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Capacidad de análisis de tensiones residuales de los difractómetros de polvo

La difracción de rayos X (DRX) en polvo permite el análisis no destructivo de tensiones residuales mediante la detección de la deformación reticular mediante desplazamientos de picos de difracción, utilizando el método ψ fijo y la ley de Hooke. Es fundamental para los sectores de materiales, aeroespacial, automotriz y de manufactura.

2026/01/19
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Papel de los difractómetros de rayos X de sobremesa en el control de calidad

Los difractómetros de rayos X de sobremesa son esenciales para el control de calidad, ya que proporcionan un análisis preciso y no destructivo de la estructura cristalina, la composición y la tensión de los materiales. Permiten la detección de defectos, la optimización de procesos y el análisis de fallos en las áreas de I+D y producción, mejorando así la eficiencia, la fiabilidad y el cumplimiento normativo.

2026/01/16
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¿Cómo revela un difractómetro de rayos X de monocristal la estructura tridimensional de las moléculas?

Un difractómetro de rayos X monocristalino revela la estructura atómica tridimensional mediante el análisis de patrones de difracción de rayos X (Ley de Bragg). Mediante la recopilación de datos, la transformación de Fourier y el refinamiento del modelo, genera mapas de densidad electrónica para determinar las configuraciones moleculares.

2026/01/15
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Diseño experimental de espectroscopia de absorción de rayos X: directrices para la preparación de muestras y la optimización de los parámetros de medición

Esta guía detalla el diseño de experimentos XAS, haciendo hincapié en la preparación uniforme de muestras (p. ej., molienda, dilución, manipulación inerte) y el control preciso de las mediciones (p. ej., rangos de escaneo, parámetros del haz, promediado de datos). Una ejecución correcta garantiza datos fiables sobre la estructura atómica local, vital para la investigación en catálisis y materiales energéticos.

2026/01/13
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Espectroscopia de absorción de rayos X (XAS): una guía completa de fundamentos y métodos experimentales

XAS, una técnica avanzada basada en sincrotrón, analiza la absorción de rayos X para revelar estados electrónicos locales y estructuras geométricas a escala atómica (a través de XANES y EXAFS) de forma no destructiva y se utiliza ampliamente en la investigación de materiales y energía.

2026/01/12
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Cómo cultivar monocristales de alta calidad para difracción monocristalina

Un monocristal de calidad para difracción de rayos X requiere una elección óptima del solvente (solubilidad/volatilidad moderadas), un método de crecimiento adecuado (evaporación/difusión), una alta pureza de la muestra y un entorno libre de vibraciones para garantizar una morfología bien definida y defectos mínimos.

2026/01/09
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Difractómetro monocristalino de rayos X: métodos para eliminar la interferencia de difracción de orden superior

Este artículo detalla una estrategia integral de tres frentes para eliminar la interferencia por difracción de orden superior en el análisis de monocristales de rayos X. Los métodos incluyen la filtración de hardware en la fuente mediante monocromadores y rendijas, la optimización de parámetros durante la recopilación de datos para suprimir la detección y algoritmos de corrección de software para los efectos residuales en el procesamiento de datos. Este enfoque combinado garantiza una determinación de alta precisión de la estructura cristalina mediante el control de los errores de intensidad.

2026/01/08
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¿Cómo decodifica un difractómetro XRD la estructura del material mediante ángulos de difracción?

Los analizadores XRD utilizan la Ley de Bragg para medir los ángulos de difracción, lo que permite la decodificación no destructiva de las fases cristalinas, las constantes reticulares, el tamaño del grano y la tensión de los cambios de espaciado interplanar.

2026/01/07
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Derivación en profundidad de la geometría de difracción y la relación tensión-deformación

Fundamentos físicos del difractómetro de rayos X (para la medición de la tensión): Derivación en profundidad de la geometría de difracción y la relación tensión-deformación

2026/01/06
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Difractómetro de rayos X de alta resolución: El "pionero en ahorro energético" en la construcción de laboratorios ecológicos

La nueva generación de HR-XRD reduce el consumo de energía mediante actualizaciones de hardware, controles inteligentes y gestión completa del ciclo de vida, manteniendo la precisión y reduciendo los costos y las emisiones de los laboratorios ecológicos.

2026/01/05
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Guía de mantenimiento diario y prevención de fallos para difractómetros de rayos X de sobremesa

Esta guía detalla el mantenimiento esencial de los sistemas de difracción de rayos X (DRX) de sobremesa, abarcando la generación de rayos X, la óptica, los detectores y la seguridad. El mantenimiento regular garantiza la precisión, previene fallos y prolonga la vida útil del equipo. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 de Dandong Tongda Technology satisface todas sus necesidades analíticas.

2026/01/04
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Pautas diarias de mantenimiento, cuidado y operación segura para difractómetros de rayos X (versión general)

El mantenimiento de XRD sigue el principio de "Prevención ante todo, inspección regular". Los protocolos de seguridad exigen "Prioridad de protección, procedimientos estandarizados". Las prácticas clave incluyen el control ambiental, el cuidado de los componentes, estrictas comprobaciones de seguridad y un apagado correcto. El cumplimiento garantiza la longevidad del instrumento, la seguridad del operador y la fiabilidad de los datos.

2025/12/31
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