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El patrón de difracción de rayos X sirve como base más fiable para determinar patrones policristalinos, y el patrón de difracción de rayos X se considera frecuentemente como la "huella digital" de patrones cristalinos.
La estructura cristalina de las películas de perovskita modificadas por BMIMAc de líquido iónico (IL) bajo diferentes duraciones de recocido se caracterizó mediante difracción de rayos X.
Como materia prima indispensable en el ámbito de la construcción, el cemento asume un papel vital durante todo el proceso constructivo. Existen numerosos tipos de cemento Portland. Debido a su excelente desempeño, el cemento Portland se utiliza ampliamente.
La difracción de rayos X es una técnica de ensayo no destructiva de materiales rápida, precisa y eficiente. Como medio para caracterizar la estructura cristalina y su regla de cambio, se usa ampliamente en muchos campos como la biología, la medicina, la cerámica, etc.
El difractómetro de rayos X es un tipo de instrumento para analizar la estructura cristalina, la composición de fases y la orientación cristalina de una sustancia mediante la interacción de los rayos X con la materia.
Un equipo de investigación del Instituto Hefei de Ciencias Físicas de la Academia de Ciencias de China realizó recientemente un estudio que propone un método novedoso para mejorar la detección de rayos X mediante la incorporación de cristales peritécticos de CsPb2Br5 desfasados en materiales de bloques de CsPbBr3.
XRD es el sistema de difractómetro de rayos X más avanzado del mundo actual, con un diseño preciso y funciones completas, y puede adaptarse de manera flexible a diversas determinaciones de microestructuras, como el polvo.
Las diferentes formas cristalinas del mismo fármaco pueden diferir significativamente en apariencia, solubilidad, punto de fusión, etc., lo que afecta la estabilidad, producción, biodisponibilidad y seguridad del fármaco.