El espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. El principio del espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): El espectro de estructura fina de absorción de rayos X se refiere a los espectros de alta resolución cerca de los bordes característicos de los electrones del núcleo atómico que absorben rayos X. Cuando la energía de los rayos X es igual a la energía de excitación de los electrones de la capa interna del elemento medido, estos sufrirán una fuerte absorción, lo que resulta en un límite de absorción (o borde de absorción). Cerca del borde de absorción, debido a la dispersión múltiple y otras razones, el coeficiente de absorción de los rayos X presentará fenómenos oscilatorios, concretamente, la estructura fina. 2. Principales ventajas del espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS): (1) El producto de flujo luminoso más alto, con un flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV y una eficiencia espectral varias veces mayor que otros productos; Obtener una calidad de datos equivalente a la radiación de sincrotrón (2) Excelente estabilidad, la estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que 0,1% y la deriva de energía repetida es inferior a 50 meV. (3) El límite de detección del 1%, el alto flujo de luz, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan que aún se puedan obtener datos EXAFS de alta calidad cuando el contenido de elementos medidos es >1%. 3. Áreas de aplicación de XAFS: Catálisis industrial, materiales de almacenamiento de energía, nanomateriales, toxicología ambiental, análisis cualitativo, análisis de elementos pesados, etc. 4. Características principales de XAFS: (1) Ordenamiento de corto alcance: EXAFS se basa en interacciones de corto alcance y no en el ordenamiento de largo alcance. XAFS permite estudiar la estructura de sistemas desordenados, como centros activos amorfos, líquidos, fundidos y catalizadores. (2) Especificidad del elemento: El método de fluorescencia permite medir muestras de elementos con concentraciones tan bajas como una millonésima. Ajustando la energía incidente de los rayos X, se pueden estudiar las estructuras vecinas de los átomos de diferentes elementos en el mismo compuesto. (3) Características de polarización: Los rayos X polarizados se pueden utilizar para medir ángulos de enlace atómico y estructuras superficiales en muestras orientadas. El espectro de estructura fina de absorción de rayos X, con sus principios únicos, características significativas y amplios campos de aplicación, se ha convertido en una herramienta indispensable e importante en múltiples campos como la ciencia de los materiales, la química catalítica y la investigación energética, proporcionando un fuerte apoyo para la exploración en profundidad de las microestructuras de los materiales y los estados electrónicos.

El espectrómetro de estructura fina por absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizada en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología.

El espectro de estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta analítica que se utiliza para estudiar la estructura y las propiedades de las sustancias. XAFS obtiene información sobre los átomos y las moléculas de una muestra midiendo la absorción de rayos X de la muestra dentro de un rango de energía específico. XAFS es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales. La tecnología XAFS se usa ampliamente en la ciencia de los materiales, la química, la biología y otros campos, especialmente en áreas de investigación como catálisis, baterías, sensores, etc. XAFS tiene un valor de aplicación importante. A través de la tecnología XAFS, los investigadores pueden obtener una comprensión más profunda de la microestructura y las propiedades de las muestras, lo que proporciona un poderoso soporte para el diseño y la optimización de nuevos materiales.

El espectrómetro de estructura fina de absorción de rayos X es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, ampliamente utilizado en campos populares como la catálisis, la energía y la nanotecnología. Ventajas principales de XAFS: Producto con el flujo luminoso más alto: Flujo de fotones superior a 1000000 fotones/segundo/eV, con una eficiencia espectral varias veces superior a la de otros productos; obtención de datos con una calidad equivalente a la radiación de sincrotrón Excelente estabilidad: La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía durante la recolección repetida es inferior a 50 meV. Límite de detección del 1%: High luminous flux, excellent optical path optimization, and excellent light source stability ensure high-quality EXAFS data is obtained even when the measured element content is>1%。

Utilizando el método de difracción (transmisión) de rayos X para probar la estructura cristalina única de las fibras. Pruebe la orientación de la muestra basándose en datos como la textura de la fibra y el ancho del medio pico.

Los datos recopilados mediante equipos de baja temperatura producen resultados más ideales. Con la ayuda de equipos de baja temperatura, se pueden proporcionar condiciones más ventajosas, que pueden permitir que los cristales indeseables obtengan resultados ideales, así como que los cristales ideales obtengan resultados más ideales.

θ - Estructura θ, la muestra permanece estacionaria mientras la fuente de radiación y el detector giran; Adopción de transmisión de cojinetes de alta precisión importada, con buena estabilidad; Control de sistema servo con accionamiento vectorial de circuito completamente cerrado y alta precisión. Contiene un microprocesador RISC de 32 bits y un codificador magnético de alta resolución para corrección automática de errores;

La estructura cristalina de las películas de perovskita modificadas por BMIMAc de líquido iónico (IL) bajo diferentes duraciones de recocido se caracterizó mediante difracción de rayos X.

El análisis del material de la batería ayuda a comprender y optimizar el rendimiento de la batería, mejorar la seguridad y la vida útil de la batería, reducir costos y promover el desarrollo y la aplicación de nuevos materiales.

La espectroscopia de absorción de rayos X es una técnica espectral para analizar la composición elemental y los estados electrónicos de los materiales mediante el uso de los cambios de señal antes y después de la incidencia de los rayos X de radiación sincrotrón.

XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.