El accesorio de medición de películas ópticas paralelas de Dandong Tongda es un componente especializado para difractómetros de rayos X que mejora significativamente el rendimiento de las pruebas de muestras de películas delgadas. Su diseño de rejilla alargada suprime eficazmente la interferencia de dispersión, mejorando la claridad de la señal para películas ultrafinas y nanomulticapa. Este accesorio permite realizar análisis de difracción de ángulo pequeño (0°–5°), lo que posibilita la medición precisa del espesor de la película y las estructuras de la interfaz. Compatible con los difractómetros TD-3500, TD-5000, TD-3700 y TDM-20, garantiza un rendimiento uniforme en todas las plataformas. Esta herramienta, ampliamente utilizada en la inspección de semiconductores, la evaluación de recubrimientos ópticos y la investigación de nuevos materiales energéticos, permite superar desafíos como las señales débiles y el ruido de fondo. Con el avance de las industrias de nanomateriales y semiconductores, este accesorio está destinado a desempeñar un papel cada vez más crucial en la investigación de vanguardia y el control de calidad.

El accesorio de medición integrado multifuncional permite un análisis preciso de textura, tensión y películas delgadas. Admite mapeo de figuras polares, medición de tensión biaxial y rotación en el plano. Ideal para metales, cerámicas, recubrimientos y polímeros. Ofrece una precisión de paso de 0,001° y una capacidad de muestra de Φ100 mm.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 ofrece una potencia de 1200 W en un diseño compacto, superando los estándares internacionales de 600 W. Con una linealidad de ±0,01° y una repetibilidad de 0,0001°, permite un análisis de fase preciso para la investigación de materiales y el control de calidad industrial. Su sistema de refrigeración integrado y la compatibilidad global de accesorios lo convierten en una solución ideal y rentable para laboratorios internacionales.

El analizador de cristales por rayos X de la serie TDF ofrece un rendimiento excepcional en el análisis de microestructuras, permitiendo la orientación de monocristales, la detección de defectos y la medición de tensiones. Con un diseño de tubo vertical, operación multiventana y control PLC importado, garantiza alta precisión y cumplimiento de las normas de seguridad (radiación).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 ofrece un rendimiento analítico excepcional gracias a su innovadora tecnología de detectores y sus modos de escaneo duales. Con una rápida adquisición de datos, un funcionamiento sencillo y una seguridad mejorada, permite un análisis preciso de materiales en aplicaciones de investigación e industriales, estableciendo nuevos estándares para los instrumentos científicos chinos.

El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 integra generación de rayos X avanzada, alta precisión goniométrica y detección eficiente en un diseño compacto. Proporciona análisis de fase fiables para la ciencia de los materiales, la industria farmacéutica y el control de calidad industrial, con el respaldo de soporte global y certificaciones internacionales.

El difractómetro de rayos X TD-5000 rompe el monopolio internacional en instrumentos científicos de alta gama. Esta innovación china ofrece una precisión excepcional (0,0001°) y capacidades de detección avanzadas, al servicio de investigadores en farmacia, ciencia de materiales y química mediante análisis estructurales exhaustivos.

El accesorio de alta temperatura in situ de Dandong Tongda permite el análisis en tiempo real de cambios estructurales en materiales de hasta 1600 °C con una precisión de ±1 °C. Ideal para la investigación de superconductores, cerámicas y películas delgadas, se exporta a todo el mundo.

De confianza mundial: el analizador de orientación por rayos X de Dandong Tongda recibe certificaciones multinacionales. En el cambiante panorama global actual de semiconductores, dispositivos ópticos y ciencia de materiales, la medición precisa de la orientación de los cristales se ha vuelto crucial para mejorar la calidad del producto y la eficiencia de la producción. Como desarrollador y fabricante especializado en el campo de instrumentos de análisis de rayos X, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. anuncia el lanzamiento de su Analizador de Orientación de Rayos X de alto rendimiento. Este instrumento integra tecnología avanzada de difracción de rayos X con algoritmos inteligentes, ofreciendo soluciones de medición de orientación rápidas y precisas para las industrias relacionadas con los cristales en todo el mundo. Principio técnico: La integración perfecta de la difracción de rayos X y la medición de precisión El Analizador de Orientación de Rayos X funciona según la ley de difracción de Bragg. Cuando los rayos X inciden en la superficie del cristal, los planos atómicos, dispuestos regularmente, generan fenómenos de difracción en ángulos específicos. Al capturar estas señales de difracción con detectores de precisión y calcular los ángulos de difracción, el instrumento puede determinar con precisión la orientación del cristal, proporcionando datos fiables para el corte y procesamiento posteriores. En comparación con los métodos de orientación tradicionales, la tecnología de orientación de cristales por rayos X ofrece importantes ventajas: no es destructiva, es de alta precisión y altamente eficiente, lo que garantiza resultados de medición fiables sin dañar la muestra. El instrumento alcanza una precisión de medición de ±30 segundos de arco (±30″), con una lectura mínima de 10 segundos de arco, lo que cumple con los requisitos de orientación de la gran mayoría de los materiales cristalinos. Serie de productos: Soluciones integrales para diversas necesidades de aplicaciones Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda Technology incluyen principalmente dos modelos fundamentales: el TYX-200 y el TYX-2H8. El modelo TYX-200, como versión básica, cuenta con una pantalla digital con una lectura mínima de 10″ y una precisión de medición de ±30″, lo que lo hace ideal para las necesidades rutinarias de orientación de materiales cristalinos. El modelo TYX-2H8 es una actualización completa del TYX-200, con una estructura de goniómetro mejorada, pistas de carga mejoradas y una platina de muestra elevada. El TYX-2H8 puede medir muestras de 1 a 30 kg de peso con diámetros de 2 a 8 pulgadas. Algunas configuraciones pueden incluso ampliarse para manejar muestras de 30 a 180 kg de peso, con diámetros de hasta 350 mm y longitudes de hasta 480 mm. Para requisitos de investigación más complejos, la empresa también ofrece los analizadores de orientación de rayos X de la serie TDF, que utilizan tecnología de control PLC importada, ofrecen un rango de voltaje de tubo de 10 a 60 kV y permiten funcionalidades más amplias, como la orientación de monocristales, la detección de defectos y la determinación de parámetros de red. Aplicaciones funcionales: una herramienta clave para el procesamiento de cristales en múltiples industrias El Analizador de Orientación por Rayos X puede determinar con precisión y rapidez los ángulos de corte de monocristales naturales y sintéticos y, en coordinación con las máquinas de corte, realizar cortes orientados. Es un instrumento indispensable para el mecanizado de precisión y la fabricación de dispositivos cristalinos. En la industria de semiconductores, este instrumento se utiliza ampliamente para inspeccionar lingotes, obleas y chips, controlando procesos como el corte, el rectificado y el pulido para garantizar un rendimiento constante de los dispositivos semiconductores. Para el procesamiento de cristales ópticos y láser, el instrumento puede determinar con precisión la orientación del cristal, garantizando así que el rendimiento óptico de los dispositivos ópticos cumpla con los requisitos de diseño y mejorando el rendimiento del producto. En particular, en el campo del procesamiento de cristal de zafiro, el instrumento puede satisfacer simultáneamente los requisitos de medición para las orientaciones de cristal de zafiro A, C, M y R, con un rango de medición ajustable eléctricamente de 0 a 45°, adaptándose a las complejas necesidades de procesamiento. En la industria de la joyería y las piedras preciosas, el instrumento facilita la orientación precisa de las piedras preciosas, mejorando la precisión del corte y el valor de los productos terminados, ayudando a los fabricantes a maximizar los efectos ópticos y el valor comercial de las piedras preciosas. Características del producto: El diseño innovador mejora la experiencia del usuario Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda Technology incorporan varias características innovadoras que mejoran significativamente la practicidad y confiabilidad del instrumento. Fácil operación: el instrumento se puede operar sin conocimientos profesionales o habilidades extensas, lo que reduce la barrera de uso y el tiempo de capacitación del personal. Pantalla digital: La pantalla de ángulo digital proporciona una observación intuitiva, reduce los errores de lectura y se puede poner a cero en cualquier posición, lo que facilita la visualización directa de la desviación del ángulo de la oblea. Diseño eficiente: Algunos modelos están equipados con goniómetros duales que pueden funcionar simultáneamente, lo que mejora en gran medida la eficiencia de la inspección. Precisión mejorada: un integrador especial con amplificación de pico mejora la precisión de detección y una placa de muestra con succión al vacío garantiza un posicionamiento estable de la muestra. Fiabilidad y durabilidad: El diseño integrado del tubo de rayos X y el cable de alto voltaje mejora la fiabilidad. El detector de alto voltaje utiliza un módulo de CC de alto voltaje, lo que garantiza un funcionamiento estable a largo plazo. Protección de seguridad: El instrumento utiliza vidrio de plomo de alta densidad y alta transmitancia como escudo protector contra rayos X. La dosis de radiación externa no supera los 0,1 µSv/h, cumpliendo con las normas internacionales de seguridad. Configuración de la etapa de muestra: Adaptación flexible a diversas necesidades de medición Para cumplir con los requisitos de medición de muestras de diferentes formas y tamaños, Dandong Tongda Technology ofrece varias configuraciones de etapa de muestra: Platina de muestra tipo TA: Diseñada específicamente para barras de cristal cilíndricas, equipada con rieles de carga. Puede medir barras de cristal con un peso de 1 a 30 kg y un diámetro de 2 a 6 pulgadas (ampliable a 8 pulgadas), así como la superficie de referencia de cristales en forma de barra o la superficie de obleas de cristal en forma de lámina. Platina de muestra tipo TB: También diseñada para varillas de cristal cilíndricas, incorpora rieles de soporte en forma de V y puede medir varillas de cristal de hasta 500 mm de longitud, lo que la hace particularmente adecuada para medir las caras de los extremos de cristales en forma de varilla. Platina de muestra tipo TC: Se utiliza principalmente para detectar la superficie de referencia de la circunferencia exterior de obleas monocristalinas como silicio y zafiro. Su diseño abierto soluciona los problemas de obstrucción de rayos X y las imprecisiones de posicionamiento causadas por las placas de succión. Platina de muestra tipo TD: Diseñada específicamente para la medición multipunto de obleas como silicio y zafiro. La oblea puede rotarse manualmente en la platina (p. ej., 0°, 90°, 180°, 270°) para satisfacer las necesidades de medición específicas del cliente. Mercado global: Capacitando a clientes internacionales para lograr avances tecnológicos Los productos de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. se han introducido con éxito en el mercado internacional, exportando a numerosos países y regiones, como Estados Unidos, Corea del Sur, Irán, Azerbaiyán, Irak y Jordania. Basándose en los principios de "Primero el cliente, primero el producto, primero el servicio", la empresa ofrece a usuarios globales productos de alta tecnología y alta calidad, además de un soporte técnico integral. Para los clientes internacionales, la empresa ofrece asesoramiento técnico completo y servicio posventa, que incluye capacitación operativa, soporte de mantenimiento y suministro de repuestos, garantizando la tranquilidad de los usuarios. Atendiendo las necesidades de los clientes en diferentes regiones, la empresa también puede ofrecer soluciones personalizadas, como el diseño especial de la platina de muestra y la configuración del software de medición, garantizando así la perfecta adaptación del instrumento a las aplicaciones específicas. Las interfaces de operación multilingües y la documentación técnica detallada en inglés reducen aún más las barreras de uso para los clientes internacionales y mejoran la experiencia de usuario internacional. El Analizador de Orientación por Rayos X de Dandong Tongda Technology no es solo una herramienta de medición, sino un socio estratégico para mejorar la competitividad empresarial. Puede acortar significativamente el ciclo de I+D de materiales cristalinos, optimizar los procesos de producción, garantizar la calidad del producto y generar valor tangible para la industria global de fabricación de cristales. Ya sea en la fabricación de chips semiconductores, el procesamiento de componentes ópticos o la investigación de nuevos materiales, elegir Dandong Tongda Technology significa optar por una solución de orientación de cristales fiable, eficiente y precisa.

Avance en instrumentos científicos: el difractómetro de rayos X TD-3700 de Dandong Tongda impulsa la innovación en investigación. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es una empresa de alta tecnología especializada en la investigación, el desarrollo y la producción de instrumentos de análisis de rayos X. Su producto estrella, el difractómetro de rayos X TD-3700, integra análisis rápido, un manejo intuitivo y sólidas funciones de seguridad. La perfecta sinergia entre su hardware modular y sus sistemas de software personalizados lo convierte en una potente herramienta para campos de investigación como la ciencia de los materiales, la química y la mineralogía. El difractómetro de rayos X TD-3700 presenta importantes ventajas tanto en la tecnología de detección como en los modos de medición, lo que le permite satisfacer una amplia gama de necesidades analíticas. Tecnología central y rendimiento Detectores de alto rendimiento: El instrumento puede equiparse con detectores de matriz 1D de alta velocidad opcionales (p. ej., MYTHEN2R), detectores SDD o detectores 2D. Gracias a la tecnología híbrida de conteo de fotones, funciona sin ruido de lectura, alcanza velocidades de adquisición de datos de decenas a cientos de veces más rápidas que los detectores de centelleo tradicionales y elimina eficazmente los efectos de fluorescencia para lograr una excelente resolución energética. Por ejemplo, el detector de matriz 1D cuenta con 640 canales con un tiempo de lectura excepcionalmente corto de tan solo 89 microsegundos, lo que contribuye a una excelente relación señal-ruido. Modos de escaneo flexibles: El difractómetro de rayos X TD-3700 admite dos métodos principales de escaneo de datos: el modo de reflexión (difracción) convencional y el modo de transmisión. El modo de transmisión proporciona una mayor resolución, lo que lo hace ideal para analizar muestras limitadas o realizar análisis estructurales. El modo de reflexión ofrece una señal más potente, más apropiada para la identificación rutinaria de fases en entornos de laboratorio. Esta flexibilidad permite al instrumento procesar una amplia variedad de tipos de muestras, desde trazas de polvo y sólidos a granel hasta incluso líquidos y muestras viscosas. Sistema de Goniómetro de Precisión: Utiliza un goniómetro vertical θS-θd donde la muestra permanece horizontal y estacionaria durante la medición. Este diseño no solo facilita la preparación de la muestra, sino que también ayuda a prevenir la posible corrosión del sistema de ejes del goniómetro por las muestras, prolongando así su vida útil. Con un amplio rango de escaneo 2θ (-110° a 161°) y una excepcional precisión repetitiva de 0,0001°, garantiza mediciones altamente precisas y repetibles. Características del instrumento y garantía de seguridad El difractómetro de rayos X TD-3700 está diseñado con un fuerte énfasis en la experiencia del usuario y la seguridad operativa. Diseño fácil de usar: Operación sin esfuerzo: cuenta con un sistema de adquisición de un solo clic e incorpora una interfaz de pantalla táctil para monitoreo en tiempo real del estado del instrumento. Diseño modular: los componentes están diseñados para una funcionalidad plug-and-play, sin necesidad de calibración y garantizando un mantenimiento sencillo. Protección de seguridad integral: Incorpora un sistema de enclavamiento electrónico de puerta principal para protección de doble capa, garantizando la seguridad del usuario. La fuga de radiación externa del sistema de protección es ≤ 0,1 μSv/h, cumpliendo con estrictos estándares internacionales de seguridad. Incluye múltiples funciones de protección contra kV excesivamente alto/bajo, mA excesivamente alto/bajo, falla del flujo de agua y sobrecalentamiento del tubo de rayos X. Sistema estable y confiable: Utiliza un generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje, reconocido por su rendimiento estable y confiable, con una estabilidad del sistema ≤ 0,005 %. El enfriador de recirculación integrado cuenta con una función de enfriamiento integrada, lo que elimina la necesidad de una unidad externa de circulación de agua. Aplicaciones y reconocimiento global El difractómetro de rayos X TD-3700 se utiliza ampliamente para análisis de fase cualitativo/cuantitativo, análisis de estructura cristalina, investigación de estructura de materiales, determinación del tamaño de grano y medición de cristalinidad. Reconocida por su confiable calidad, los productos de Dandong Tongda se han exportado a numerosos países y regiones, como Estados Unidos, Corea del Sur, Irán, Azerbaiyán, Irak y Jordania, lo que les ha valido el reconocimiento internacional. La empresa también ha obtenido la certificación ISO 9001 y otras certificaciones internacionales de sistemas de gestión de calidad. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece a sus clientes un servicio y soporte integrales, que incluyen servicio posventa, capacitación profesional y apoyo comercial internacional. Agradecemos sus consultas y esperamos su compra.

El minidifractómetro de rayos X TDM-20 es un instrumento analítico de sobremesa de alto rendimiento desarrollado y fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Se utiliza principalmente para el análisis de fases de materiales policristalinos como polvos, sólidos, muestras a granel y pastas. Utilizando el principio de difracción de rayos X, el instrumento permite el análisis cualitativo y cuantitativo, el análisis de la estructura cristalina y otras funciones. Tiene amplias aplicaciones en diversos campos, como la industria, la agricultura, la defensa, la industria farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la investigación educativa. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 supera la limitación convencional de 600 W, ofreciendo una potencia de salida máxima de 1200 W para un rendimiento de alta potencia. Además, incorpora una fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje, lo que resulta en un menor consumo total de energía. Incorpora tecnología de goniómetro de alta precisión con una repetibilidad angular de 0,0001°, una precisión de medición de la posición del pico de difracción de 0,001° y una linealidad del ángulo de difracción de perfil completo de ±0,010°. El instrumento incorpora un sistema de control avanzado basado en tecnología PLC (controlador lógico programable) y un diseño modular para un funcionamiento preciso. Para la detección, puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, lo que mejora significativamente el rendimiento general y la velocidad de adquisición de datos. El TDM-20 también ofrece opciones de configuración muy flexibles, compatible con diversos accesorios, como una platina de muestra giratoria, un detector de matriz 1D y un cambiador automático de muestras de 6 posiciones. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 se caracteriza además por su gran ventaja: es compacto y portátil, ocupa poco espacio y es ligero. Es reconocido como uno de los difractómetros de rayos X de sobremesa más pequeños del mundo, lo que lo hace ideal para entornos de laboratorio con espacio limitado. Además, el instrumento cuenta con un triple sistema de aislamiento antiinterferencias. La radiación de fuga de rayos X se mantiene a ≤ 0,12 μSv/h, lo que garantiza el cumplimiento de la norma de protección GBZ 115-2002. Por lo tanto, el uso del minidifractómetro de rayos X TDM-20 es seguro y fiable. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 combina alta potencia, alta precisión y un diseño compacto en una sola plataforma. Supera las limitaciones de los difractómetros de rayos X tradicionales a gran escala, ofreciendo una solución de análisis de materiales eficiente, práctica y fiable para diversas industrias. Gracias a su avanzado rendimiento técnico, su completo servicio técnico y su flexible funcionamiento, el TDM-20 es una potente herramienta para el análisis de materiales en laboratorio. Si necesita equipos de difracción de rayos X, le invitamos a elegir los productos de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.

El cambiador automático de muestras utiliza un motor paso a paso importado y un controlador lógico programable (PLC) como sistema de control principal. La selección de estos dos componentes clave garantiza significativamente la precisión, la estabilidad y la fiabilidad a largo plazo del funcionamiento del equipo. El flujo de trabajo del cambiador automático de muestras está diseñado para ser simple y eficiente: El operador precarga hasta seis muestras secuencialmente en posiciones designadas del cambiador de muestras. Después de configurar los parámetros de medición a través del sistema de control, el cambiador de muestras comienza a funcionar. Siguiendo las instrucciones del programa, entrega de manera automática y precisa cada muestra en secuencia a la posición de medición del difractómetro de rayos X. Una vez que se completa la medición de una muestra, el dispositivo la retira automáticamente y entrega rápidamente la siguiente muestra hasta que se midan todas las muestras. Los datos de medición se guardan automáticamente, lo que facilita la revisión y el análisis posteriores y reduce los errores de registro que pueden surgir de las operaciones manuales. Todo el proceso no requiere intervención manual, lo que permite al operador liberar tiempo para otras tareas y evitar posibles errores relacionados con la fatiga debido a una operación prolongada. Además de la función básica de cambio automático de muestra, el equipo también cuenta con varias características destacables: Mejora de la eficiencia: permite la medición automática continua sin supervisión, lo que lo hace especialmente adecuado para la detección rápida de muestras por lotes o análisis secuenciales durante períodos prolongados. Consistencia de los datos: el proceso automatizado reduce la intervención humana, lo que ayuda a mejorar la repetibilidad y comparabilidad de los datos de medición. Facilidad de operación: El sistema de control basado en PLC suele ser estable y fácil de usar, lo que reduce el umbral operativo. Aplicación flexible: se utiliza principalmente en campos como protección ambiental, electrónica/baterías y otras áreas que requieren tecnologías de análisis de materiales. Este cambiador automático de muestras sirve principalmente para el campo de aplicación del análisis de difracción de rayos X (XRD). Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. cuenta con amplia experiencia en el campo de los instrumentos analíticos. Su serie TD de instrumentos analíticos y equipos de ensayos no destructivos se aplica en diversos campos de investigación de materiales. Este cambiador automático de muestras de 6 o 12 posiciones refleja el enfoque de la compañía de integrar la tecnología de automatización en los equipos de ensayo tradicionales para mejorar la eficiencia general. Como accesorio funcional, funciona en coordinación con los difractómetros de rayos X, optimizando las capacidades de automatización del instrumento anfitrión.