El analizador multifuncional de tensiones residuales, desarrollado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., está diseñado para satisfacer las necesidades de mediciones rápidas y precisas tanto en laboratorio como en campo. Basado principalmente en el principio de difracción de rayos X, permite realizar ensayos no destructivos del estado de tensión residual en el interior de los materiales. Análisis versátil todo en uno Este analizador integra múltiples funciones de análisis de materiales, mejorando significativamente la utilidad y la eficiencia del equipo: Análisis de tensión residual: admite varios modos de medición, como inclinación estándar (omega), inclinación estándar (psi) y oscilación estándar (oscilación), capaces de determinar tensiones principales y tensiones cortantes para una evaluación integral del estado de tensión. Análisis de austenita retenida: emplea el método de cuatro picos para pruebas de austenita retenida, con cálculo de datos totalmente automatizado para obtener resultados rápidos. Análisis de fase de difracción: se utiliza para analizar estructuras cristalinas, contenido y distribución de composición química, lo que ayuda a los investigadores a obtener conocimientos más profundos sobre la constitución del material. Análisis del tamaño de grano: admite la evaluación del tamaño de grano desde escala nanométrica hasta escala submicrónica, particularmente adecuado para granos finos ≤200 nm. Características técnicas y rendimiento Este instrumento cuenta con múltiples características técnicas orientadas a garantizar precisión, estabilidad y facilidad de uso: Medición y control de alta precisión: utiliza un sistema servoaccionamiento vectorial de circuito completamente cerrado de alta precisión para garantizar la precisión y repetibilidad de la medición. Adquisición de datos eficiente: equipado con un detector de matriz lineal de tira de silicio multicanal, que proporciona un rendimiento sin ruido, medición de alta intensidad y recopilación rápida de datos para mejorar la eficiencia de detección. Diseño portátil: presenta una construcción liviana, lo que lo hace adecuado no solo para entornos de laboratorio sino también para mediciones rápidas en el sitio, adaptándose a varios escenarios de prueba. Operación fácil de usar: integra el sistema operativo Windows o funciones de automatización, lo que admite pruebas con un solo clic y visualización de resultados en tiempo real, lo que reduce la barrera operativa. Modularidad y seguridad: Emplea un sistema de control PLC con diseño modular para facilitar su operación y un rendimiento estable. En cuanto a la seguridad, su diseño de rayos X de baja potencia cumple con las normas de seguridad pertinentes, con niveles de radiación significativamente inferiores al límite anual de dosis pública. Amplios campos de aplicación El analizador de tensión residual multifuncional de Dandong Tongda tiene amplias aplicaciones, que cubren casi todos los sectores industriales e instituciones de investigación que requieren la evaluación de las propiedades mecánicas de los materiales: Control de calidad de fabricación: se utiliza para detectar tensiones residuales en piezas estampadas, fundidas y laminadas durante el procesamiento. Industria automotriz: prueba tensiones residuales en componentes críticos como árboles de levas y bielas para garantizar confiabilidad y durabilidad. Aeroespacial: evalúa las cargas de trabajo en áreas críticas de materiales aeroespaciales para evaluar la seguridad. Investigación en ciencia de materiales: aplicable a diversos materiales metálicos (por ejemplo, acero al carbono, acero aleado, aleación de titanio, materiales a base de níquel), vidrio y materiales compuestos para análisis de tensión residual, austenita retenida, fase y tamaño de grano. El analizador multifuncional de tensiones residuales de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. demuestra la experiencia técnica de la compañía en el campo de las pruebas de materiales al integrar múltiples funciones analíticas. Este instrumento ofrece a ingenieros e investigadores una perspectiva del estado de tensión intrínseco de los materiales, lo que ayuda a controlar la calidad del producto en origen, optimizar los parámetros del proceso y, por consiguiente, mejorar la fiabilidad y la durabilidad del producto.

En el campo de la tecnología moderna, muchos productos de alta tecnología, desde sustratos para pantallas de teléfonos inteligentes hasta componentes básicos de generadores láser, se basan en un material fundamental: monocristales sintéticos. La precisión del ángulo de corte de estos cristales determina directamente el rendimiento y la productividad de los productos finales. El analizador de orientación de rayos X es un instrumento indispensable en la fabricación de precisión de dispositivos de cristal. Utilizando el principio de difracción de rayos X, mide con precisión y rapidez los ángulos de corte de monocristales naturales y sintéticos, incluyendo cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece una gama de analizadores de orientación de rayos X confiables adaptados a las necesidades de investigación, procesamiento y fabricación de la industria de materiales cristalinos. 01 Máquina versátil para diversas necesidades de orientación de cristales Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda incluyen principalmente modelos como TYX-200 y TYX-2H8. El modelo TYX-200 ofrece una precisión de medición de ±30″, con pantalla digital y una lectura mínima de 10″. El modelo TYX-2H8 es una versión mejorada del TYX-200, con mejoras en la estructura del goniómetro, la guía de carga, la funda del tubo de rayos X, el cuerpo de soporte y una platina de muestra elevada. Estas mejoras permiten al TYX-2H8 manipular muestras de 1 a 30 kg con diámetros de 2 a 8 pulgadas. Conserva la pantalla digital de ángulos y una precisión de medición de ±30″. 02 Características técnicas avanzadas para un funcionamiento sencillo Los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda están diseñados pensando en la practicidad y la fiabilidad. Su manejo intuitivo no requiere conocimientos especializados ni habilidades avanzadas por parte del operador. El instrumento cuenta con una pantalla digital de ángulos que garantiza mediciones intuitivas y de fácil lectura, minimizando al mismo tiempo el riesgo de lecturas erróneas. La pantalla se puede poner a cero en cualquier posición, lo que permite la lectura directa de la desviación del ángulo de la oblea. Algunos modelos están equipados con goniómetros duales para funcionamiento simultáneo, lo que mejora significativamente la eficiencia de detección. Un integrador especial con amplificación de picos mejora la precisión de la medición. El tubo de rayos X y el cable de alto voltaje adoptan un diseño integrado que mejora la fiabilidad del alto voltaje. El sistema de alto voltaje del detector utiliza un módulo de alto voltaje de CC, y la plataforma de muestreo con succión al vacío mejora aún más la precisión y la velocidad de la medición. 03 Diseños de etapas de muestra dedicados para diversas necesidades de prueba Para satisfacer los requisitos de medición de muestras con diferentes formas y tamaños, Dandong Tongda ofrece una variedad de etapas de muestra especializadas: Platina de muestra TA: Diseñada para cristales bastoncillos, cuenta con una pista de carga y permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg y un diámetro de 2 a 6 pulgadas (ampliable a 8 pulgadas). Esta platina permite medir superficies de referencia de cristales bastoncillos, así como de cristales oblea. Platina de muestra TB: Diseñada también para cristales bastoncillos, incluye una pista de carga y rieles de soporte en forma de V. Permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg, diámetros de 2 a 6 pulgadas (ampliables a 8 pulgadas) y longitudes de hasta 500 mm. Mide las caras finales de cristales bastoncillos y las superficies de cristales oblea. Platina de Muestra TC: Se utiliza principalmente para detectar las superficies de referencia externas de obleas monocristalinas como silicio y zafiro. Su placa de succión de diseño abierto evita la obstrucción de los rayos X y las imprecisiones de posicionamiento. La bomba de succión de la platina sujeta firmemente obleas de 5 a 20 cm, lo que garantiza una detección precisa. ​ Platina de Muestra TD: Diseñada para mediciones multipunto de obleas como silicio y zafiro. Las obleas se pueden girar manualmente en la platina (p. ej., 0°, 90°, 180°, 270°) para satisfacer las necesidades de medición específicas del cliente. 04 Modelo de alto rendimiento para desafíos de muestras grandes Para la detección de muestras grandes y complejas, los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda demuestran un rendimiento excepcional. El modelo TYX-2H8, por ejemplo, es especialmente adecuado para orientar lingotes y varillas de cristal de zafiro. Este instrumento permite medir las orientaciones de los cristales de zafiro A, C, M y R, con un rango de medición ajustable de 0 a 45° mediante automatización eléctrica. Sus especificaciones técnicas son impresionantes: Tubo de rayos X con objetivo de cobre, ánodo puesto a tierra y refrigeración por aire forzado. Corriente de tubo ajustable: 0–4 mA; voltaje del tubo: 30 kV. Operación mediante control por computadora o pantalla táctil. Movimiento sincronizado del tubo de rayos X y del detector; mesa giratoria accionada eléctricamente. Consumo total de energía: ≤2 kW. Cabe destacar su capacidad para manipular muestras, incluyendo lingotes de cristal de entre 30 y 180 kg de peso, con dimensiones máximas de 350 mm de diámetro y 480 mm de longitud. Estas capacidades lo hacen ideal para la detección de muestras grandes en la mayoría de los entornos industriales. 05 Amplias aplicaciones que respaldan múltiples industrias Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se utilizan ampliamente en diversas industrias involucradas en la investigación, el procesamiento y la fabricación de materiales cristalinos. En la industria de semiconductores, permiten un corte con orientación precisa de obleas de silicio. En el campo de la optoelectrónica, se utilizan para el procesamiento de precisión de sustratos de zafiro, cristales ópticos y cristales láser. En el sector de los materiales piezoeléctricos, garantizan mediciones precisas del ángulo de corte para un rendimiento estable del producto final. Los instrumentos son especialmente adecuados para materiales de zafiro, muy demandados por su dureza, alta transmitancia de luz y excelente estabilidad fisicoquímica. El zafiro se utiliza ampliamente en sustratos LED, pantallas de electrónica de consumo y ventanas ópticas. Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se han convertido en herramientas esenciales en los campos de investigación y fabricación de materiales cristalinos de China, gracias a su rendimiento confiable, diversas configuraciones y fuerte adaptabilidad. Su diseño modular y la variedad de opciones de escenario de muestra permiten a los usuarios seleccionar configuraciones que satisfagan necesidades específicas, garantizando una alta precisión de detección y mejorando al mismo tiempo la eficiencia del trabajo. Ya sea para instituciones de investigación o para control de calidad de fabricación y optimización de procesos, estos instrumentos brindan un soporte técnico sólido, permitiendo a los usuarios lograr avances en la fabricación de precisión.

El Analizador de Cristales de Rayos X de Dandong Tongda utiliza tecnología avanzada de difracción de rayos X, lo que permite la detección no destructiva de información microestructural en diversos materiales. Ya sea para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la medición de parámetros reticulares o el análisis de tensiones residuales, este instrumento proporciona datos de prueba precisos y fiables, lo que constituye un sólido apoyo para la investigación de materiales y el control de calidad. El instrumento está equipado con un generador de rayos X de alta estabilidad que ofrece un rendimiento excepcional. El voltaje del tubo se puede ajustar con precisión en un rango de 10 a 60 kV, y la corriente del tubo se puede regular de 2 a 60 mA, con una estabilidad máxima de ±0,005 %. Esto garantiza resultados de prueba altamente repetibles y precisos, proporcionando a los investigadores una garantía de datos fiable. El analizador de cristales de rayos X de Dandong Tongda integra control inteligente y protección de seguridad integral. Incorpora un sistema de control automático PLC importado, que permite mediciones temporizadas automáticas sin supervisión. El sistema de protección de seguridad multinivel incluye protecciones contra falta de presión, falta de corriente, sobretensión, sobrecorriente, sobrepotencia, falta de agua y sobretemperatura del tubo de rayos X, lo que garantiza la seguridad de los operadores. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF incorpora una carcasa de tubo vertical con cuatro ventanas que pueden utilizarse simultáneamente. Utiliza tecnología de control PLC importada, que ofrece alta precisión y una sólida capacidad antiinterferencias, garantizando así el funcionamiento fiable del sistema. El PLC controla la conmutación y el ajuste de la alta tensión e incluye una función de entrenamiento automático para el tubo de rayos X, lo que prolonga eficazmente la vida útil tanto del tubo de rayos X como del instrumento. La carcasa de protección radiológica del instrumento está construida con vidrio emplomado de alta densidad y alta transparencia, con fugas de radiación externa muy por debajo de los estándares de seguridad nacionales, lo que permite a los investigadores realizar estudios experimentales en un entorno seguro. Como empresa nacional de alta tecnología, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. cuenta con un sistema integral de gestión de calidad y un equipo técnico de I+D. Sus productos no solo satisfacen la demanda del mercado nacional, sino que también se exportan a numerosos países y regiones, lo que demuestra la solidez y la capacidad de fabricación de instrumentos científicos en China. El analizador de cristales de rayos X de Dandong Tongda, con su excelente rendimiento y calidad confiable, se ha convertido en un potente asistente en el campo del análisis de materiales. Ayuda a investigadores e ingenieros a desvelar las capas del mundo material y explorar posibilidades aún más desconocidas.

En los campos de la ciencia de los materiales y las pruebas industriales, cada pequeño cambio en la estructura cristalina puede determinar las propiedades finales de un material. Hoy, un instrumento de precisión que encarna la esencia de la I+D de Dandong Tongda Science and Technology, el difractómetro de rayos X TD-3500, abre una nueva ventana al mundo microscópico para investigadores e inspectores industriales gracias a su rendimiento excepcional y diseño inteligente. La evolución a través de la artesanía y la tecnología Los difractómetros de la serie TD incorporan años de acumulación tecnológica de Tongda Science and Technology y evolucionan continuamente con el tiempo. Como el estándar de oro para el análisis de materiales, la tecnología de difracción de rayos X permite un análisis estructural integral de muestras en polvo, a granel o en película delgada: desde análisis de fase cualitativo y cuantitativo, análisis de la estructura cristalina y análisis de la estructura del material, hasta análisis de la orientación, medición de macro/microesfuerzos, tamaño de grano y determinación de la cristalinidad; el TD-3500 lo hace todo. Núcleo inteligente, estable y confiable La principal ventaja del difractómetro de rayos X TD-3500 reside en el uso de un sistema de control PLC Siemens importado. Este diseño innovador le otorga al instrumento características excepcionales como alta precisión, alta exactitud, excelente estabilidad, larga vida útil, fácil actualización, manejo intuitivo y funcionalidad inteligente, lo que le permite adaptarse con flexibilidad a las necesidades de prueba e investigación de diversas industrias. El generador de rayos X ofrece dos opciones: generadores de estado sólido de alta frecuencia y alto voltaje o generadores de frecuencia de línea (工频), con alta automatización, tasas de fallos extremadamente bajas, gran capacidad antiinterferencias y excelente estabilidad del sistema. El sistema controla automáticamente el interruptor del obturador, ajusta el voltaje y la corriente del tubo e incluye una función automática de entrenamiento del tubo de rayos X. La monitorización en tiempo real mediante una pantalla táctil reduce considerablemente la complejidad operativa. Control innovador, operación revolucionaria En comparación con los circuitos de microcomputadoras tradicionales de un solo chip, la tecnología de control PLC utilizada en el TD-3500 ofrece múltiples avances: Control de circuito simple para una fácil depuración e instalación El diseño modular permite a los usuarios realizar el mantenimiento y la depuración ellos mismos, lo que reduce significativamente los costos. Gran capacidad de expansión para agregar fácilmente varios accesorios funcionales sin modificaciones de hardware Pantalla táctil a color real para interacción hombre-máquina, operación fácil de usar y visualización intuitiva de información de fallas. Medición de precisión, seguridad garantizada El goniómetro de la serie TD utiliza una transmisión de rodamientos importada de alta precisión y está equipado con un servosistema de accionamiento vectorial de bucle cerrado de alta precisión. El accionamiento inteligente incluye un microprocesador RISC de 32 bits y un codificador magnético de alta resolución, capaz de corregir automáticamente errores de posición de movimiento mínimos para garantizar una alta precisión y exactitud en los resultados de medición, con una reproducibilidad angular de hasta 0,0001 grados. Para mayor seguridad, el TD-3500 adopta una estructura de eje hueco con enclavamiento electrónico de la puerta principal, que proporciona doble protección. La ventana del obturador está conectada a la puerta principal: cuando esta se abre, el obturador se cierra automáticamente, garantizando así la seguridad total del operador. Configuración flexible, compatibilidad completa El instrumento ofrece dos opciones de detector: contador proporcional (PC) o contador de centelleo (SC) y múltiples opciones de tubos de rayos X que incluyen tubos de vidrio, cerámica corrugada y metal-cerámica, que satisfacen diferentes escenarios de aplicación y requisitos presupuestarios. El difractómetro de rayos X TD-3500 no solo es un instrumento analítico de alto rendimiento, sino también un reflejo de la incansable búsqueda de la calidad por parte de Tongda Science and Technology. Silenciosamente, desempeña un papel vital en laboratorios de todo el país, impulsando la innovación científica y el control de calidad, y convirtiéndose en el socio analítico más confiable para científicos e ingenieros. Ya sea que participe en el desarrollo de nuevos materiales, análisis de recursos minerales, control de calidad farmacéutica o pruebas de materiales metálicos, el TD-3500 puede brindarle soporte de datos preciso y confiable, ayudándolo a descubrir más posibilidades en el mundo microscópico. Explore lo desconocido con TD-3500: deje que Tongda Science and Technology trabaje con usted para descubrir los misterios de la ciencia de los materiales.

En los campos de la ciencia de materiales y la inspección industrial, el análisis de difracción de rayos X, altamente eficiente y preciso, siempre ha sido fundamental para los avances científicos y el control de calidad. El difractómetro de rayos X de la serie TD-3700 redefine los límites de rendimiento de los equipos de difracción con múltiples tecnologías innovadoras, ofreciendo una solución eficiente sin precedentes para la investigación académica, la I+D corporativa y las aplicaciones de control de calidad. La sinergia de múltiples detectores marca el comienzo de una nueva era de análisis de alta velocidad La serie TD-3700 supera las limitaciones de los detectores tradicionales al ofrecer diversas opciones, incluyendo detectores de matriz unidimensional de alta velocidad, detectores bidimensionales y detectores SDD. En comparación con los detectores de centelleo o proporcionales convencionales, multiplica por diez la intensidad de la señal de difracción, capturando patrones de difracción de alta sensibilidad y resolución en ciclos de muestreo extremadamente cortos y mejorando significativamente la eficiencia de la salida de datos. Junto con la tecnología híbrida de conteo de fotones, los detectores funcionan sin ruido, suprimen eficazmente el fondo de fluorescencia y demuestran una excelente resolución energética y relación señal-ruido, lo que los hace especialmente adecuados para analizar muestras complejas y trazas. Los modos duales de difracción/transmisión amplían los límites de la aplicación El instrumento no solo admite el escaneo por difracción convencional, sino que también introduce de forma innovadora un modo de transmisión. Este modo ofrece una resolución significativamente mayor que el modo de difracción, lo que lo hace especialmente adecuado para aplicaciones de alta gama como el análisis de la estructura cristalina y la investigación de nanomateriales. Por otro lado, el modo de difracción, con su altísima estabilidad de señal, es ideal para la identificación rutinaria de fases. Otra gran ventaja del modo de transmisión es su compatibilidad con el análisis de muestras traza, lo que facilita enormemente la preparación de muestras y la disponibilidad limitada de las mismas. Esto abre nuevas posibilidades para el desarrollo farmacéutico, el análisis geológico, la identificación del patrimonio cultural y otros campos. Diseño modular e inteligente para una plataforma experimental confiable y fácil de usar El TD-3700 adopta un diseño de hardware modular donde todos los componentes son fáciles de conectar y usar sin necesidad de calibración, lo que reduce significativamente los costos de mantenimiento y la tasa de fallos. Su sistema de adquisición con un solo clic y su software personalizado mejoran enormemente la comodidad operativa, permitiendo que incluso los usuarios no especializados puedan comenzar a usarlo rápidamente. Una interfaz táctil permite monitorear el estado del instrumento en tiempo real, mostrando el progreso experimental de un vistazo. La seguridad también es absoluta: un dispositivo electrónico de bloqueo de puerta ofrece doble protección, mientras que un generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje garantiza un rendimiento estable y fiable. En combinación con una unidad de control antiinterferencias, mantiene la fiabilidad operativa a largo plazo y garantiza la seguridad del usuario. Nacido para la era: un referente en tecnología de difracción orientado al futuro El difractómetro de rayos X de la serie TD-3700 integra análisis rápido, operación inteligente y seguridad integral. No solo hereda la estabilidad de la serie TD-3500, sino que también logra avances en tecnología de detectores, flexibilidad de aplicación e integración de sistemas. Su desarrollo satisface ampliamente las necesidades de los laboratorios modernos de análisis de muestras de alto rendimiento, alta precisión y diversidad, lo que lo convierte en una herramienta indispensable para la caracterización de materiales, el análisis químico, la investigación farmacéutica y la académica.

El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y sustancias pastosas. Basado en el principio de difracción de rayos X, permite el análisis cualitativo y cuantitativo, así como el análisis de la estructura cristalina, de materiales policristalinos como muestras en polvo y metálicas. Se aplica ampliamente en industrias como la agricultura, la defensa nacional, la farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la educación/investigación. Principio fundamental: difracción de rayos X, la clave del mundo microscópico El difractómetro de rayos X TDM-20 funciona según el principio de difracción de rayos X. Cuando los rayos X iluminan una muestra, interactúan con los átomos de la misma y difractan. Las diferentes estructuras cristalinas producen patrones de difracción únicos, similares a las huellas dactilares individuales. Al analizar estos patrones, el instrumento revela con precisión información clave sobre la estructura cristalina de la muestra, la composición de las fases y más, desvelando los secretos ocultos a nivel microscópico. Avance en el rendimiento El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) supera el estándar internacional anterior de 600 W, tras una actualización integral a 1600 W. El instrumento se caracteriza por su fácil manejo, rendimiento estable y bajo consumo energético. Puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alta velocidad, lo que supone un avance significativo en el rendimiento general. Características del dispositivo Tamaño compacto y diseño ligero. Diseño de fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje para un menor consumo general de energía Admite calibración y prueba rápida de muestras Control de circuito simplificado para una fácil depuración e instalación La precisión lineal del ángulo de difracción de espectro completo alcanza ±0,01° Accesorios ricos Compatible con varios accesorios, incluido un detector de matriz 1D, un detector proporcional, un cambiador de muestras automático de 6 posiciones y una platina de muestra giratoria. Conclusión El difractómetro de rayos X TDM-20, con su excelente rendimiento, facilidad de uso y amplia gama de aplicaciones, se ha convertido en una herramienta indispensable en numerosas industrias y campos de investigación. Actúa como un "detective" del mundo microscópico, ayudándonos a desentrañar los misterios de la estructura de los materiales e impulsando el progreso en diversos ámbitos. Si usted también desea profundizar en los secretos microscópicos de la materia, considere el TDM-20 para embarcarse en un viaje de investigación y producción precisa y eficiente.

El cambiador automático de muestras utiliza un motor paso a paso importado y un controlador lógico programable (PLC) como sistema de control principal. La selección de estos dos componentes clave garantiza significativamente la precisión, la estabilidad y la fiabilidad a largo plazo del funcionamiento del equipo. El flujo de trabajo del cambiador automático de muestras está diseñado para ser simple y eficiente: El operador precarga hasta seis muestras secuencialmente en posiciones designadas del cambiador de muestras. Después de configurar los parámetros de medición a través del sistema de control, el cambiador de muestras comienza a funcionar. Siguiendo las instrucciones del programa, entrega de manera automática y precisa cada muestra en secuencia a la posición de medición del difractómetro de rayos X. Una vez que se completa la medición de una muestra, el dispositivo la retira automáticamente y entrega rápidamente la siguiente muestra hasta que se midan todas las muestras. Los datos de medición se guardan automáticamente, lo que facilita la revisión y el análisis posteriores y reduce los errores de registro que pueden surgir de las operaciones manuales. Todo el proceso no requiere intervención manual, lo que permite al operador liberar tiempo para otras tareas y evitar posibles errores relacionados con la fatiga debido a una operación prolongada. Además de la función básica de cambio automático de muestra, el equipo también cuenta con varias características destacables: Mejora de la eficiencia: permite la medición automática continua sin supervisión, lo que lo hace especialmente adecuado para la detección rápida de muestras por lotes o análisis secuenciales durante períodos prolongados. Consistencia de los datos: el proceso automatizado reduce la intervención humana, lo que ayuda a mejorar la repetibilidad y comparabilidad de los datos de medición. Facilidad de operación: El sistema de control basado en PLC suele ser estable y fácil de usar, lo que reduce el umbral operativo. Aplicación flexible: se utiliza principalmente en campos como protección ambiental, electrónica/baterías y otras áreas que requieren tecnologías de análisis de materiales. Este cambiador automático de muestras sirve principalmente para el campo de aplicación del análisis de difracción de rayos X (XRD). Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. cuenta con amplia experiencia en el campo de los instrumentos analíticos. Su serie TD de instrumentos analíticos y equipos de ensayos no destructivos se aplica en diversos campos de investigación de materiales. Este cambiador automático de muestras de 6 o 12 posiciones refleja el enfoque de la compañía de integrar la tecnología de automatización en los equipos de ensayo tradicionales para mejorar la eficiencia general. Como accesorio funcional, funciona en coordinación con los difractómetros de rayos X, optimizando las capacidades de automatización del instrumento anfitrión.

El difractómetro de rayos X monocristalino TD-5000 es un instrumento de alto rendimiento desarrollado por Dandong Tongda Technology. Aprobado en el marco del Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Clave de China, cubre una necesidad nacional crucial en este campo. Su función principal es determinar la estructura espacial tridimensional y la distribución de la densidad electrónica de sustancias cristalinas, incluyendo compuestos inorgánicos, compuestos orgánicos y complejos metálicos, a la vez que analiza las estructuras de materiales especiales como cristales maclados, estructuras moduladas inconmensurablemente y cuasicristales. Mide con precisión la estructura espacial tridimensional de nuevos compuestos cristalinos (incluyendo longitudes de enlace, ángulos de enlace, configuración, conformación y densidad electrónica de enlace) y la disposición real de las moléculas dentro de la red cristalina. El sistema proporciona información estructural completa, como parámetros de la celda unitaria, grupo espacial, estructura molecular, enlaces de hidrógeno intermoleculares e interacciones débiles, y configuración/conformación molecular. Se utiliza ampliamente para la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. Tecnología central: una doble revolución en precisión e inteligencia (1) El "ojo mecánico" con posicionamiento a nivel atómico Difractómetro concéntrico de cuatro círculos: supera las limitaciones de desplazamiento mecánico tradicionales, manteniendo un centro de rotación constante para garantizar que los errores de coordenadas del punto de difracción permanezcan por debajo del nivel nanométrico. Detector PILATUS: Combina tecnología de conteo de fotones individuales con píxeles ultrafinos de 172 μm. Alcanza velocidades de fotogramas de hasta 20 Hz y una capacidad de supresión de ruido tres veces superior a la de los detectores CCD convencionales. (2) Flujo de trabajo de circuito cerrado totalmente inteligente Control PLC de un solo toque: automatiza todo el proceso desde el posicionamiento del cristal hasta la adquisición de datos, reduciendo el tiempo de operación manual en un 90%. Sistema de mejora criogénica: cuenta con un control de temperatura de precisión de ±0,3 K (100 K–300 K), que aumenta la intensidad de la señal para cristales de difracción débil en un 50 % con un consumo de nitrógeno líquido de solo 1,1–2 L/h. (3) Doble garantía: seguridad y capacidad de expansión Bloqueo de puerta de plomo + protección contra fugas (≤0,12 µSv/h), que supera los estándares de seguridad nacionales. Óptica de enfoque multicapa opcional (objetivo dual Mo/Cu), que permite un análisis a gran escala desde productos farmacéuticos de moléculas pequeñas hasta minerales con celdas unitarias grandes. La llegada del difractómetro monocristalino de rayos X TD-5000 representa más que un avance instrumental: marca la era en la que los equipos de investigación científica de alta gama de China alcanzan oficialmente la precisión autónoma. Hasta 2025, este sistema ha prestado servicio a más de 30 instituciones líderes en campos como la química, la ciencia de los materiales y la industria aeroespacial. A medida que los cristales revelan los secretos de la vida bajo la mirada inquisitiva de instrumentos desarrollados nacionalmente, el ojo científico chino, que discierne la esencia de la materia, brilla ahora con una claridad deslumbrante.