La prueba de rayos X es un método de prueba no destructivo que no daña el objeto en sí y se ha utilizado ampliamente en pruebas de materiales (QC), análisis de fallas (FA), control de calidad (QC), garantía de calidad y confiabilidad (QA/ Control de calidad), investigación y desarrollo (I+D) y otros campos.

A continuación se comparten tres detectores de un solo punto: contador proporcional, contador de centelleo y detector de estado sólido semiconductor.

El analizador de cristales de rayos X es un tipo de instrumento analítico grande para estudiar la microestructura interna de sustancias, utilizado principalmente en la orientación de un solo cristal, detección de defectos, determinación de tensión residual, dislocación de un solo cristal, etc.

Difracción de rayos X, a través de la difracción de rayos X de un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación.

Los instrumentos XRF utilizan rayos X para "excitar" un material con el fin de caracterizar su composición identificando elementos en la muestra (análisis cualitativo) o determinando la resistencia de un elemento en la muestra (análisis cuantitativo).

Este procedimiento es un procedimiento de desarrollo propio. Contiene una variedad de funciones de análisis cuantitativo desarrolladas por nosotros mismos, que están de acuerdo con la teoría de la difracción y se calculan por intensidad integral.

Algunos contenidos relacionados con el "software JADE para analizar y procesar datos XRD".

Hoy compartimos algunos conocimientos sobre "Análisis y procesamiento de datos XRD del software JADE"