivamente alto/bajo, mA excesivamente alto/bajo, falla del flujo de agua y sobrecalentamiento del tubo de rayos X. Sistema estable y confiable: Utiliza un generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje, reconocido por su rendimiento estable y confiable, con una estabilidad del sistema ≤ 0,005 %. El enfriador de recirculación integrado cuenta con una función de enfriamiento integrada, lo que elimina la necesidad de una unidad externa de circulación de agua. Aplicaciones y reconocimiento global El difractómetro de rayos X TD-3700 se utiliza ampliamente para análisis de fase cualitativo/cuantitativo, análisis de estructura cristalina, investigación de estructura de materiales, determinación del tamaño de grano y medición de cristalinidad. Reconocida por su confiable calidad, los productos de Dandong Tongda se han exportado a numerosos países y regiones, como Estados Unidos, Corea del Sur, Irán, Azerbaiyán, Irak y Jordania, lo que les ha valido el reconocimiento internacional. La empresa también ha obtenido la certificación ISO 9001 y otras certificaciones internacionales de sistemas de gestión de calidad. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece a sus clientes un servicio y soporte integrales, que incluyen servicio posventa, capacitación profesional y apoyo comercial internacional. Agradecemos sus consultas y esperamos su compra.

El minidifractómetro de rayos X TDM-20 es un instrumento analítico de sobremesa de alto rendimiento desarrollado y fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Se utiliza principalmente para el análisis de fases de materiales policristalinos como polvos, sólidos, muestras a granel y pastas. Utilizando el principio de difracción de rayos X, el instrumento permite el análisis cualitativo y cuantitativo, el análisis de la estructura cristalina y otras funciones. Tiene amplias aplicaciones en diversos campos, como la industria, la agricultura, la defensa, la industria farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la investigación educativa. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 supera la limitación convencional de 600 W, ofreciendo una potencia de salida máxima de 1200 W para un rendimiento de alta potencia. Además, incorpora una fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje, lo que resulta en un menor consumo total de energía. Incorpora tecnología de goniómetro de alta precisión con una repetibilidad angular de 0,0001°, una precisión de medición de la posición del pico de difracción de 0,001° y una linealidad del ángulo de difracción de perfil completo de ±0,010°. El instrumento incorpora un sistema de control avanzado basado en tecnología PLC (controlador lógico programable) y un diseño modular para un funcionamiento preciso. Para la detección, puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, lo que mejora significativamente el rendimiento general y la velocidad de adquisición de datos. El TDM-20 también ofrece opciones de configuración muy flexibles, compatible con diversos accesorios, como una platina de muestra giratoria, un detector de matriz 1D y un cambiador automático de muestras de 6 posiciones. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 se caracteriza además por su gran ventaja: es compacto y portátil, ocupa poco espacio y es ligero. Es reconocido como uno de los difractómetros de rayos X de sobremesa más pequeños del mundo, lo que lo hace ideal para entornos de laboratorio con espacio limitado. Además, el instrumento cuenta con un triple sistema de aislamiento antiinterferencias. La radiación de fuga de rayos X se mantiene a ≤ 0,12 μSv/h, lo que garantiza el cumplimiento de la norma de protección GBZ 115-2002. Por lo tanto, el uso del minidifractómetro de rayos X TDM-20 es seguro y fiable. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 combina alta potencia, alta precisión y un diseño compacto en una sola plataforma. Supera las limitaciones de los difractómetros de rayos X tradicionales a gran escala, ofreciendo una solución de análisis de materiales eficiente, práctica y fiable para diversas industrias. Gracias a su avanzado rendimiento técnico, su completo servicio técnico y su flexible funcionamiento, el TDM-20 es una potente herramienta para el análisis de materiales en laboratorio. Si necesita equipos de difracción de rayos X, le invitamos a elegir los productos de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.