El campo de la instrumentación científica está presenciando una nueva ola de innovación, a medida que la tecnología de detección de vanguardia comienza a remodelar el panorama futuro del análisis de materiales.

En los campos de la ciencia de los materiales, la investigación química y el control de calidad industrial, los difractómetros de rayos X siempre han sido herramientas analíticas indispensables.El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700, lanzado porCompañía de Ciencia y Tecnología Dandong Tongda, Ltd., se está convirtiendo en un foco de atención en laboratorios de todo el mundo debido a su innovadora tecnología de detectores y sus versátiles modos de escaneo.

Innovación tecnológica

Como nuevo miembro de la serie TD, elDifractómetro de rayos X TD-3700adopta detectores de matriz unidimensional de alto rendimiento (MYTHEN2R) o detectores SDD.

En comparación con los detectores de centelleo tradicionales o los detectores proporcionales, este nuevo tipo de detector puede aumentar la intensidad de conteo de difracción decenas de veces.

ElDifractómetro de rayos X TD-3700Puede adquirir patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución, y una mayor intensidad de conteo, en períodos de muestreo relativamente cortos.

El detector de matriz unidimensional utiliza tecnología híbrida de conteo de fotones, que ofrece un funcionamiento silencioso y una rápida adquisición de datos, con velocidades más de diez veces superiores a las de los detectores de centelleo.

El diseño del detector de 640 canales proporciona tiempos de lectura rápidos, lo que resulta en una excelente relación señal/ruido y elimina eficazmente los efectos de fluorescencia.

Modos de escaneo duales

ElDifractómetro de rayos X TD-3700Admite no solo el escaneo de datos de difracción convencional, sino también el escaneo de datos de transmisión.

La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que lo hace adecuado para campos como el análisis estructural, mientras que el modo de difracción, debido a sus señales de difracción más fuertes, es más adecuado para la identificación rutinaria de fases en laboratorios.

El modo de transmisión tiene otra ventaja destacada: requiere una cantidad mínima de muestra de polvo, lo que lo hace ideal para la adquisición de datos cuando la cantidad de muestra es insuficiente para la preparación del modo de difracción.

Esta flexibilidad permiteDifractómetro de rayos X TD-3700para desempeñarse de manera excelente en diversos escenarios de investigación.

Análisis eficiente

En términos de conveniencia operativa, elDifractómetro de rayos X TD-3700Incorpora sistemas de adquisición con un solo toque y un diseño modular.

Los accesorios del instrumento son plug-and-play, no requieren calibración y reducen significativamente el tiempo de preparación.

La arquitectura de hardware modular y los sistemas de software personalizados están perfectamente integrados.

La monitorización online en tiempo real mediante pantalla táctil muestra claramente el estado del instrumento, lo que hace que su funcionamiento sea más intuitivo y sencillo.

Seguridad y fiabilidad

ElDifractómetro de rayos X TD-3700Está totalmente equipado en cuanto a medidas de seguridad. El dispositivo electrónico de bloqueo de la puerta principal proporciona doble protección, garantizando la seguridad del usuario.

El generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje ofrece un rendimiento estable y fiable, y la avanzada unidad de control de grabación posee una gran capacidad antiinterferencias.

El esquema de protección de aislamiento triple sin interferencias adoptado por el instrumento garantiza un rendimiento general superior, una tasa de fallos extremadamente baja y prolonga la vida útil de la máquina.

Con el avance tecnológico, las exigencias de precisión y eficiencia en el análisis de materiales son cada vez mayores.Difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 Satisface las diversas necesidades de los laboratorios modernos en cuanto a análisis rápidos, operación conveniente y seguridad del usuario, mediante la combinación perfecta de un diseño de hardware modular y sistemas de software personalizados.

ElDifractómetro de rayos X TD-3700No solo representa un nuevo hito para los instrumentos científicos chinos, sino que también proporciona a los investigadores de todo el mundo herramientas analíticas más potentes, lo que promete impulsar la investigación de materiales en múltiples campos hacia nuevos hitos.