El orientador de cristales de rayos X funciona según el principio de difracción de rayos X. El alto voltaje generado por el transformador de alto voltaje actúa sobre el tubo de rayos X, produciendo rayos X. Cuando los rayos X se irradian sobre la muestra, se produce difracción cuando se satisface la condición de difracción de Bragg (n λ = 2dsin θ). Entre ellas, λ es la longitud de onda de los rayos X, d es el espaciamiento entre los planos atómicos dentro del cristal y θ es el ángulo entre los rayos X incidentes y el plano del cristal. La línea de difracción es recibida por el tubo de conteo y mostrada en el microamperímetro del amplificador. Cuando se utiliza un monocromador, la línea de difracción se monocromatiza y luego es recibida por el contador y mostrada en el microamperímetro del amplificador, mejorando así la precisión de la medición. El orientador de cristales de rayos X puede determinar con precisión y rapidez el ángulo de corte de monocristales naturales y artificiales (cristales piezoeléctricos, cristales ópticos, cristales láser, cristales semiconductores) y está equipado con una máquina de corte para el corte direccional de los cristales mencionados anteriormente. El orientador de cristales de rayos X es un instrumento indispensable para el mecanizado de precisión y la fabricación de dispositivos de cristal. El orientador de cristales de rayos X se utiliza ampliamente en las industrias de investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos. El orientador de cristales de rayos X es fácil de operar, no requiere conocimientos profesionales ni técnicas especializadas, muestra el ángulo digitalmente, es fácil de observar y reduce los errores de lectura. La pantalla del instrumento de orientación de cristales de rayos X se puede poner a cero en cualquier posición, lo que facilita la visualización del valor de desviación del ángulo del chip. El instrumento de medición de ángulo dual puede funcionar simultáneamente, lo que mejora la eficiencia. El orientador de cristales de rayos X tiene un integrador especial con amplificación de pico, que mejora la precisión de detección. La integración del tubo de rayos X y el cable de alto voltaje aumenta la confiabilidad del alto voltaje. El detector de alto voltaje adopta un módulo de alto voltaje de CC y una placa de muestra de succión al vacío, lo que mejora la precisión y la velocidad de la medición del ángulo. En general, el orientador de cristales de rayos X es un instrumento de precisión basado en el principio de difracción de rayos X, que proporciona un importante soporte técnico para la investigación de materiales cristalinos y aplicaciones relacionadas al medir con precisión el ángulo de corte de los cristales.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala y un instrumento de rayos X que se utiliza para estudiar la microestructura interna de los materiales. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros reticulares, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristal de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta la tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que puede lograr un funcionamiento confiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje, la elevación y tiene la función de entrenar automáticamente el tubo de rayos X, lo que extiende efectivamente la vida útil del tubo de rayos X y del instrumento de rayos X.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Utiliza el principio de interacción entre los rayos X y el cristal para determinar la disposición atómica dentro del cristal mediante el análisis del patrón de difracción de rayos X. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, la investigación de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristales de rayos X, como instrumento de rayos X, proporciona información valiosa para la investigación en ciencia de materiales y otros campos relacionados. Con el avance continuo de la tecnología y la expansión de las aplicaciones, el analizador de cristales de rayos X seguirá desempeñando un papel importante en la investigación científica y la producción industrial.

El accesorio de batería in situ es un componente de los accesorios del difractómetro de rayos X. Los accesorios de batería in situ se utilizan ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen materiales compuestos como carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre e insertos metálicos. Rango de prueba: 0,5-160 grados Celsius Resistencia a la temperatura: 400 ℃ Tamaño de la ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable); grosor 0,1 mm (personalizable) Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de difractómetros de rayos X, mayorista de analizadores direccionales de rayos X y mayorista de analizadores de cristales de rayos X de la serie X.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de productos de rayos X, con dos series principales de productos: instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de prueba no destructivos de rayos X. Y en 2013, se convirtió en la unidad de ejecución del proyecto de difractómetro monocristalino de rayos X del Proyecto Especial Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Importantes del Ministerio de Ciencia y Tecnología. Nuestra empresa se adhiere a los principios de cliente primero, producto primero y servicio primero, insiste en estar orientada a las personas y cuenta con un sólido equipo tecnológico. Estamos comprometidos a proporcionar a los usuarios productos de alta tecnología de la más alta calidad con tecnología avanzada y a brindar un sólido soporte y servicios a los usuarios con instituciones eficientes de consultoría técnica y servicio posventa.

Los datos recopilados mediante equipos de baja temperatura producen resultados más ideales. Con la ayuda de equipos de baja temperatura, se pueden proporcionar condiciones más ventajosas, que pueden permitir que los cristales indeseables obtengan resultados ideales, así como que los cristales ideales obtengan resultados más ideales.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de productos de rayos X, con dos series principales de productos: instrumentos de análisis de rayos X e instrumentos de prueba no destructivos de rayos X. Y en 2013, se convirtió en la unidad de emprendimiento del proyecto especial de difractómetro de cristal único de rayos X de desarrollo de equipos e instrumentos científicos importantes a nivel nacional del Ministerio de Ciencia y Tecnología de China. Nuestra empresa se adhiere a los principios de cliente primero, producto primero y servicio primero, insiste en estar orientado a las personas y cuenta con un sólido equipo científico y tecnológico. Estamos comprometidos a proporcionar a los usuarios productos de alta tecnología de la más alta calidad con tecnología avanzada y brindar un sólido soporte y servicios con instituciones de consultoría técnica y servicio posventa eficientes.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. está comprometida con la investigación, el desarrollo, la producción y la venta de difractómetros de rayos X. Actualmente, la empresa cuenta con difractómetros de rayos X, difractómetros de escritorio de rayos X, difractómetros de cristal único de rayos X, analizadores de cristales de rayos X y otros productos, que se venden tanto a nivel nacional como internacional y han recibido elogios unánimes de la industria.

Dandong Tongda Technology Co., Ltd. organiza un evento de formación de equipos cada verano para centrarse en la supervivencia y el desarrollo de los empleados, implementar un cuidado humanista que cuide, aprecie y respete a las personas, y estimule la cohesión, el entusiasmo y la vitalidad de los empleados. Tongda Technology Company es un fabricante profesional de instrumentos de análisis de rayos X. La empresa cuenta actualmente con difractómetros de rayos X de la serie TD, difractómetros de rayos X de cristal único, difractómetros de rayos X de escritorio, analizadores de cristales de rayos X y otros productos. El difractómetro de rayos X se utiliza principalmente para el análisis cualitativo y cuantitativo de fase, análisis de la estructura cristalina, análisis de la estructura del material, análisis de la orientación de los cristales, determinación de la tensión macroscópica o microscópica, determinación del tamaño de grano, determinación de la cristalinidad, etc. de muestras de polvo, bloque o película.

XAFS, como técnica de caracterización avanzada para el análisis de la estructura local de materiales, puede proporcionar información de coordinación de la estructura atómica más precisa en el rango estructural de corto alcance que la difracción de cristales de rayos X.