El accesorio de batería in situ es un componente de los accesorios del difractómetro de rayos X. Los accesorios de batería in situ se utilizan ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen materiales compuestos como carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre e insertos metálicos. Rango de prueba: 0,5-160 grados Celsius Resistencia a la temperatura: 400 ℃ Tamaño de la ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable); grosor 0,1 mm (personalizable) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de difractómetros de rayos X, mayorista de analizadores direccionales de rayos X y mayorista de analizadores de cristales de rayos X de la serie X.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de productos de rayos X, con dos series principales de productos: instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de prueba no destructivos de rayos X. Y en 2013, se convirtió en la unidad de ejecución del proyecto de difractómetro monocristalino de rayos X del Proyecto Especial Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Importantes del Ministerio de Ciencia y Tecnología. Nuestra empresa se adhiere a los principios de cliente primero, producto primero y servicio primero, insiste en estar orientada a las personas y cuenta con un sólido equipo tecnológico. Estamos comprometidos a proporcionar a los usuarios productos de alta tecnología de la más alta calidad con tecnología avanzada y a brindar un sólido soporte y servicios a los usuarios con instituciones eficientes de consultoría técnica y servicio posventa.

Los datos recopilados mediante equipos de baja temperatura producen resultados más ideales. Con la ayuda de equipos de baja temperatura, se pueden proporcionar condiciones más ventajosas, que pueden permitir que los cristales indeseables obtengan resultados ideales, así como que los cristales ideales obtengan resultados más ideales.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de productos de rayos X, con dos series principales de productos: instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de prueba no destructivos de rayos X. Y en 2013, se convirtió en la unidad de emprendimiento del proyecto especial de difractómetro de cristal único de rayos X de desarrollo de equipos e instrumentos científicos importantes a nivel nacional del Ministerio de Ciencia y Tecnología de China. Nuestra empresa se adhiere a los principios de cliente primero, producto primero y servicio primero, insiste en estar orientado a las personas y cuenta con un sólido equipo científico y tecnológico. Estamos comprometidos a proporcionar a los usuarios productos de alta tecnología de la más alta calidad con tecnología avanzada y brindar un sólido soporte y servicios con instituciones de consultoría técnica y servicio posventa eficientes.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. está comprometida con la investigación, el desarrollo, la producción y la venta de difractómetros de rayos X. Actualmente, la empresa cuenta con difractómetros de rayos X, difractómetros de escritorio de rayos X, difractómetros de cristal único de rayos X, analizadores de cristales de rayos X y otros productos, que se venden tanto a nivel nacional como internacional y han recibido elogios unánimes de la industria.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organiza un evento de formación de equipos cada verano para centrarse en la supervivencia y el desarrollo de los empleados, implementar un cuidado humanista que cuide, aprecie y respete a las personas, y estimule la cohesión, el entusiasmo y la vitalidad de los empleados. Tongda Technology Company es un fabricante profesional de instrumentos de análisis de rayos X. La empresa cuenta actualmente con difractómetros de rayos X de la serie TD, difractómetros de rayos X de cristal único, difractómetros de rayos X de escritorio, analizadores de cristales de rayos X y otros productos. El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fase, análisis de la estructura cristalina, análisis de la estructura del material, análisis de la orientación de los cristales, determinación de la tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de grano, determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloque o película.

XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.

La espectroscopia de difracción de rayos X analiza principalmente el estado del cristal y la microestructura de los materiales, y existen dos métodos de medición de difracción de rayos X para el análisis de cristales.

La tecnología Micro-CT tiene importantes ventajas en la caracterización de cerámicas, ya que puede revelar la estructura compuesta dentro del material sin dañarla y restaurar la tecnología clave en la producción de cerámicas.

Micro-xrd puede analizar el estado original de la muestra y realizar análisis de fase de varias partes de la muestra. En este artículo, se toma como ejemplo una muestra geológica de lapislázuli para ilustrar mejor el efecto de la microdifracción.

La tecnología de rayos X desempeña un papel vital en la investigación médica y científica, y los avances recientes en la tecnología de rayos X están permitiendo haces e imágenes más brillantes y potentes de sistemas cada vez más complejos en condiciones del mundo real.