El nombre completo de XRD esdifracción de rayos X, que utiliza el fenómeno de difracción de un rayo X en un cristal para obtener la característica de la señal de rayos X después de la difracción, y luego se procesa para obtener ladifracciónpatrón. El uso de información espectral no sólo puede lograr la determinación de la fase del microscopio convencional, sino que también tiene un"ojo en perspectiva"para ver si hay defectos (dislocación) y defectos de red en elcristal.

                          Fig 1 Diagrama de acción del difractómetro de rayos X.

en el mundo dedifractómetro de rayos X, elradiografíaEl sistema de generación (que produce rayos X) es el"sol", el sistema de medición y detección de ángulos es su"ojos", el sistema de registro y procesamiento de datos es su"cerebro", y los tres trabajan juntos para generar el patrón de difracción.

                                  Fig2 Estructura del difractómetro de rayos X