El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. El principio básico del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es que cuando la energía de los rayos X resuena con la energía de una capa electrónica interna de un elemento en la muestra, se excita un aumento repentino de electrones para formar un espectro continuo, que se llama el borde de absorción. Cerca del borde de absorción, a medida que aumenta la energía de los rayos X, la tasa de absorción disminuye monótonamente a medida que aumenta la profundidad de penetración de los rayos X. Cuando el espectro se extiende más allá de un borde específico, se pueden observar estructuras finas, donde las regiones de absorción de rayos X cerca del borde (XANES) aparecen tan pronto como los picos y hombros con un ancho superior a 20 a 30 electronvoltios pasan por el punto de inicio del borde. La estructura fina ubicada en el lado de alta energía del borde donde la energía decae a varios cientos de electronvoltios se llama Estructura Fina de Absorción de Rayos X (XAFS). Las principales características del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) son: Sensibilidad al ordenamiento de corto alcance: Depende del ordenamiento de corto alcance y no del de largo alcance, lo que permite medir una amplia gama de muestras. Puede utilizarse para materiales amorfos, líquidos, fundidos, centros activos de catalizadores, proteínas metálicas, etc., así como para estudios estructurales de átomos de impurezas en cristales. Fuertes características elementales: el borde de absorción de rayos X tiene características elementales y, para los átomos de diferentes elementos en la muestra, se puede estudiar la estructura atómica vecina de diferentes elementos en el mismo compuesto ajustando la energía de rayos X incidente. Alta sensibilidad: el método de fluorescencia se puede utilizar para medir muestras de elementos con concentraciones tan bajas como una millonésima. Adquisición integral de información estructural: capaz de proporcionar parámetros que determinan la estructura local, como la distancia entre los átomos absorbentes y los átomos vecinos, el número y tipo de estos átomos y el estado de oxidación de los elementos absorbentes. La preparación de la muestra es sencilla: no se requiere un solo cristal y, en las condiciones experimentales, el tiempo de recolección de datos es relativamente corto. Con una fuente de rayos X de sincrotrón, la medición de una línea espectral suele tardar solo unos minutos. Las principales ventajas del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) son: Ventaja principal: producto con el mayor flujo luminoso Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; Obtenga una calidad de datos equivalente a la radiación de sincrotrón Excelente estabilidad: La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV. Límite de detección del 1%: El alto flujo luminoso, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que aún se puedan obtener datos EXAFS de alta calidad cuando el contenido de elementos medidos es >1%. 4. Áreas de aplicación del espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): Campo energético: como la investigación sobre baterías de litio y otros materiales de baterías secundarias, la investigación de celdas de combustible, la investigación de materiales de almacenamiento de hidrógeno, etc. XAFS se puede utilizar para obtener la concentración, el estado de valencia, el entorno de coordinación y los cambios dinámicos de los átomos centrales durante los ciclos de descarga de carga y las reacciones electroquímicas. Campo de catálisis: se utiliza para investigaciones en catálisis de nanopartículas, catálisis de un solo átomo, etc. Obtener la morfología del catalizador sobre el soporte, la forma de interacción con el soporte y sus cambios durante el proceso catalítico a través de XAFS, así como las estructuras vecinas de iones metálicos con contenido extremadamente bajo. En el campo de la ciencia de los materiales, el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) se utiliza para la caracterización de diversos materiales, el estudio de sistemas complejos y materiales estructurales desordenados, la investigación de isótopos radiactivos, el estudio de propiedades relacionadas con materiales de superficie e interfaz y el estudio de cambios dinámicos en materiales. En el campo de la geología, el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) se puede utilizar para el análisis del estado de valencia de los elementos de los materiales minerales en la investigación geológica. Campo ambiental: XES se puede utilizar para el análisis del estado de valencia de elementos Cr/As, etc. En el campo de la radioquímica, el espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) se puede utilizar para el análisis del estado de valencia de elementos Ce, U, etc. El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) desempeña un papel fundamental en la investigación científica moderna gracias a su singular principio de funcionamiento, sus importantes características y sus amplios campos de aplicación. Proporciona un medio eficaz para profundizar en la comprensión de la microestructura y el estado químico de la materia, impulsando el desarrollo y el progreso de múltiples disciplinas.

El espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. El principio del espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): El espectro de estructura fina de absorción de rayos X se refiere a los espectros de alta resolución cerca de los bordes característicos de los electrones del núcleo atómico que absorben rayos X. Cuando la energía de los rayos X es igual a la energía de excitación de los electrones de la capa interna del elemento medido, estos sufrirán una fuerte absorción, lo que resulta en un límite de absorción (o borde de absorción). Cerca del borde de absorción, debido a la dispersión múltiple y otras razones, el coeficiente de absorción de los rayos X presentará fenómenos oscilatorios, concretamente, la estructura fina. 2. Principales ventajas del espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): (1) El producto de flujo luminoso más alto, con un flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV y una eficiencia espectral varias veces mayor que otros productos; Obtener una calidad de datos equivalente a la radiación de sincrotrón (2) Excelente estabilidad, la estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que 0,1% y la deriva de energía repetida es inferior a 50 meV. (3) El límite de detección del 1%, el alto flujo de luz, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que aún se puedan obtener datos EXAFS de alta calidad cuando el contenido de elementos medidos es >1%. 3. Áreas de aplicación de XAFS: Catálisis industrial, materiales de almacenamiento de energía, nanomateriales, toxicología ambiental, análisis cualitativo, análisis de elementos pesados, etc. 4. Características principales de XAFS: (1) Ordenamiento de corto alcance: EXAFS se basa en interacciones de corto alcance y no en el ordenamiento de largo alcance. XAFS permite estudiar la estructura de sistemas desordenados, como centros activos amorfos, líquidos, fundidos y catalizadores. (2) Especificidad del elemento: El método de fluorescencia permite medir muestras de elementos con concentraciones tan bajas como una millonésima. Ajustando la energía incidente de los rayos X, se pueden estudiar las estructuras vecinas de los átomos de diferentes elementos en el mismo compuesto. (3) Características de polarización: Los rayos X polarizados se pueden utilizar para medir ángulos de enlace atómico y estructuras superficiales en muestras orientadas. El espectro de estructura fina de absorción de rayos X, con sus principios únicos, características significativas y amplios campos de aplicación, se ha convertido en una herramienta indispensable e importante en múltiples campos como la ciencia de los materiales, la química catalítica y la investigación energética, proporcionando un fuerte apoyo para la exploración en profundidad de las microestructuras de los materiales y los estados electrónicos.

El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.

El espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta analítica que se utiliza para estudiar la estructura y las propiedades de las sustancias. XAFS obtiene información sobre los átomos y las moléculas de una muestra midiendo la absorción de rayos X de la muestra dentro de un rango de energía específico. XAFS es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales. La tecnología XAFS se usa ampliamente en la ciencia de los materiales, la química, la biología y otros campos, especialmente en áreas de investigación como catálisis, baterías, sensores, etc. XAFS tiene un valor de aplicación importante. A través de la tecnología XAFS, los investigadores pueden obtener una comprensión más profunda de la microestructura y las propiedades de las muestras, lo que proporciona un poderoso soporte para el diseño y la optimización de nuevos materiales.

El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizado en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. Ventajas principales de XAFS: Producto con el flujo luminoso más alto: Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; obtención de datos con una calidad equivalente a la radiación de sincrotrón Excelente estabilidad: La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV. Límite de detección del 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

Utilizando el método de difracción (transmisión) de rayos X para probar la estructura cristalina única de las fibras. Pruebe la orientación de la muestra basándose en datos como la textura de la fibra y el ancho del medio pico.

Los datos recopilados mediante equipos de baja temperatura producen resultados más ideales. Con la ayuda de equipos de baja temperatura, se pueden proporcionar condiciones más ventajosas, que pueden permitir que los cristales indeseables obtengan resultados ideales, así como que los cristales ideales obtengan resultados más ideales.

θ - Estructura θ, la muestra permanece estacionaria mientras la fuente de radiación y el detector giran; Adopción de transmisión de cojinetes de alta precisión importada, con buena estabilidad; Control de sistema servo con accionamiento vectorial de circuito completamente cerrado y alta precisión. Contiene un microprocesador RISC de 32 bits y un codificador magnético de alta resolución para corrección automática de errores;

La estructura cristalina de las películas de perovskita modificadas por BMIMAc de líquido iónico (IL) bajo diferentes duraciones de recocido se caracterizó mediante difracción de rayos X.

El análisis del material de la batería ayuda a comprender y optimizar el rendimiento de la batería, mejorar la seguridad y la vida útil de la batería, reducir costos y promover el desarrollo y la aplicación de nuevos materiales.

La espectroscopia de absorción de rayos X es una técnica espectral para analizar la composición elemental y los estados electrónicos de los materiales mediante el uso de los cambios de señal antes y después de la incidencia de los rayos X de radiación sincrotrón.