Elaccesorio de difracción de ángulo pequeñoEs un componente especializado utilizado en instrumentos de difracción de rayos X, principalmente para el análisis de la estructura y el espesor de materiales a nanoescala.

1. Funciones principales deaccesorios de difracción de ángulo pequeño

(1) Rango de ángulo de difracción: cubre un pequeño rango de ángulo de 0°~5°, adecuado para el análisis de difracción de materiales a nanoescala.

(2) Aplicación principal: Puede probar con precisión el espesor de películas multicapa nano y respaldar el estudio de la estructura de la superficie o interfaz del material.

2. Dispositivos compatibles paraaccesorios de difracción de ángulo pequeño

Este accesorio se usa generalmente junto con difractómetros de rayos X (como TD-3500, TD-3700, TDM-20, etc.).

3. Escenarios de aplicación deaccesorios de difracción de ángulo pequeño

(1) Ciencia de los materiales: Caracterización de estructuras de películas de nanofilms y multicapas.

(2) Química e ingeniería química: Tratamiento superficial de materiales, prueba del espesor del recubrimiento.

(3) Otros campos: Análisis a nanoescala de materiales como geología, minerales, cerámica y productos farmacéuticos.

Tecnología Co., Ltd. de Dandong Tongda.La empresa es uno de los principales fabricantes de accesorios para este tipo de instrumentos analíticos de la serie TD, reconocidos por cumplir o estar próximos a cumplir con los estándares internacionales, y exportados a países como Estados Unidos y Azerbaiyán. El accesorio de difracción de ángulo pequeño de la compañía está diseñado específicamente para integrarse perfectamente con sus difractómetros de rayos X de la serie TD, de desarrollo propio. Como herramienta fundamental para el análisis de nanomateriales y la medición del espesor de películas delgadas, este accesorio debe utilizarse junto con instrumentos de difracción de rayos X especializados, y sus aplicaciones se concentran en campos de vanguardia como la ciencia de los materiales y la ingeniería química. Técnicamente, funciona según el principio fundamental de la difracción de rayos X e incorpora tecnología avanzada de controlador lógico programable (PLC) importado, junto con una filosofía de diseño modular heredada de los instrumentos de la serie TD. Este enfoque de ingeniería mejora significativamente el nivel de automatización, la estabilidad operativa y la capacidad antiinterferencias del equipo. Mediante este accesorio, el alcance de las aplicaciones de los difractómetros de rayos X puede ampliarse eficazmente para abarcar la caracterización microestructural de diversos materiales avanzados, incluidas películas delgadas, materiales poliméricos y nanomateriales, lo que proporciona un apoyo técnico vital para la investigación de nanomateriales tanto en el sector científico como en el industrial.