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Científicos dirigidos por NTU Singapur han desarrollado y simulado un nuevo método de ahorro de energía que puede producir rayos X altamente enfocados y finamente controlados que son mil veces más potentes que los métodos convencionales.
La intensidad de los rayos X de las pruebas no destructivas en un punto del espacio es la suma del número de fotones y el producto energético sobre una unidad de área perpendicular a la dirección de propagación de los rayos X en la unidad de tiempo.
En el análisis de rayos X, instrumento utilizado para medir el ángulo entre un haz de rayos X incidente y un haz de rayos X difractado. El difractómetro mapea automáticamente la variación de la intensidad de difracción con el ángulo 2θ.
El difractómetro de rayos X policristalino, también conocido como difractómetro de polvo, se utiliza generalmente para medir materiales a granel en polvo, metales policristalinos o polímeros.
Las condiciones de potencia dependen del tubo de rayos X, del material objetivo y del tipo de foco. Aunque los objetivos de Cu se utilizan ampliamente para la difracción, no se recomienda el uso de objetivos de Cu para el análisis de austenita residual debido a la fuerte fluorescencia de los materiales a base de hierro.
Mediante la difracción de rayos X del material y el análisis de su patrón de difracción se obtiene información como la composición del material, la estructura o morfología de los átomos o moléculas internas.
La difracción de rayos X (DRX) es un medio de investigación para obtener información como la composición de un material, la estructura o forma de un átomo o molécula interna analizando su patrón de difracción mediante difracción de rayos X.
Utilizando el principio de difracción de rayos X, el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales se determina de forma precisa y rápida, y la máquina de corte está equipada para el corte direccional de dichos cristales.
La fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF) es una técnica de análisis de elementos superficiales comúnmente utilizada para analizar partículas, residuos e impurezas en superficies lisas.
El analizador de cristales de rayos X es un tipo de instrumento analítico grande para estudiar la microestructura interna de sustancias, utilizado principalmente en la orientación de un solo cristal, detección de defectos, determinación de tensión residual, dislocación de un solo cristal, etc.