La difracción de rayos X (XRD) es un medio de investigación para obtener información como la composición de un material, la estructura o forma de un átomo o molécula interna analizando su patrón de difracción a través dedifracción de rayos X.

Difractómetro de rayos X TDM-20

1. Estructura del instrumento:

El difractómetro de rayos X se compone principalmente de cuatro partes: generador de rayos X, instrumento de medición de ángulos, sistema de medición de intensidad de rayos X y sistema de procesamiento y adquisición de datos de difracción y control del difractómetro.

(1)Generador de rayos X:El generador de rayos X proporciona los rayos X necesarios para medir la fuente de rayos X altamente estable. Cambiar el objetivo del ánodo delTubo de rayos-xPuede cambiar la longitud de onda de los rayos X y ajustar el voltaje del ánodo puede controlar la intensidad de la fuente de rayos X.

(2)Goniómetro:El instrumento de medición de ángulos es el componente central del difractómetro de rayos X, que se compone principalmente de diafragma, rendija de divergencia, rendija receptora, rendija antidispersión, base de muestra y detector de centelleo.

(3)Sistema de medición de intensidad de rayos X:El detector comúnmente utilizado en eldifractómetroEs el contador de centelleo, que utiliza la fluorescencia de longitudes de onda en el rango de luz visible producida por los rayos X en algunas sustancias sólidas (fosforescentes), y esta fluorescencia se convierte en una corriente eléctrica que se puede medir. Dado que la corriente de salida es proporcional a la energía del fotón de rayos X absorbida por el contador, se puede utilizar para medir la intensidad de la línea de difracción.

(4)Sistema de procesamiento y adquisición de datos de difractómetro y control de difractómetro:Una vez completada la operación de escaneo, los datos de difracción originales se almacenan automáticamente en el disco duro de la computadora para su análisis y procesamiento. El análisis y procesamiento de datos incluye la selección del punto de suavizado, la deducción del fondo, la búsqueda automática de picos, el cálculo del valor d, el cálculo de la intensidad del pico de difracción, etc.

2. Características del instrumento:

(1) La combinación perfecta de sistema de hardware y sistema de software para satisfacer las necesidades de diferentes campos de aplicación.

(2) Sistema de medición de ángulos de difracción de alta precisión para obtener resultados de medición más precisos.

(3) Alta estabilidadSistema de control del generador de rayos X.metro, para obtener una precisión de medición repetida más estable.

(4) Programa de exploración geoquímica, diseño de estructura integrada, fácil operación, apariencia más hermosa del instrumento.

3. Apreciación de la morfología típica.