En el campo de la investigación en ciencia de materiales, la medición precisa es clave para descifrar las propiedades de los materiales. El accesorio de medición integrado multifuncional, desarrollado por Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd., es una herramienta de alta precisión diseñada para mejorar las capacidades de análisis por difracción de rayos X.

EsteAccesorio de medición integrado multifuncionalEstá diseñado específicamente para su instalación en goniómetros de gran angular. Su misión principal es analizar con precisión materiales en placa, materiales a granel y películas delgadas depositadas sobre sustratos.

El accesorio puede realizar diversas tareas de medición, como la detección de fase cristalina, el análisis del grado de orientación y las pruebas de tensión. Es compatible con el análisis de textura, la determinación de la tensión residual y las pruebas de estructura en el plano de películas delgadas, lo que proporciona un amplio soporte de datos para la investigación de materiales.

Las principales características técnicas de este accesorio se reflejan en su sistema mecánico de precisión coordinado de múltiples ejes y sus métodos de medición altamente adaptables.

El accesorio de medición integrado multifuncional admite mediciones de figuras polares mediante métodos de transmisión o reflexión, lo que ofrece flexibilidad para diferentes muestras y requisitos de prueba.

Para las pruebas de tensión, puede emplear tanto el método de inclinación lateral como el de inclinación normal. Para muestras de película delgada, el accesorio también permite realizar pruebas de rotación en el plano, lo que permite un análisis exhaustivo de las estructuras de la película.

Su sistema mecánico de precisión asegura una alta precisión de medición y repetibilidad, con incrementos mínimos de paso de 0,001° (para ejes de rotación) y 0,001mm (para ejes de traslación).

El alcance de aplicación del accesorio de medición integrado multifuncional es extremadamente amplio y cubre casi todos los campos de fabricación avanzada e I+D que requieren análisis de la estructura del material.

En el campo de los materiales metálicos, se utiliza para evaluar la organización colectiva de metales como placas laminadas; en cerámica, se centra en evaluar la orientación de la cerámica.

Para materiales de película delgada, el accesorio puede analizar la orientación preferida del cristal de muestras de película y probar la tensión residual de películas multicapa (evaluando propiedades como el desprendimiento de la película).

También puede analizar películas de nitruración y oxidación de superficies en películas de materiales superconductores de alta temperatura y placas de metal, así como películas multicapa sobre sustratos de vidrio, silicio y metal.

En particular, también se puede aplicar al análisis de materiales macromoleculares, papel, materiales de recubrimiento de lentes y más, lo que demuestra su potencial de aplicación interdisciplinaria.