Fundada en 2002, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es una empresa nacional de alta tecnología con instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de pruebas no destructivas de rayos X como sus productos líderes.

Recientemente, el Ministerio de Ciencia y Tecnología anunció la lista del segundo lote de proyectos clave en el marco del Plan Nacional de Investigación y Desarrollo clave de 2023 "Condiciones de investigación científica básica e investigación y desarrollo de instrumentos y equipos científicos importantes".

XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.

La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.

¡Feliz día de la mujer! ¡En este feliz festival, puedes pasar unas felices y agradables vacaciones! ¡Disfruta, tómatelo con calma y descansa! Espero que puedas ser feliz todos los días, ¡ten siempre buen humor!

Para mostrar el buen estilo del vigoroso desarrollo de la Compañía Dandong Tongda, mejorar la amistad y la cohesión, la compañía organizó una actividad de creación de grupos del 30 al 31 de enero de 2024.

La espectroscopia de difracción de rayos X analiza principalmente el estado del cristal y la microestructura de los materiales, y existen dos métodos de medición de difracción de rayos X para el análisis de cristales.

El instrumento de orientación automática de rayos X es un instrumento indispensable para el procesamiento de precisión y la fabricación de dispositivos de cristal. Es ampliamente utilizado en la investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos.

La composición del patrón de difracción es principalmente la posición y la intensidad del pico de difracción, y nuestro análisis del patrón XRD se basa en los cambios en la intensidad y la posición para explicar los cambios en el micro y macro del material.

Un difractómetro de rayos X es un instrumento de precisión que se utiliza para estudiar la estructura cristalina, la morfología y las propiedades de la materia. Durante el proceso de embalaje y transporte, se deben tomar ciertas medidas para garantizar que la seguridad y el rendimiento del instrumento no se vean afectados.