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$Difractómetro$
Difractómetro
1. La precisión del difractómetro es alta. 2. El rango de aplicación del difractómetro es amplio. 3. El difractómetro es fácil de operar, conveniente y eficiente.
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$Difracción de rayos X de monocristal$
Difracción de rayos X de monocristal
1. La máquina de cristal único adopta tecnología de control PLC. 2. Diseño modular, accesorios plug and play. 3. Equipo electrónico de enclavamiento de puertas con doble protección. 4. Tubo de rayos X de cristal único: se puede seleccionar una variedad de blancos, como Cu, Mo, etc. 5. El cristal único adopta una tecnología concéntrica de cuatro círculos para garantizar que el centro de ningún goniómetro permanezca inalterado.
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Analizador de cristales de rayos X en serie
1. El instrumento de rayos X es fácil de operar y rápido para detectar. 2. El instrumento de rayos X es preciso y fiable, con un rendimiento excelente. 3. El aparato de rayos X cuenta con diversos accesorios funcionales para satisfacer las necesidades de diferentes propósitos de prueba.
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$Un difractómetro de rayos X 2D$
Un difractómetro de rayos X 2D
Ventajas: Profundidad de penetración de rayos X continuamente ajustable Capacidad de observar la distribución de planos cristalinos con diferentes orientaciones. Análisis de la distribución de la orientación en muestras como fibras, películas delgadas y polvos. Examen de características estructurales como la distorsión reticular y el tamaño de los cristalitos.
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Estructura fina de absorción de rayos X (XAFS)
El espectrómetro XAFS alcanza una calidad de datos a nivel de sincrotrón con un flujo de >4 millones de fotones/s/eV.<0.1% stability, and a 1% detection limit. It empowers research across energy, catalysis, and materials science.
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Estructura fina de absorción de rayos X
1.XAFS es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales. 2. Campos de aplicación de XAFS: catálisis industrial, nanomateriales, también análisis de calidad, análisis de elementos pesados, etc. 3. Ventajas del producto XAFS: Resolución ultraalta (hasta 0,5 eV), patrón de fluorescencia (base trasera alta de bajo contenido), flujo luminoso ultraalto, límites de detección ultrabajos (hasta 0,3-0,5 %, 10.1039/D2CC05081A)
Estructura fina de absorción de rayos X XAFS Espectro de estructura fina de absorción de rayos X Absorción AnalizadorCorreo electrónico Más