El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y sustancias pastosas. Basado en el principio de difracción de rayos X, permite el análisis cualitativo y cuantitativo, así como el análisis de la estructura cristalina, de materiales policristalinos como muestras en polvo y metálicas. Se aplica ampliamente en industrias como la agricultura, la defensa nacional, la farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la educación/investigación. Principio fundamental: difracción de rayos X, la clave del mundo microscópico El difractómetro de rayos X TDM-20 funciona según el principio de difracción de rayos X. Cuando los rayos X iluminan una muestra, interactúan con los átomos de la misma y se difractan. Las diferentes estructuras cristalinas producen patrones de difracción únicos, similares a las huellas dactilares individuales. Al analizar estos patrones, el instrumento revela con precisión información clave sobre la estructura cristalina de la muestra, la composición de las fases y más, desvelando los secretos ocultos a nivel microscópico. Avance en el rendimiento El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa) supera el estándar internacional anterior de 600 W, tras una actualización integral a 1200 W. El instrumento se caracteriza por su fácil manejo, rendimiento estable y bajo consumo energético. Puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alta velocidad, lo que supone un avance significativo en el rendimiento general. Características del dispositivo Tamaño compacto y diseño ligero. Diseño de fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje para un menor consumo general de energía Admite calibración y prueba rápida de muestras Control de circuito simplificado para una fácil depuración e instalación La precisión lineal del ángulo de difracción de espectro completo alcanza ±0,01° Accesorios ricos El TDM-20 se puede combinar con varios accesorios, incluido un detector de matriz 1D, un detector proporcional, un cambiador de muestras automático de 6 posiciones, una platina de muestra giratoria, entre otros. Conclusión El difractómetro de rayos X TDM-20 (XRD de sobremesa), con su excelente rendimiento, facilidad de uso y amplia gama de aplicaciones, se ha convertido en una herramienta indispensable en numerosas industrias y campos de investigación. Actúa como un "detective" del mundo microscópico, ayudándonos a desentrañar los misterios de la estructura de los materiales e impulsando el progreso en diversos ámbitos. Si usted también busca profundizar en los secretos microscópicos de la materia, considere el TDM-20 para embarcarse en un viaje de investigación y producción precisas y eficientes.

El minidifractómetro de rayos X TDM-20 es un instrumento analítico de sobremesa de alto rendimiento desarrollado y fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Se utiliza principalmente para el análisis de fases de materiales policristalinos como polvos, sólidos, muestras a granel y pastas. Utilizando el principio de difracción de rayos X, el instrumento permite el análisis cualitativo y cuantitativo, el análisis de la estructura cristalina y otras funciones. Tiene amplias aplicaciones en diversos campos, como la industria, la agricultura, la defensa, la industria farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la investigación educativa. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 supera la limitación convencional de 600 W, ofreciendo una potencia de salida máxima de 1200 W para un rendimiento de alta potencia. Además, incorpora una fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje, lo que resulta en un menor consumo total de energía. Incorpora tecnología de goniómetro de alta precisión con una repetibilidad angular de 0,0001°, una precisión de medición de la posición del pico de difracción de 0,001° y una linealidad del ángulo de difracción de perfil completo de ±0,010°. El instrumento incorpora un sistema de control avanzado basado en tecnología PLC (controlador lógico programable) y un diseño modular para un funcionamiento preciso. Para la detección, puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, lo que mejora significativamente el rendimiento general y la velocidad de adquisición de datos. El TDM-20 también ofrece opciones de configuración muy flexibles, compatible con diversos accesorios, como una platina de muestra giratoria, un detector de matriz 1D y un cambiador automático de muestras de 6 posiciones. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 se caracteriza además por su gran ventaja: es compacto y portátil, ocupa poco espacio y es ligero. Es reconocido como uno de los difractómetros de rayos X de sobremesa más pequeños del mundo, lo que lo hace ideal para entornos de laboratorio con espacio limitado. Además, el instrumento cuenta con un triple sistema de aislamiento antiinterferencias. La radiación de fuga de rayos X se mantiene a ≤ 0,12 μSv/h, lo que garantiza el cumplimiento de la norma de protección GBZ 115-2002. Por lo tanto, el uso del minidifractómetro de rayos X TDM-20 es seguro y fiable. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 combina alta potencia, alta precisión y un diseño compacto en una sola plataforma. Supera las limitaciones de los difractómetros de rayos X tradicionales a gran escala, ofreciendo una solución de análisis de materiales eficiente, práctica y fiable para diversas industrias. Gracias a su avanzado rendimiento técnico, su completo servicio técnico y su flexible funcionamiento, el TDM-20 es una potente herramienta para el análisis de materiales en laboratorio. Si necesita equipos de difracción de rayos X, le invitamos a elegir los productos de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.

Debido a las diferentes condiciones de cristalización, las partículas de las muestras de fármacos en polvo tendrán diferentes morfologías.

La difracción de rayos X (DRX) es un medio de investigación para obtener información como la composición de un material, la estructura o forma de un átomo o molécula interna analizando su patrón de difracción mediante difracción de rayos X.

En agosto de 2023, bajo el liderazgo de la empresa, la gran familia de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. en la provincia de Liaoning celebró una cena al aire libre en vísperas de fin de mes.