El accesorio de difracción de ángulo pequeño es un componente especializado que se utiliza en instrumentos de difracción de rayos X, principalmente para el análisis de la estructura y el espesor de materiales a nanoescala. 1. Funciones principales de los accesorios de difracción de ángulo pequeño (1) Rango de ángulo de difracción: cubre un rango de ángulo pequeño de 0° a 5°, adecuado para el análisis de difracción de materiales a nanoescala. (2) Aplicación principal: Puede probar con precisión el espesor de películas nano multicapa y respaldar el estudio de la superficie del material o la estructura de la interfaz. 2. Dispositivos compatibles con accesorios de difracción de ángulo pequeño Este accesorio se utiliza normalmente junto con difractómetros de rayos X (como TD-3500, TD-3700, TDM-20, etc.). 3. Escenarios de aplicación de accesorios de difracción de ángulo pequeño (1) Ciencia de los Materiales: Caracterización de Estructuras de Nanopelículas y Películas Multicapa. (2) Química e Ingeniería Química: Tratamiento de Superficies de Materiales, Ensayos de Espesor de Recubrimientos. (3) Otros campos: Análisis a nanoescala de materiales como geología, minerales, cerámica y productos farmacéuticos. 4. Información del fabricante Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es el principal fabricante de este tipo de accesorio, y sus instrumentos analíticos de la serie TD se han destacado por alcanzar o incluso alcanzar los estándares internacionales, exportándose a países como Estados Unidos y Azerbaiyán. En general, los accesorios de difracción de ángulo pequeño son herramientas clave para el análisis de nanomateriales y la medición del espesor de películas delgadas, y deben utilizarse en combinación con instrumentos especializados de difracción de rayos X. Sus aplicaciones se centran en campos de vanguardia como la ciencia de los materiales y la ingeniería química.

El accesorio de medición de película óptica paralela es un componente especializado utilizado en difractómetros de rayos X, principalmente para mejorar la intensidad de la señal y la precisión de detección de muestras de película delgada. 1. Funciones principales de los accesorios de medición de película óptica paralela Supresión de interferencias por dispersión: al aumentar la longitud de la rejilla, se filtran más rayos dispersos, se reduce la interferencia de la señal del sustrato en los resultados de difracción de la película delgada y, por lo tanto, se mejora la intensidad de la señal de la película delgada. Mejora de la precisión del análisis de películas delgadas: adecuado para pruebas de espesor y otros escenarios de películas delgadas nano multicapa, combinado con accesorios de difracción de ángulo pequeño, se puede lograr un análisis de difracción de ángulo bajo en el rango de 0° ~ 5°. 2. Características estructurales de los accesorios de medición de película óptica paralela Diseño de rejilla: al extender la longitud de la rejilla, se optimiza la trayectoria de los rayos X, se mejora la capacidad de filtrado de los rayos dispersos y se garantiza la pureza de la señal de difracción de película delgada. 3. Ámbito de aplicación del accesorio de medición de película óptica paralela Investigación en materiales de película delgada: análisis de la estructura cristalina de películas nano multicapa y películas ultradelgadas. Pruebas de semiconductores y recubrimientos: se utilizan para evaluar la uniformidad, la calidad cristalina y otras características de películas delgadas. 4. Equipo compatible para accesorio de medición de película óptica paralela Este accesorio se puede adaptar a varios modelos de difractómetros de rayos X, incluidos: Difractómetro de rayos X TD-3500 Difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 Difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 Difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 En general, el accesorio de medición de película óptica paralela mejora significativamente la calidad de la señal de difracción de muestras de película delgada a través de la optimización estructural y la supresión de dispersión, y se usa ampliamente en la ciencia de los materiales, la fabricación de semiconductores y otros campos, especialmente adecuado para las necesidades de análisis de alta precisión de películas delgadas a nanoescala.

Los accesorios in situ para temperatura media y baja son accesorios de equipos experimentales utilizados para el análisis de materiales, principalmente para ensayos in situ en entornos de temperatura baja o media-baja. Combinados con un entorno de vacío, control de temperatura y un diseño especial de material de ventana, se utilizan ampliamente en campos como la química, la ciencia de los materiales y la investigación catalítica. 1. Funciones principales y parámetros técnicos de los accesorios in situ de temperatura media y baja (1) Rango de temperatura y precisión de control Admite un rango de temperatura de -196 °C a 500 °C en un entorno de vacío (como refrigeración con nitrógeno líquido), con una precisión de control de temperatura de ± 0,5 °C. Algunos modelos pueden abarcar temperaturas de -150 °C a 600 °C, lo que los hace adecuados para una gama más amplia de necesidades experimentales. (2) Método de refrigeración y sistema de enfriamiento Utiliza refrigeración con nitrógeno líquido, con un consumo inferior a 4 L/h, y mantiene una temperatura estable mediante un sistema de refrigeración con circulación de agua desionizada. Opcionalmente, se puede optar por un sistema de refrigeración con nitrógeno líquido de baja temperatura (como la serie Cryostream). (3) Materiales de ventanas y diseño estructural El material de la ventana es principalmente película de poliéster (como la serie TD) y algunas configuraciones infrarrojas utilizan ventanas de KBr o SiO2. La estructura incluye un diseño resistente a alta presión (como 133 kPa) y está equipada con múltiples entradas/salidas de gas, adecuadas para reacciones in situ o control de atmósfera. 2. Campos de aplicación de los accesorios in situ de temperatura media y baja (1) Investigación de materiales Se utiliza para ensayos in situ de difractómetros de rayos X (como el TD-3500) para estudiar cambios en la estructura cristalina y los procesos de transición de fase a bajas temperaturas. Apoya la investigación sobre catálisis heterogénea, interacciones gas-sólido, reacciones fotoquímicas, etc. (2) Investigación electroquímica y de baterías Se puede extender a accesorios de batería in situ para probar compuestos en sistemas electroquímicos (como carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, etc.), con una resistencia a la temperatura de hasta 400 ℃. (3) Aplicaciones industriales Los productos de Dandong Tongda Technology (serie TD) se han aplicado en los campos de la química, la ingeniería química, la geología, la metalurgia, etc., y se han exportado a países como Estados Unidos y Azerbaiyán. 3. Productos y marcas típicas de accesorios in situ para temperatura media y baja Tecnología Dandong Tongda (Serie TD) Los accesorios para difractómetros de rayos X, como el TD-3500 y el TD-3700, destacan por su control de temperatura de alta precisión (± 0,5 °C) y su eficiente refrigeración con nitrógeno líquido. Son ideales para mediciones por espectroscopia de reflectancia difusa, con cámara de reacción de acero inoxidable, configuración multiventana (compatible con FTIR o UV-VIS) y compatibilidad con entornos de alto vacío hasta 133 kPa. En general, los accesorios in situ de temperatura media y baja se han convertido en una herramienta importante para el análisis in situ de materiales gracias al control preciso de la temperatura, el entorno de vacío y el diseño de ventanas adaptado a diferentes instrumentos. Desempeñan un papel fundamental en el estudio de las estructuras cristalinas a baja temperatura y la exploración de los mecanismos de reacción catalítica.

Comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura y los cambios en la disolución mutua de diversas sustancias durante dicho calentamiento. El dispositivo de alta temperatura in situ es un dispositivo experimental utilizado para la caracterización in situ de materiales en condiciones de alta temperatura, principalmente para estudiar procesos dinámicos como cambios en la estructura cristalina, transiciones de fase y reacciones químicas de los materiales durante el calentamiento a alta temperatura. A continuación, se presenta una introducción detallada sobre parámetros técnicos, escenarios de aplicación y precauciones: Más, Parámetros técnicos de los accesorios de alta temperatura in situ 1. Rango de temperatura de los accesorios de alta temperatura in situ Ambiente de gas inerte/vacío: La temperatura máxima puede alcanzar los 1600 ℃. Entorno estándar: Temperatura ambiente hasta 1200 ℃ (como se proporciona en el accesorio TD-3500 XRD). 2. Precisión del control de temperatura de los accesorios de alta temperatura in situ: generalmente ± 0,5 ℃ (como los accesorios de alta temperatura in situ), y la precisión de algunos equipos por encima de 1000 ℃ es ± 0,5 ℃. 3. Materiales de ventanas y métodos de enfriamiento para fijaciones de alta temperatura in situ Material de la ventana: Película de poliéster (resistente a temperaturas de 400 ℃) o lámina de berilio (espesor 0,1 mm), utilizada para la penetración de rayos X. Método de enfriamiento: El enfriamiento por circulación de agua desionizada garantiza un funcionamiento estable del equipo en condiciones de alta temperatura. 4. Control de atmósfera y presión de accesorios de alta temperatura in situ: Admite gases inertes (como Ar, N₂), vacío o ambientes atmosféricos y algunos modelos pueden soportar presiones inferiores a 10 bar. El caudal de gas atmosférico se puede ajustar (0,7-2,5 L/min), adecuado para entornos con gases corrosivos. Más, Escenarios de aplicación de accesorios de alta temperatura in situ 1. Investigación de materiales sobre fijaciones de alta temperatura in situ Analizar los cambios en la estructura cristalina (como la transición de fase del platino) y los procesos de transición de fase (como la fusión y la sublimación) a altas temperaturas. Estudiar las reacciones químicas de los materiales a altas temperaturas, como la disolución y la oxidación. 2. Adaptabilidad de los equipos de fijación in situ para altas temperaturas Se utiliza principalmente en difractómetros de rayos X (XRD), como TD-3500, TD-3700, etc. También se puede utilizar para pruebas de tracción in situ mediante microscopía electrónica de barrido (SEM), con conexiones de brida personalizadas requeridas. Precauciones para el uso de accesorios de alta temperatura in situ 1. Requisitos de muestra para accesorios de alta temperatura in situ Es necesario comprobar previamente la estabilidad química de la muestra en el rango de temperatura objetivo para evitar su descomposición en ácidos/bases fuertes o la formación de enlaces cerámicos. La forma de la muestra debe cumplir con los requisitos del accesorio (por ejemplo, grosor de 0,5 a 4,5 mm y diámetro de 20 mm). 2. Procedimientos operativos experimentales para accesorios de alta temperatura in situ Es necesario controlar la velocidad de calentamiento (p. ej., máximo 200 °C/min a 100 °C) para evitar el sobrecalentamiento y dañar el equipo. Tras el experimento, la muestra debe enfriarse a temperatura ambiente para evitar daños estructurales.

La platina de muestra multifuncional es un equipo experimental altamente integrado que se utiliza principalmente en los campos de la ciencia de los materiales, la fabricación de semiconductores, el análisis de microscopía electrónica, etc. Sus características principales son el diseño modular, la integración multifuncional y el control de alta precisión. Más, Las funciones principales y características estructurales de la etapa de muestra multifuncional 1. Diseño modular de platina de muestra multifuncional: Se logran múltiples funciones a través de diferentes combinaciones de módulos, como el módulo de acoplamiento de rotación automática (velocidad de 0 a 20 revoluciones por minuto, con límite cero), el módulo de elevación (carrera estándar de 50 mm/100 mm, personalizable), el módulo de calentamiento (temperatura máxima de hasta 1100 ℃), etc. Admite conexión de fuente de alimentación CC/RF para satisfacer las necesidades de crecimiento de película delgada, limpieza de muestras o formación de película auxiliar. 2. Control de alta precisión y sensores para platina de muestra multifuncional: Equipado con sensores de temperatura, presión y otros, monitoreo en tiempo real de los parámetros ambientales de la muestra y ajuste de calefacción, enfriamiento y otras operaciones a través del sistema de control. Algunos modelos integran módulos deflectores neumáticos para una fácil operación. 3. Compatibilidad y adaptabilidad de la platina de muestra multifuncional: Adecuado para probar muestras irregulares, como polvos traza, materiales en láminas y muestras de gran tamaño, evitando el daño causado por el corte o pulido tradicionales. Admite tamaños de muestra inferiores a 6 pulgadas e interfaces de brida personalizables. Más, Campos de aplicación del soporte de muestra multifuncional 1. Tecnología de película delgada para etapa de muestra multifuncional: se utiliza para tecnologías avanzadas de crecimiento de película delgada como MBE (epitaxia de haz molecular), PLD (deposición láser pulsada), pulverización catódica por magnetrón, así como recocido de sustrato, desgasificación a alta temperatura y otros procesos. 2. Análisis de microscopía electrónica de platina de muestra multifuncional: Microscopio electrónico de barrido de campo frío: Fije la muestra con tornillos largos y ajuste la conductividad con arandelas de latón compatibles. Sistema TEM/FIB: integra delaminación in situ, pruebas con nanosonda y análisis TEM para evitar la contaminación o daños causados ​​por la transferencia de muestras. 3. Análisis de fallas de la etapa de muestra multifuncional: integración de procesos de análisis, pruebas eléctricas y de extracción de sitios atómicos en sistemas FIB y TEM para mejorar la tasa de éxito y la eficiencia. Más, Ventajas técnicas de la platina de muestra multifuncional 1. Integración y automatización de la platina de muestra multifuncional: reduce la complejidad de la operación manual a través del diseño modular, admite el movimiento general y el posicionamiento preciso en el entorno de vacío. 2. Alta confiabilidad de la etapa de muestra multifuncional: uso de interfaces de brida estándar (como CF50/CF40) para garantizar el sellado y la compatibilidad. 3. Personalización de la mesa de muestra multifuncional: el material de calentamiento, la longitud de la carrera y el tipo de soporte de muestra (como tipo de bayoneta de 3 mordazas, tipo de horquilla inferior) se pueden seleccionar según las necesidades. En general, la platina de muestra multifuncional es un equipo clave para la investigación y el microanálisis de materiales, comúnmente utilizado en instrumentos de difracción de rayos X. Su valor reside en su integración funcional, flexibilidad operativa y adaptabilidad a requisitos experimentales complejos. La selección específica debe ajustarse a los módulos y parámetros de rendimiento correspondientes según los escenarios de aplicación reales (como tecnología de película delgada, análisis de microscopía electrónica o análisis de fallos).

Funciones principales y escenarios de aplicación de los accesorios de batería originales Posicionamiento funcional de los accesorios de batería originales: 1. Implementar pruebas en tiempo real durante los procesos de carga y descarga de la batería (como XRD, observación óptica, etc.) para evitar la pérdida de datos o la contaminación de la muestra causada por el desmontaje tradicional. 2. Simule el entorno de trabajo de baterías reales, admita control de temperatura, adición de electrolitos y garantía de sellado. Escenarios de aplicación típicos de los accesorios de batería originales: 1. Pruebas in situ de XRD: analizan los cambios de fase cristalina de los materiales de los electrodos (como LiFePO4) durante los procesos de carga y descarga. 2.Observación óptica in situ: Observe la reacción de la superficie del electrodo a través de una ventana de berilio (película de poliéster). 3. Prueba de alto rendimiento: admite la investigación del rendimiento de la batería en múltiples condiciones (temperatura, presión, electrolito). 4. Ampliamente utilizado en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos incrustados en metales, etc.    Composición estructural y propiedades de los materiales de los accesorios de batería originales 1.Componentes principales de los accesorios de batería originales: Cubierta de aislamiento inferior: hecha principalmente de cerámica de alúmina o material de politetrafluoroetileno, incluye cámara de instalación y canal de flujo de refrigerante, lo que favorece el control de temperatura. Cubierta conductora superior: diseñada con orificios pasantes, atornillada a la cubierta aislante inferior para formar una ruta de corriente. Electrodo inferior: incluye placa superior y columna de soporte, fijado mediante compresión de resorte mariposa, simplificando el proceso de montaje. Ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable), espesor 0,1 mm (personalizable), utilizada para penetración de rayos X u observación óptica. 2. Mejora técnica de los accesorios de batería originales: Ensamblaje formal: reemplaza los métodos invertidos tradicionales, simplifica el proceso de operación y reduce el impacto de la compresión en los materiales del separador y del electrodo positivo. Refrigeración y calefacción: La cubierta de aislamiento inferior integra un canal de refrigerante o una tubería de cable de resistencia, que admite un control de temperatura de -400 ℃. Diseño de sellado: El resorte de mariposa comprime y fija el electrodo inferior y coopera con el flujo de aire del asiento de instalación para soplar y evitar la formación de escarcha y hielo. Ventajas técnicas de los accesorios de batería originales 1. Operación conveniente de los accesorios de batería originales: La estructura formal reduce el tiempo de operación dentro de la guantera y disminuye la complejidad del montaje. El diseño modular de componentes (como ventanas de berilio reemplazables y mangas de aislamiento) mejora la eficiencia del mantenimiento. 2. Parámetros de rendimiento: Rango de prueba: Rango de temperatura de 0,5 a 160 ℃, resistencia a temperaturas de hasta 400 ℃. Sellado: favorece el almacenamiento estable a largo plazo del electrolito para evitar fugas. Compatibilidad: Adecuado para difractómetros de rayos X y otros equipos.

1、Principales funciones y aplicaciones de los accesorios de fibra: Accesorios de fibra del difractómetro de rayos X: Utilizando el método de difracción (transmisión) de rayos X, se prueban la orientación y la estructura cristalina de la muestra analizando la cristalinidad, el ancho de medio pico y otros datos de la fibra. Accesorios de fibra para espectrómetro infrarrojo por transformada de Fourier: incluye microscopio, reflectancia difusa, reflectancia total atenuada (ATR) y otros accesorios, utilizados para identificación de composición de fibra, determinación de relación de mezcla, análisis de fibra individual, etc. Por ejemplo, el microinfrarrojo puede identificar fibras individuales de dos componentes, y los accesorios ATR son adecuados para análisis de estructura de superficie sin la necesidad de preparación de muestra. 2、Tipos y características comunes de los accesorios de fibra: Accesorios específicos para difractómetros de rayos X: como accesorios de difracción de ángulo pequeño, accesorios de película delgada de luz paralela, accesorios in situ para temperaturas altas/medias-bajas, etc., adecuados para diferentes requisitos de prueba. Algunos instrumentos incluyen funciones como cambiadores automáticos de muestras y mesas de muestras giratorias para mejorar la eficiencia de las pruebas. Accesorios para espectrómetro infrarrojo: incluye herramientas de muestreo de transmisión (como el dispositivo de compresión de bromuro de potasio), accesorios microinfrarrojos (para análisis de fibras individuales), andamios de reflexión difusa (adecuados para fibras opacas) y accesorios ATR (para pruebas rápidas no destructivas), etc. 3、 Escenarios de aplicación típicos de los accesorios de fibra: Investigación de materiales: Analizar la estructura cristalina y la orientación molecular de fibras naturales (algodón, lino, etc.) y fibras químicas (poliéster, acrílico, etc.). Inspección de calidad industrial: se utiliza para determinar la proporción de mezcla de textiles y optimizar la tecnología de procesamiento de fibras (como el monitoreo de la orientación de la tracción). Campo de investigación: Estudiar el dicroísmo de polímeros, orientación del estiramiento del microárea de la fibra, etc. En resumen, los accesorios de fibra son herramientas indispensables para el análisis de materiales y las pruebas de fibra, y su desarrollo se basa en los avances en la tecnología de instrumentos (como XRD y FTIR) y la innovación en el diseño de accesorios. La selección específica depende de los requisitos de las pruebas (como la estructura cristalina y la identificación de la composición) y del modelo del instrumento.

El accesorio de medición integrado multifuncional se utiliza para analizar películas en placas, bloques y sustratos, y puede realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Características funcionales de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión; Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación; Prueba de película delgada (rotación de muestras en el plano) Áreas de aplicación de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Evaluación de estructuras de ensamblajes metálicos tales como placas laminadas; Evaluación de la orientación cerámica; Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada; Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.); Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.); Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas; Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.); Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes. Especificaciones técnicas de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Distancia mínima de paso del eje alfa (inclinación): 0,001 °/paso, rango dinámico: - 45°-90° Paso mínimo del eje β (rotación): 0,001°/paso, rango dinámico: 0° -360° Distancia mínima de paso en el eje z: 0,001 °/paso, rango dinámico: 0-10 mm Tamaño de la muestra: diámetro máximo de 100 mm, espesor ajustable.

El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. El principio básico del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es que cuando la energía de los rayos X resuena con la energía de una capa electrónica interna de un elemento en la muestra, se excita un aumento repentino de electrones para formar un espectro continuo, que se llama el borde de absorción. Cerca del borde de absorción, a medida que aumenta la energía de los rayos X, la tasa de absorción disminuye monótonamente a medida que aumenta la profundidad de penetración de los rayos X. Cuando el espectro se extiende más allá de un borde específico, se pueden observar estructuras finas, donde las regiones de absorción de rayos X cerca del borde (XANES) aparecen tan pronto como los picos y hombros con un ancho superior a 20 a 30 electronvoltios pasan por el punto de inicio del borde. La estructura fina ubicada en el lado de alta energía del borde donde la energía decae a varios cientos de electronvoltios se llama Estructura Fina de Absorción de Rayos X (XAFS). Las principales características del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) son: Sensibilidad al ordenamiento de corto alcance: Depende del ordenamiento de corto alcance y no del de largo alcance, lo que permite medir una amplia gama de muestras. Puede utilizarse para materiales amorfos, líquidos, fundidos, centros activos de catalizadores, proteínas metálicas, etc., así como para estudios estructurales de átomos de impurezas en cristales. Fuertes características elementales: el borde de absorción de rayos X tiene características elementales y, para los átomos de diferentes elementos en la muestra, se puede estudiar la estructura atómica vecina de diferentes elementos en el mismo compuesto ajustando la energía de rayos X incidente. Alta sensibilidad: el método de fluorescencia se puede utilizar para medir muestras de elementos con concentraciones tan bajas como una millonésima. Adquisición integral de información estructural: capaz de proporcionar parámetros que determinan la estructura local, como la distancia entre los átomos absorbentes y los átomos vecinos, el número y tipo de estos átomos y el estado de oxidación de los elementos absorbentes. La preparación de la muestra es sencilla: no se requiere un solo cristal y, en las condiciones experimentales, el tiempo de recolección de datos es relativamente corto. Con una fuente de rayos X de sincrotrón, la medición de una línea espectral suele tardar solo unos minutos. Las principales ventajas del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) son: Ventaja principal: producto con el mayor flujo luminoso Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; Obtenga una calidad de datos equivalente a la radiación de sincrotrón Excelente estabilidad: La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV. Límite de detección del 1%: El alto flujo luminoso, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que aún se puedan obtener datos EXAFS de alta calidad cuando el contenido de elementos medidos es >1%. 4. Áreas de aplicación del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): Campo energético: como la investigación sobre baterías de litio y otros materiales de baterías secundarias, la investigación de celdas de combustible, la investigación de materiales de almacenamiento de hidrógeno, etc. XAFS se puede utilizar para obtener la concentración, el estado de valencia, el entorno de coordinación y los cambios dinámicos de los átomos centrales durante los ciclos de descarga de carga y las reacciones electroquímicas. Campo de catálisis: se utiliza para investigaciones en catálisis de nanopartículas, catálisis de un solo átomo, etc. Obtener la morfología del catalizador sobre el soporte, la forma de interacción con el soporte y sus cambios durante el proceso catalítico a través de XAFS, así como las estructuras vecinas de iones metálicos con contenido extremadamente bajo. En el campo de la ciencia de los materiales, el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) se utiliza para la caracterización de diversos materiales, el estudio de sistemas complejos y materiales estructurales desordenados, la investigación de isótopos radiactivos, el estudio de propiedades relacionadas con materiales de superficie e interfaz y el estudio de cambios dinámicos en materiales. En el campo de la geología, el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) se puede utilizar para el análisis del estado de valencia de los elementos de los materiales minerales en la investigación geológica. Campo ambiental: XES se puede utilizar para el análisis del estado de valencia de elementos Cr/As, etc. En el campo de la radioquímica, el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) se puede utilizar para el análisis del estado de valencia de elementos Ce, U, etc. El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) desempeña un papel fundamental en la investigación científica moderna gracias a su singular principio de funcionamiento, sus importantes características y sus amplios campos de aplicación. Proporciona un medio eficaz para profundizar en la comprensión de la microestructura y el estado químico de la materia, impulsando el desarrollo y el progreso de múltiples disciplinas.

El propósito principal de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT es inspeccionar la calidad del procesamiento y soldadura de materiales y componentes tales como cascos de barcos, tuberías, recipientes de alta presión, calderas, aeronaves, vehículos y puentes en sectores industriales como la defensa nacional, la construcción naval, el petróleo, la química, la mecánica, la industria aeroespacial y la construcción, así como los defectos internos y la calidad inherente de varios metales ligeros, caucho, cerámica, etc. Principio y aplicación de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT: Las máquinas portátiles de ensayos de soldadura por rayos X para END utilizan las propiedades acústicas, ópticas, magnéticas y eléctricas de los materiales para detectar la presencia de defectos o irregularidades en el objeto analizado, sin dañar ni afectar su rendimiento. Proporcionan información como el tamaño, la ubicación, la naturaleza y la cantidad de los defectos. En comparación con los ensayos destructivos, presentan las siguientes características: la primera es no destructiva, ya que no compromete el rendimiento del objeto detectado durante la prueba; la segunda es exhaustiva, ya que la detección no es destructiva, lo que requiere una detección 100% completa del objeto analizado, lo cual no se puede lograr mediante la detección destructiva; la tercera es exhaustiva, y los ensayos destructivos generalmente solo se aplican a las pruebas de materias primas, como las de tracción, compresión, flexión, etc., comúnmente utilizadas en la ingeniería mecánica. Los ensayos destructivos se realizan en materias primas de fabricación, mientras que en el caso de productos terminados y artículos en uso, no se pueden realizar a menos que no se vayan a utilizar. Por otro lado, no perjudican el rendimiento del objeto analizado. Por lo tanto, no solo puede realizar pruebas de proceso completo en materias primas de fabricación, procesos intermedios e incluso productos finales, sino también probar equipos en servicio. Características de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT: El generador de rayos X tiene un volumen pequeño, con un ánodo conectado a tierra y refrigeración forzada mediante un ventilador; ◆ Ligero, fácil de transportar y sencillo de operar; Trabajar y descansar en proporción 1:1; Hermosa apariencia y estructura razonable; ◆ Exposición retardada para garantizar la seguridad del operador; Rango de inspección visual de la máquina de prueba de soldadura por rayos X portátil NDT 1. Inspección de defectos superficiales en las soldaduras. Verifique la calidad de la soldadura, como grietas superficiales, penetración incompleta y fugas en la costura. 2. Comprobación del estado. Compruebe si hay grietas superficiales, desprendimientos, tirones, arañazos, abolladuras, protuberancias, manchas, corrosión u otros defectos. 3. Inspección de la cavidad interna. Cuando ciertos productos (como bombas de engranajes sinfín, motores, etc.) estén en funcionamiento, realice pruebas endoscópicas según los requisitos técnicos especificados. 4. Inspección del ensamblaje. Cuando existan requisitos y necesidades, utilice el mismo videoendoscopio industrial 3D para inspeccionar la calidad del ensamblaje. Tras completar el ensamblaje o un proceso específico, verifique cada componente. Compruebe si la posición de ensamblaje de los componentes cumple con los requisitos de los planos o las especificaciones técnicas y si existe algún defecto de ensamblaje. 5. Inspección de exceso de artículos. Compruebe si hay residuos, objetos extraños u otros residuos dentro de la cavidad del producto.

El irradiador de rayos X WBK-01 genera rayos X de alta energía para irradiar células o animales pequeños. Este irradiador se utiliza en diversas investigaciones básicas y aplicadas. Históricamente, se han utilizado irradiadores de isótopos radiactivos, que requieren el transporte de muestras a una instalación central de irradiación. Hoy en día, se pueden instalar en laboratorios irradiadores de rayos X más pequeños, seguros, sencillos y económicos para una irradiación celular rápida y cómoda. Diversas muestras se pueden irradiar directamente en el laboratorio sin afectar la fertilidad ni la seguridad. El irradiador de rayos X es fácil de usar para personal sin formación profesional en rayos X, y no requiere la solicitud de licencias costosas ni costos de seguridad o mantenimiento de la fuente de radiación. Este dispositivo es fácil de operar, seguro, fiable y económico, y puede sustituir a las fuentes de isótopos radiactivos. 1. Principio del irradiador de rayos X: El tubo de rayos X del irradiador genera electrones de alta energía, que producen rayos X al colisionar con el material objetivo (generalmente tungsteno). Los electrones se aceleran mediante un campo eléctrico de alto voltaje para obtener la energía suficiente para generar la longitud de onda e intensidad de rayos X requeridas. Posteriormente, los rayos X se ajustan y optimizan mediante una serie de colimadores, filtros y otros dispositivos, y finalmente se irradian sobre la muestra. Los componentes principales de un irradiador de rayos X son: El irradiador de rayos X incluye principalmente tubos de rayos X, generadores de alto voltaje, circuitos de control, sistemas de refrigeración, dispositivos de protección y salas de muestras. Entre ellos, el tubo de rayos X es el componente principal responsable de la generación de rayos X; el generador de alto voltaje proporciona el alto voltaje y la corriente necesarios para el tubo de rayos X; el circuito de control se utiliza para controlar parámetros como la generación, la intensidad y el tiempo de irradiación de los rayos X; el sistema de refrigeración garantiza que el equipo no sufra daños por sobrecalentamiento durante el funcionamiento; y el dispositivo de protección garantiza la seguridad de los operadores y del entorno de uso. 3. Áreas de aplicación del irradiador de rayos X: El irradiador de rayos X se puede utilizar en el campo de la biología: se puede utilizar para el cultivo celular y la investigación de inhibición de la división, inducción de cambios genéticos, investigación de células madre, irradiación de animales pequeños, investigación de células de tuberculosis, investigación de células sanguíneas, irradiación de trasplantes de médula ósea, inmunidad de trasplantes, terapia inmunosupresora, investigación de sensibilidad a la radiación, investigación de daños en el ADN, etc. El irradiador de rayos X se puede utilizar en el campo médico: en el tratamiento de tumores, se puede utilizar para irradiar localmente el sitio del tumor, matar células cancerosas o inhibir su crecimiento; el irradiador de rayos X también se puede utilizar como un diagnóstico auxiliar para ciertas enfermedades, como ayudar a determinar la condición al observar los cambios de imagen de los tejidos y órganos a través de rayos X. El irradiador de rayos X se puede utilizar en la industria alimentaria: se puede utilizar para la conservación de alimentos por irradiación, matando microorganismos en los alimentos mediante la irradiación de rayos X, inhibiendo la actividad enzimática, extendiendo así la vida útil de los alimentos manteniendo su sabor y contenido nutricional originales. El irradiador de rayos X se puede utilizar en el campo industrial: se puede utilizar para probar y modificar el rendimiento del material, como el tratamiento de reticulación de materiales poliméricos para mejorar su resistencia y estabilidad; también se puede utilizar para pruebas no destructivas para detectar defectos y grietas dentro de los materiales. En resumen, el irradiador de rayos X es un dispositivo científico e industrial importante con amplias perspectivas de aplicación y valor.

El orientador de cristales por rayos X es un instrumento indispensable para el mecanizado de precisión y la fabricación de dispositivos cristalinos. Utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar con precisión y rapidez el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales (cristales piezoeléctricos, cristales ópticos, cristales láser y cristales semiconductores) y está equipado con una máquina de corte para el corte direccional de dichos cristales. El orientador de cristales por rayos X se utiliza ampliamente en las industrias de investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos. 1. Principio del orientador de cristales de rayos X: El orientador de cristales por rayos X utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar con precisión y rapidez el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales (cristales piezoeléctricos, cristales ópticos, cristales láser y cristales semiconductores). Equipado con una máquina de corte, el orientador de cristales por rayos X permite el corte direccional de los cristales mencionados y es un instrumento indispensable para el mecanizado de precisión y la fabricación de dispositivos cristalinos. El instrumento de orientación de cristales por rayos X tiene una precisión de medición de ± 30 pulgadas, con pantalla digital y una lectura de 10 pulgadas. Puede medir muestras con un diámetro de 1 a 30 kilogramos y de 2 a 8 pulgadas. Visualización de ángulo: modo digital, precisión de medición de ± 30 pulgadas. 2. Características del orientador de cristales de rayos X: Fácil de operar, no requiere conocimientos profesionales ni habilidades especializadas. El ángulo de la pantalla digital es fácil de observar y reduce los errores de lectura. El monitor se puede poner a cero en cualquier posición para visualizar fácilmente los valores de desviación del ángulo del chip. El instrumento de medición de ángulos dual puede funcionar simultáneamente, lo que mejora la eficiencia. El orientador de cristales de rayos X cuenta con un integrador especial con amplificación de picos, que mejora la precisión de detección. La integración del tubo de rayos X y el cable de alta tensión aumenta la fiabilidad de la alta tensión. El detector de alta tensión adopta un módulo de alta tensión de CC y una placa de muestreo de succión al vacío, lo que mejora la precisión y la velocidad de la medición de ángulos. Los componentes principales de un orientador de cristales de rayos X son: Tubo de radiación: normalmente se utiliza un objetivo de cobre como ánodo y se conecta a tierra, mientras que para el enfriamiento se utiliza enfriamiento por aire forzado. Fuente de alimentación de alto voltaje: proporciona alto voltaje y corriente estables para los tubos de rayos X y es uno de los componentes principales de todo el sistema. Detector: se utiliza para recibir fotones de rayos X difractados y convertirlos en señales eléctricas para su posterior procesamiento y análisis. Goniómetro: se utiliza para medir con precisión el ángulo de rotación de muestras de cristal, determinando así la información de orientación del plano de difracción. Sistema de procesamiento de datos: procesa, analiza y almacena las señales de salida del detector para obtener información sobre la estructura cristalina. 4. Áreas de aplicación del orientador de cristales de rayos X: Ciencia de los materiales: Se utiliza para estudiar las estructuras cristalinas de diversos materiales, incluidos metales, cerámicas, semiconductores, etc. Geología: Se utiliza para identificar tipos de minerales, analizar estructuras rocosas, etc. Química: se utiliza para estudiar la estructura y los cambios de los cristales moleculares. Física: se utiliza para explorar la microestructura y las propiedades físicas de la materia. En resumen, con el progreso continuo y la innovación de la ciencia y la tecnología, se cree que habrá más materiales y tecnologías nuevos aplicados en varios campos en el futuro, promoviendo el desarrollo continuo de la sociedad humana.