difractómetro de rayos Xse utiliza principalmente para la caracterización de fases, análisis cuantitativo, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, análisis de orientación cristalina de muestras de polvo, bloques o películas delgadas. Medición de tensión macroscópica o tensión microscópica, medición de tamaño de grano, medición de cristalinidad, etc.

Ventajas del difractómetro de rayos X de la serie TD:

1.Con derechos de propiedad intelectual independientes y las patentes de invención nacionales de los programables.

control de controlador lógico (PLC)| tecnología;

2.Fácil operación, sistema de adquisición con un solo botón;

3. Diseño Modular, accesorios de instrumentos plug and play, no requiere calibración;

4.La pantalla táctil se utiliza para el monitoreo en línea en tiempo real para mostrar el estado del instrumento;

5. Dispositivo electrónico de enclavamiento de puerta principal con doble protección para garantizar la seguridad del usuario;

6.Alta frecuencia y alto voltajeradiografíagenerador, rendimiento estable y confiable;

7. Unidad de control de registros avanzada, fuerte capacidad antiinterferencias.

                      TD-3500 XRD TD-3700XRD

                            TDM-20 XRD TDM-10 XRD