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Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de productos de rayos X, con dos series principales de productos: instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de prueba no destructivos de rayos X. Y en 2013, se convirtió en la unidad de emprendimiento del proyecto especial de difractómetro de cristal único de rayos X de desarrollo de equipos e instrumentos científicos importantes a nivel nacional del Ministerio de Ciencia y Tecnología de China. Nuestra empresa se adhiere a los principios de cliente primero, producto primero y servicio primero, insiste en estar orientado a las personas y cuenta con un sólido equipo científico y tecnológico. Estamos comprometidos a proporcionar a los usuarios productos de alta tecnología de la más alta calidad con tecnología avanzada y brindar un sólido soporte y servicios con instituciones de consultoría técnica y servicio posventa eficientes.
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. está comprometida con la investigación, el desarrollo, la producción y la venta de difractómetros de rayos X. Actualmente, la empresa cuenta con difractómetros de rayos X, difractómetros de escritorio de rayos X, difractómetros de cristal único de rayos X, analizadores de cristales de rayos X y otros productos, que se venden tanto a nivel nacional como internacional y han recibido elogios unánimes de la industria.
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organiza un evento de formación de equipos cada verano para centrarse en la supervivencia y el desarrollo de los empleados, implementar un cuidado humanista que cuide, aprecie y respete a las personas, y estimule la cohesión, el entusiasmo y la vitalidad de los empleados. Tongda Technology Company es un fabricante profesional de instrumentos de análisis de rayos X. La empresa cuenta actualmente con difractómetros de rayos X de la serie TD, difractómetros de rayos X de cristal único, difractómetros de rayos X de escritorio, analizadores de cristales de rayos X y otros productos. El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fase, análisis de la estructura cristalina, análisis de la estructura del material, análisis de la orientación de los cristales, determinación de la tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de grano, determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloque o película.
XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.
La espectroscopia de difracción de rayos X analiza principalmente el estado del cristal y la microestructura de los materiales, y existen dos métodos de medición de difracción de rayos X para el análisis de cristales.
La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.
La tecnología de rayos X desempeña un papel vital en la investigación médica y científica, y los avances recientes en la tecnología de rayos X están permitiendo haces e imágenes más brillantes y potentes de sistemas cada vez más complejos en condiciones del mundo real.
Los cristales, aunque admirados durante mucho tiempo por su regularidad y simetría, no se estudiaron científicamente hasta el siglo XVII. Echemos un vistazo a la historia temprana de la cristalografía.
En los últimos años, ha habido un interés creciente en la medición de muestras biológicas de alta presión. Esto se refleja en el desarrollo de nuevas técnicas de medición de presión diferentes a las implementadas por DAC. Una de ellas es la técnica de congelar cristales bajo presión.