El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y sustancias pastosas. Basado en el principio de difracción de rayos X, permite el análisis cualitativo y cuantitativo, así como el análisis de la estructura cristalina, de materiales policristalinos como muestras en polvo y metálicas. Se aplica ampliamente en industrias como la agricultura, la defensa nacional, la farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la educación/investigación. Principio fundamental: difracción de rayos X, la clave del mundo microscópico El difractómetro de rayos X TDM-20 funciona según el principio de difracción de rayos X. Cuando los rayos X iluminan una muestra, interactúan con los átomos de la misma y se difractan. Las diferentes estructuras cristalinas producen patrones de difracción únicos, similares a las huellas dactilares individuales. Al analizar estos patrones, el instrumento revela con precisión información clave sobre la estructura cristalina de la muestra, la composición de las fases y más, desvelando los secretos ocultos a nivel microscópico. Avance en el rendimiento El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) supera el estándar internacional anterior de 600 W, tras una actualización integral a 1200 W. El instrumento se caracteriza por su fácil manejo, rendimiento estable y bajo consumo energético. Puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alta velocidad, lo que supone un avance significativo en el rendimiento general. Características del dispositivo Tamaño compacto y diseño ligero. Diseño de fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje para un menor consumo general de energía Admite calibración y prueba rápida de muestras Control de circuito simplificado para una fácil depuración e instalación La precisión lineal del ángulo de difracción de espectro completo alcanza ±0,01° Accesorios ricos El TDM-20 se puede combinar con varios accesorios, incluido un detector de matriz 1D, un detector proporcional, un cambiador de muestras automático de 6 posiciones, una platina de muestra giratoria, entre otros. Conclusión El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa), con su excelente rendimiento, facilidad de uso y amplia gama de aplicaciones, se ha convertido en una herramienta indispensable en numerosas industrias y campos de investigación. Actúa como un "detective" del mundo microscópico, ayudándonos a desentrañar los misterios de la estructura de los materiales e impulsando el progreso en diversos ámbitos. Si usted también busca profundizar en los secretos microscópicos de la materia, considere el TDM-20 para embarcarse en un viaje de investigación y producción precisas y eficientes.

El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 es un dispositivo de escritorio compacto que se utiliza principalmente para el análisis de fases de materiales y la investigación de la estructura cristalina. 1. Funciones principales del difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 Análisis de fase de TDM-20: TDM-20 puede realizar análisis cualitativos/cuantitativos en muestras policristalinas como polvos, sólidos y materiales pastosos. Análisis de la estructura cristalina de TDM-20: Basado en el principio de difracción de rayos X, TDM-20 admite el análisis de estructuras cristalinas de muestras de metales, minerales, compuestos, etc. 2. Características técnicas del difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 Alta potencia y rendimiento del TDM-20: gracias a una fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje, la potencia se incrementa a 1600 W. Equipado con nuevos detectores de matriz de alta velocidad o detectores proporcionales para mejorar la eficiencia y precisión de la adquisición de datos. Operación conveniente de TDM-20: el dispositivo es pequeño en tamaño y liviano, adecuado para espacios de laboratorio compactos; admite calibración y pruebas rápidas, con control de circuito simple y fácil instalación y depuración. La precisión y estabilidad del TDM-20: la repetibilidad del ángulo es tan alta como 0,0001 ° y la linealidad del ángulo de difracción de espectro completo es de ± 0,01 °. Escalabilidad del TDM-20: el TDM-20 puede equiparse con un cambiador de muestras automático de 6 dígitos, una platina de muestra giratoria, un sistema de enfriamiento de baja temperatura y accesorios de temperatura alta/media baja in situ para satisfacer diversas necesidades de pruebas. 3. Escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 Los campos de investigación de TDM-20 incluyen la caracterización de la estructura cristalina y el análisis de la transición de fase en la ciencia de los materiales, la geología y la investigación farmacéutica. Aplicaciones industriales de TDM-20: evaluación de la consistencia de medicamentos en la industria farmacéutica, identificación de minerales, análisis de catalizadores petroquímicos, pruebas de seguridad alimentaria (como determinación de la composición de cristales). Educación y Defensa Nacional del TDM-20: Identificación Rápida de Fases en Experimentos de Enseñanza Universitaria y Desarrollo de Material de Defensa Nacional. 4. Fabricantes y accesorios del TDM-20 Fabricante: Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Accesorios opcionales: detector de matriz unidimensional, detector proporcional, cambiador de muestras automático de 6 dígitos, platina de muestra giratoria, monocromador de cristal doblado de grafito, etc. En general, el TDM-20, con su alta potencia, alta precisión y diseño compacto, se ha convertido en una herramienta eficiente para el análisis de fases de laboratorio y se usa ampliamente en los campos de investigación científica, industria y enseñanza.

El minidifractómetro de rayos X TDM-20 es un instrumento analítico de sobremesa de alto rendimiento desarrollado y fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Se utiliza principalmente para el análisis de fases de materiales policristalinos como polvos, sólidos, muestras a granel y pastas. Utilizando el principio de difracción de rayos X, el instrumento permite el análisis cualitativo y cuantitativo, el análisis de la estructura cristalina y otras funciones. Tiene amplias aplicaciones en diversos campos, como la industria, la agricultura, la defensa, la industria farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la investigación educativa. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 supera la limitación convencional de 600 W, ofreciendo una potencia de salida máxima de 1200 W para un rendimiento de alta potencia. Además, incorpora una fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje, lo que resulta en un menor consumo total de energía. Incorpora tecnología de goniómetro de alta precisión con una repetibilidad angular de 0,0001°, una precisión de medición de la posición del pico de difracción de 0,001° y una linealidad del ángulo de difracción de perfil completo de ±0,010°. El instrumento incorpora un sistema de control avanzado basado en tecnología PLC (controlador lógico programable) y un diseño modular para un funcionamiento preciso. Para la detección, puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, lo que mejora significativamente el rendimiento general y la velocidad de adquisición de datos. El TDM-20 también ofrece opciones de configuración muy flexibles, compatible con diversos accesorios, como una platina de muestra giratoria, un detector de matriz 1D y un cambiador automático de muestras de 6 posiciones. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 se caracteriza además por su gran ventaja: es compacto y portátil, ocupa poco espacio y es ligero. Es reconocido como uno de los difractómetros de rayos X de sobremesa más pequeños del mundo, lo que lo hace ideal para entornos de laboratorio con espacio limitado. Además, el instrumento cuenta con un triple sistema de aislamiento antiinterferencias. La radiación de fuga de rayos X se mantiene a ≤ 0,12 μSv/h, lo que garantiza el cumplimiento de la norma de protección GBZ 115-2002. Por lo tanto, el uso del minidifractómetro de rayos X TDM-20 es seguro y fiable. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 combina alta potencia, alta precisión y un diseño compacto en una sola plataforma. Supera las limitaciones de los difractómetros de rayos X tradicionales a gran escala, ofreciendo una solución de análisis de materiales eficiente, práctica y fiable para diversas industrias. Gracias a su avanzado rendimiento técnico, su completo servicio técnico y su flexible funcionamiento, el TDM-20 es una potente herramienta para el análisis de materiales en laboratorio. Si necesita equipos de difracción de rayos X, le invitamos a elegir los productos de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.

El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El XRD de sobremesa utiliza el principio del difractómetro de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. La carga de un nuevo detector de matriz de alto rendimiento ha dado lugar a una mejora significativa en el rendimiento de la difracción de rayos X de sobremesa. Los equipos XRD de sobremesa tienen un volumen pequeño y son ligeros; La potencia de trabajo de la fuente de alimentación de alto voltaje de Benchtop XRD puede alcanzar los 1600 vatios; El XRD de sobremesa puede calibrar y probar muestras rápidamente; El control del circuito XRD de sobremesa es simple y fácil de depurar e instalar; La repetibilidad del ángulo XRD de sobremesa puede alcanzar 0,0001.

Debido a las diferentes condiciones de cristalización, las partículas de las muestras de fármacos en polvo tendrán diferentes morfologías.

La difracción de rayos X (DRX) es un medio de investigación para obtener información como la composición de un material, la estructura o forma de un átomo o molécula interna analizando su patrón de difracción mediante difracción de rayos X.

En agosto de 2023, bajo el liderazgo de la empresa, la gran familia de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. en la provincia de Liaoning celebró una cena al aire libre en vísperas de fin de mes.