El analizador multifuncional de tensiones residuales, desarrollado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., está diseñado para satisfacer las necesidades de mediciones rápidas y precisas tanto en laboratorio como en campo. Basado principalmente en el principio de difracción de rayos X, permite realizar ensayos no destructivos del estado de tensión residual en el interior de los materiales. Análisis versátil todo en uno Este analizador integra múltiples funciones de análisis de materiales, mejorando significativamente la utilidad y la eficiencia del equipo: Análisis de tensión residual: admite varios modos de medición, como inclinación estándar (omega-inclinación), inclinación estándar (psi-inclinación) y oscilación estándar (oscilación), capaces de determinar tensiones principales y tensiones cortantes para una evaluación integral del estado de tensión. Análisis de austenita retenida: emplea el método de cuatro picos para pruebas de austenita retenida, con cálculo de datos totalmente automatizado para obtener resultados rápidos. Análisis de fase de difracción: se utiliza para analizar estructuras cristalinas, contenido y distribución de composición química, lo que ayuda a los investigadores a obtener conocimientos más profundos sobre la constitución del material. Análisis del tamaño de grano: admite la evaluación del tamaño de grano desde escala nanométrica hasta escala submicrónica, particularmente adecuado para granos finos ≤200 nm. Características técnicas y rendimiento Este instrumento cuenta con múltiples características técnicas orientadas a garantizar precisión, estabilidad y facilidad de uso: Medición y control de alta precisión: utiliza un sistema servoaccionamiento vectorial de circuito completamente cerrado de alta precisión para garantizar la precisión y repetibilidad de la medición. Adquisición de datos eficiente: equipado con un detector de matriz lineal de tira de silicio multicanal, que proporciona un rendimiento sin ruido, medición de alta intensidad y recopilación rápida de datos para mejorar la eficiencia de detección. Diseño portátil: presenta una construcción liviana, lo que lo hace adecuado no solo para entornos de laboratorio sino también para mediciones rápidas en sitio, adaptándose a varios escenarios de prueba. Operación fácil de usar: integra el sistema operativo Windows o funciones de automatización, lo que admite pruebas con un solo clic y visualización de resultados en tiempo real, lo que reduce la barrera operativa. Modularidad y seguridad: Emplea un sistema de control PLC con diseño modular para facilitar su operación y un rendimiento estable. En cuanto a la seguridad, su diseño de rayos X de baja potencia cumple con las normas de seguridad pertinentes, con niveles de radiación significativamente inferiores al límite anual de dosis pública. Amplios campos de aplicación El analizador de tensión residual multifuncional de Dandong Tongda tiene amplias aplicaciones, que cubren casi todos los sectores industriales e instituciones de investigación que requieren la evaluación de las propiedades mecánicas de los materiales: Control de calidad de fabricación: se utiliza para detectar tensiones residuales en piezas estampadas, fundidas y laminadas durante el procesamiento. Industria automotriz: prueba tensiones residuales en componentes críticos como árboles de levas y bielas para garantizar confiabilidad y durabilidad. Aeroespacial: evalúa las cargas de trabajo en áreas críticas de materiales aeroespaciales para evaluar la seguridad. Investigación en ciencia de materiales: aplicable a diversos materiales metálicos (por ejemplo, acero al carbono, acero aleado, aleación de titanio, materiales a base de níquel), vidrio y materiales compuestos para análisis de tensión residual, austenita retenida, fase y tamaño de grano. El analizador multifuncional de tensiones residuales de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. demuestra la experiencia técnica de la compañía en el campo de las pruebas de materiales al integrar múltiples funciones analíticas. Este instrumento ofrece a ingenieros e investigadores una perspectiva del estado de tensión intrínseco de los materiales, lo que ayuda a controlar la calidad del producto en origen, optimizar los parámetros del proceso y, por consiguiente, mejorar la fiabilidad y la durabilidad del producto.

El analizador multifuncional de tensiones residuales, desarrollado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd., está diseñado para satisfacer las necesidades de mediciones rápidas y precisas tanto en laboratorio como en campo. Basado principalmente en el principio de difracción de rayos X, permite realizar ensayos no destructivos del estado de tensión residual en el interior de los materiales. Análisis versátil todo en uno Este analizador integra múltiples funciones de análisis de materiales, mejorando significativamente la utilidad y la eficiencia del equipo: Análisis de tensión residual: admite varios modos de medición, como inclinación estándar (omega-inclinación), inclinación estándar (psi-inclinación) y oscilación estándar (oscilación), capaces de determinar tensiones principales y tensiones cortantes para una evaluación integral del estado de tensión. Análisis de austenita retenida: emplea el método de cuatro picos para pruebas de austenita retenida, con cálculo de datos totalmente automatizado para obtener resultados rápidos. Análisis de fase de difracción: se utiliza para analizar estructuras cristalinas, contenido y distribución de composición química, lo que ayuda a los investigadores a obtener conocimientos más profundos sobre la constitución del material. Análisis del tamaño de grano: admite la evaluación del tamaño de grano desde escala nanométrica hasta escala submicrónica, particularmente adecuado para granos finos ≤200 nm. Características técnicas y rendimiento Este instrumento cuenta con múltiples características técnicas orientadas a garantizar precisión, estabilidad y facilidad de uso: Medición y control de alta precisión: utiliza un sistema servoaccionamiento vectorial de circuito completamente cerrado de alta precisión para garantizar la precisión y repetibilidad de la medición. Adquisición de datos eficiente: equipado con un detector de matriz lineal de tira de silicio multicanal, que proporciona un rendimiento sin ruido, medición de alta intensidad y recopilación rápida de datos para mejorar la eficiencia de detección. Diseño portátil: presenta una construcción liviana, lo que lo hace adecuado no solo para entornos de laboratorio sino también para mediciones rápidas en sitio, adaptándose a varios escenarios de prueba. Operación fácil de usar: integra el sistema operativo Windows o funciones de automatización, lo que admite pruebas con un solo clic y visualización de resultados en tiempo real, lo que reduce la barrera operativa. Modularidad y seguridad: Emplea un sistema de control PLC con diseño modular para facilitar su operación y un rendimiento estable. En cuanto a la seguridad, su diseño de rayos X de baja potencia cumple con las normas de seguridad pertinentes, con niveles de radiación significativamente inferiores al límite anual de dosis pública. Amplios campos de aplicación El analizador de tensión residual multifuncional de Dandong Tongda tiene amplias aplicaciones, que cubren casi todos los sectores industriales e instituciones de investigación que requieren la evaluación de las propiedades mecánicas de los materiales: Control de calidad de fabricación: se utiliza para detectar tensiones residuales en piezas estampadas, fundidas y laminadas durante el procesamiento. Industria automotriz: prueba tensiones residuales en componentes críticos como árboles de levas y bielas para garantizar confiabilidad y durabilidad. Aeroespacial: evalúa las cargas de trabajo en áreas críticas de materiales aeroespaciales para evaluar la seguridad. Investigación en ciencia de materiales: aplicable a diversos materiales metálicos (por ejemplo, acero al carbono, acero aleado, aleación de titanio, materiales a base de níquel), vidrio y materiales compuestos para análisis de tensión residual, austenita retenida, fase y tamaño de grano. El analizador multifuncional de tensiones residuales de Dandong Tongda Technology Co., Ltd. demuestra la experiencia técnica de la compañía en el campo de las pruebas de materiales al integrar múltiples funciones analíticas. Este instrumento ofrece a ingenieros e investigadores una perspectiva del estado de tensión intrínseco de los materiales, lo que ayuda a controlar la calidad del producto en origen, optimizar los parámetros del proceso y, por consiguiente, mejorar la fiabilidad y la durabilidad del producto.

En el campo de la tecnología moderna, muchos productos de alta tecnología, desde sustratos para pantallas de teléfonos inteligentes hasta componentes centrales de generadores láser, se basan en un material fundamental: monocristales sintéticos. La precisión del ángulo de corte de estos cristales determina directamente el rendimiento y la productividad de los productos finales. El analizador de orientación de rayos X es un instrumento indispensable en la fabricación de precisión de dispositivos de cristal. Mediante el principio de difracción de rayos X, mide con precisión y rapidez los ángulos de corte de monocristales naturales y sintéticos, incluyendo cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece una gama de analizadores de orientación de rayos X confiables adaptados a las necesidades de investigación, procesamiento y fabricación de la industria de materiales cristalinos. 01 Máquina versátil para diversas necesidades de orientación de cristales Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda incluyen principalmente modelos como TYX-200 y TYX-2H8. El modelo TYX-200 ofrece una precisión de medición de ±30″, con pantalla digital y una lectura mínima de 10″. El modelo TYX-2H8 es una versión mejorada del TYX-200, con mejoras en la estructura del goniómetro, la guía de carga, la funda del tubo de rayos X, el cuerpo de soporte y una platina de muestra elevada. Estas mejoras permiten al TYX-2H8 manipular muestras de 1 a 30 kg con diámetros de 2 a 8 pulgadas. Conserva la pantalla digital de ángulos y una precisión de medición de ±30″. 02 Características técnicas avanzadas para un funcionamiento sencillo Los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda están diseñados pensando en la practicidad y la fiabilidad. Su fácil manejo no requiere conocimientos especializados ni habilidades avanzadas por parte del operador. El instrumento cuenta con una pantalla digital de ángulos, lo que garantiza mediciones intuitivas y de fácil lectura, minimizando al mismo tiempo el riesgo de lecturas erróneas. La pantalla se puede poner a cero en cualquier posición, lo que permite la lectura directa de la desviación del ángulo de la oblea. Algunos modelos están equipados con goniómetros duales para funcionamiento simultáneo, lo que mejora significativamente la eficiencia de detección. Un integrador especial con amplificación de picos mejora la precisión de la medición. El tubo de rayos X y el cable de alta tensión adoptan un diseño integrado que mejora la fiabilidad de la alta tensión. El sistema de alta tensión del detector utiliza un módulo de alta tensión de CC, y la plataforma de muestreo con succión al vacío mejora aún más la precisión y la velocidad de la medición. 03 Diseños de escenarios de muestra dedicados para diversas necesidades de prueba Para satisfacer los requisitos de medición de muestras con diferentes formas y tamaños, Dandong Tongda ofrece una variedad de etapas de muestra especializadas: Platina de muestra TA: Diseñada para cristales bastoncillos, cuenta con una pista de carga y permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg y un diámetro de 2 a 6 pulgadas (ampliable a 8 pulgadas). Esta platina permite medir superficies de referencia de cristales bastoncillos, así como de cristales oblea. Platina de Muestra TB: Diseñada también para cristales bastoncillos, incluye una pista de carga y rieles de soporte en forma de V. Permite ensayar cristales bastoncillos con un peso de 1 a 30 kg, diámetros de 2 a 6 pulgadas (ampliables a 8 pulgadas) y longitudes de hasta 500 mm. Mide las caras finales de cristales bastoncillos y las superficies de cristales oblea. Platina de Muestra TC: Se utiliza principalmente para detectar las superficies de referencia externas de obleas monocristalinas como silicio y zafiro. Su placa de succión de diseño abierto evita la obstrucción de los rayos X y las imprecisiones de posicionamiento. La bomba de succión de la platina sujeta firmemente obleas de 5 a 20 cm, lo que garantiza una detección precisa. ​ Platina de Muestra TD: Diseñada para mediciones multipunto de obleas como silicio y zafiro. Las obleas se pueden girar manualmente en la platina (p. ej., 0°, 90°, 180°, 270°) para satisfacer las necesidades de medición específicas del cliente. 04 Modelo de alto rendimiento para desafíos de muestras grandes Para la detección de muestras grandes y complejas, los analizadores de orientación por rayos X de Dandong Tongda demuestran un rendimiento excepcional. El modelo TYX-2H8, por ejemplo, es especialmente adecuado para orientar lingotes y varillas de cristal de zafiro. Este instrumento permite la medición de las orientaciones de cristal de zafiro A, C, M y R, con un rango de medición ajustable de 0 a 45° mediante automatización eléctrica. Sus especificaciones técnicas son impresionantes: Tubo de rayos X con objetivo de cobre, ánodo puesto a tierra y refrigeración por aire forzado. Corriente de tubo ajustable: 0–4 mA; voltaje del tubo: 30 kV. Operación mediante control por computadora o pantalla táctil. Movimiento sincronizado del tubo de rayos X y del detector; mesa giratoria accionada eléctricamente. Consumo total de energía: ≤2 kW. Cabe destacar su capacidad para manipular muestras, incluyendo lingotes de cristal de entre 30 y 180 kg de peso, con dimensiones máximas de 350 mm de diámetro y 480 mm de longitud. Estas capacidades lo hacen ideal para la detección de muestras grandes en la mayoría de los entornos industriales. 05 Amplias aplicaciones que respaldan múltiples industrias Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se utilizan ampliamente en diversas industrias involucradas en la investigación, el procesamiento y la fabricación de materiales cristalinos. En la industria de semiconductores, permiten un corte con orientación precisa de obleas de silicio. En el campo de la optoelectrónica, se utilizan para el procesamiento de precisión de sustratos de zafiro, cristales ópticos y cristales láser. En el sector de los materiales piezoeléctricos, garantizan mediciones precisas del ángulo de corte para un rendimiento estable del producto final. Los instrumentos son especialmente adecuados para materiales de zafiro, muy demandados por su dureza, alta transmitancia de luz y excelente estabilidad fisicoquímica. El zafiro se utiliza ampliamente en sustratos LED, pantallas de electrónica de consumo y ventanas ópticas. Los analizadores de orientación de rayos X de Dandong Tongda se han convertido en herramientas esenciales en los campos de investigación y fabricación de materiales cristalinos de China, gracias a su rendimiento confiable, diversas configuraciones y fuerte adaptabilidad. Su diseño modular y la variedad de opciones de escenario de muestra permiten a los usuarios seleccionar configuraciones que satisfacen necesidades específicas, garantizando una alta precisión de detección y mejorando al mismo tiempo la eficiencia del trabajo. Ya sea para instituciones de investigación o para control de calidad de fabricación y optimización de procesos, estos instrumentos brindan un soporte técnico sólido, permitiendo a los usuarios lograr avances en la fabricación de precisión.

El analizador de cristales de rayos X de Dandong Tongda utiliza tecnología avanzada de difracción de rayos X, lo que permite la detección no destructiva de información microestructural en diversos materiales. Ya sea para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la medición de parámetros de red o el análisis de tensiones residuales, este instrumento proporciona datos de prueba precisos y fiables, lo que supone un sólido apoyo para la investigación de materiales y el control de calidad. El instrumento está equipado con un generador de rayos X de alta estabilidad que ofrece un rendimiento excepcional. El voltaje del tubo se puede ajustar con precisión en un rango de 10 a 60 kV, y la corriente del tubo se puede regular de 2 a 60 mA, con una estabilidad máxima de ±0,005 %. Esto garantiza resultados de prueba altamente repetibles y precisos, proporcionando a los investigadores una garantía de datos fiable. El analizador de cristales de rayos X de Dandong Tongda integra control inteligente y protección de seguridad integral. Incorpora un sistema de control automático PLC importado, que permite mediciones temporizadas automáticas sin supervisión. El sistema de protección de seguridad multinivel incluye protecciones contra falta de presión, falta de corriente, sobretensión, sobrecorriente, sobrepotencia, falta de agua y sobretemperatura del tubo de rayos X, lo que garantiza la seguridad de los operadores. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF incorpora una carcasa de tubo vertical con cuatro ventanas que pueden utilizarse simultáneamente. Utiliza tecnología de control PLC importada, que ofrece alta precisión y una sólida capacidad antiinterferencias, garantizando así el funcionamiento fiable del sistema. El PLC controla la conmutación y el ajuste de la alta tensión e incluye una función de entrenamiento automático para el tubo de rayos X, lo que prolonga eficazmente la vida útil tanto del tubo de rayos X como del instrumento. La carcasa de protección radiológica del instrumento está construida con vidrio emplomado de alta densidad y alta transparencia, con fugas de radiación externa muy por debajo de los estándares de seguridad nacionales, lo que permite a los investigadores realizar estudios experimentales en un entorno seguro. Como empresa nacional de alta tecnología, Dandong Tongda Technology Co., Ltd. cuenta con un sistema integral de gestión de calidad y un equipo técnico de I+D. Sus productos no solo satisfacen la demanda del mercado nacional, sino que también se exportan a numerosos países y regiones, lo que demuestra la solidez y la capacidad de fabricación de instrumentos científicos de China. El analizador de cristales de rayos X de Dandong Tongda, con su excelente rendimiento y calidad confiable, se ha convertido en un potente asistente en el campo del análisis de materiales. Ayuda a investigadores e ingenieros a desvelar las capas del mundo material y explorar posibilidades aún más desconocidas.

1. Analizador de cristales de rayos X de la serie TDF Función y aplicación: Esta serie de equipos se utiliza principalmente para estudiar la microestructura interna de los materiales, es adecuada para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros reticulares, el análisis de tensiones residuales, la investigación de la estructura de placas/varillas, el análisis de la estructura de materiales desconocidos y el análisis de dislocación de monocristales. Características técnicas: Como instrumento analítico a gran escala, la serie TDF integra tecnología de difracción de rayos X de alta precisión, que puede proporcionar un análisis profundo de microestructuras y respaldar la investigación y el control de calidad en campos como la ciencia de los materiales, la fabricación de semiconductores y el procesamiento de cristales. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF incorpora tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que garantiza un funcionamiento fiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje y la elevación, y también controla automáticamente el tubo de rayos X, prolongando así su vida útil y la del instrumento. 2. Orientador de cristales de rayos X Función y aplicación: Mediante el principio de difracción de rayos X, se puede determinar con rapidez y precisión el ángulo de corte de monocristales naturales o artificiales (como cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores). Al combinarse con una máquina de corte, se puede lograr un corte direccional. Ampliamente utilizado en las industrias de investigación, procesamiento y fabricación de materiales cristalinos. Ventajas técnicas: Puede reemplazar la tecnología tradicional de irradiación de isótopos radiactivos y completar directamente el análisis direccional de alta precisión en el laboratorio, mejorando la eficiencia y la precisión del procesamiento de cristales.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y barras, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. Un analizador de cristales de rayos X es un instrumento de precisión que utiliza el principio de difracción de rayos X para analizar y determinar la estructura interna y la composición de sustancias. 1. Principio de funcionamiento del analizador de cristales de rayos X: El analizador de cristales de rayos X se basa en la ley de Bragg, que establece que cuando se irradian rayos X sobre un cristal, se produce difracción en un ángulo específico, formando puntos o picos de difracción. Midiendo los ángulos y las intensidades de estas difracciones, se puede inferir la estructura interna y la composición del cristal. 2. Componentes del analizador de cristales de rayos X: (1) Fuente de rayos X del analizador de cristal de rayos X: un dispositivo que genera rayos X, generalmente un tubo de rayos X, que consta de un filamento, un material objetivo y una fuente de alimentación de alto voltaje. Tubo de rayos X del analizador de cristales de rayos X: Potencia nominal: 2,4KW; Tamaño del enfoque (mm2): Enfoque puntual (1 × 1) Enfoque lineal (1 × 10); Materiales objetivo: Cu, Co, Fe, Cr, Mo, W, etc. Generador de alto voltaje del analizador de cristales de rayos X (controlado por PLC importado): Voltaje del tubo: 10-60KV; Corriente del tubo: 2-60 mA; Estabilidad de la tensión del tubo y de la corriente del tubo ≤ ± 0,005%; Potencia nominal de salida: 3KW. Cable de alto voltaje para analizador de cristales de rayos X: Tensión dieléctrica ≥ 100KV; Longitud: 2M. (2) El cristal espectral del analizador de cristales de rayos X: se utiliza para separar rayos X de diferentes longitudes de onda, es un componente clave para lograr la separación espectral. (3) Detector de cristal analizador de rayos X: se utiliza para detectar los rayos X dispersos por la muestra y convertirlos en señales eléctricas para su posterior procesamiento. (4) Instrumento de medición de ángulos del analizador de cristal de rayos X: un instrumento utilizado para la medición precisa del ángulo de difracción, que es uno de los componentes importantes para garantizar la precisión de la medición. (5) El sistema de control y procesamiento de datos del analizador de cristales de rayos X: se utiliza para controlar todo el proceso de análisis, procesar y analizar los datos recopilados. Los instrumentos modernos suelen estar equipados con software para simplificar el proceso de análisis de datos. 3. Características del analizador de cristales de rayos X: El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF incorpora tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que garantiza un funcionamiento fiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje y la elevación, y también controla automáticamente el tubo de rayos X, prolongando así su vida útil y la del instrumento. 4. Áreas de aplicación del analizador de cristales de rayos X Ciencia de los Materiales: Investigar la estructura cristalina, la transición de fase, los defectos, etc. de los materiales para proporcionar un apoyo importante para el desarrollo de nuevos materiales. Química: involucra la química cristalina, la química medicinal, etc., se puede utilizar para analizar estructuras compuestas, estudiar mecanismos de reacciones químicas, etc. Biología: Se utiliza para el análisis estructural de biomoléculas, diseño y selección de fármacos, etc., y es de gran importancia para comprender los procesos de la vida y los mecanismos de las enfermedades. La ciencia ambiental juega un papel importante en el desarrollo de catalizadores, la caracterización de nanomateriales y el análisis de contaminantes. Geología: La identificación de minerales, la investigación de la génesis de rocas, la geocronología y otras áreas de estudio también dependen de los analizadores de cristales de rayos X. El analizador de cristales de rayos X es un instrumento analítico potente y ampliamente utilizado que desempeña un papel fundamental en múltiples campos. Con el continuo avance tecnológico y la continua evolución del mercado, su rendimiento y ámbito de aplicación se verán mejorados y ampliados.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala y un instrumento de rayos X que se utiliza para estudiar la microestructura interna de los materiales. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X analítico a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de sustancias. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros reticulares, la determinación de tensiones residuales, el estudio de la estructura de placas y varillas, el estudio de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristal de rayos X de la serie TDF adopta una manga de tubo vertical y se pueden utilizar cuatro ventanas simultáneamente. El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF adopta la tecnología de control PLC importada, con alta precisión de control y buen rendimiento antiinterferencias, lo que puede lograr un funcionamiento confiable del sistema. El PLC controla el interruptor de alto voltaje, la elevación y tiene la función de entrenar automáticamente el tubo de rayos X, lo que extiende efectivamente la vida útil del tubo de rayos X y del instrumento de rayos X.

El analizador de cristales de rayos X de la serie TDF es un instrumento de rayos X a gran escala que se utiliza para estudiar la microestructura interna de las sustancias. Utiliza el principio de interacción entre los rayos X y el cristal para determinar la disposición atómica dentro del cristal mediante el análisis del patrón de difracción de rayos X. Se utiliza principalmente para la orientación de monocristales, la inspección de defectos, la determinación de parámetros de red, la determinación de la tensión residual, el estudio de la estructura de placas y varillas, la investigación de la estructura de sustancias desconocidas y las dislocaciones de monocristales. El analizador de cristales de rayos X, como instrumento de rayos X, proporciona información valiosa para la investigación en ciencia de materiales y otros campos relacionados. Con el avance continuo de la tecnología y la expansión de las aplicaciones, el analizador de cristales de rayos X seguirá desempeñando un papel importante en la investigación científica y la producción industrial.

El instrumento automático de orientación por rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la estructura cristalina, la orientación y los parámetros de red. Tiene una amplia gama de aplicaciones en la ciencia de los materiales, la geología, la física y la química, especialmente en el estudio de la microestructura y las propiedades de los materiales monocristalinos, policristalinos y de película delgada. A continuación se proporcionará una introducción detallada al principio de funcionamiento, la aplicación y las precauciones operativas del orientador de cristales por rayos X. Con el avance de la tecnología, los dispositivos de instrumentos de orientación de rayos X automáticos continúan mejorando, con una mayor resolución y un funcionamiento más sencillo. Al mismo tiempo, la combinación con otras técnicas analíticas como la microscopía electrónica y el análisis espectroscópico hace que el análisis de la estructura cristalina sea más completo y profundo. Además, los dispositivos analizadores de orientación de rayos X portátiles y de monitoreo en línea se han desarrollado gradualmente, brindando posibilidades de análisis in situ y monitoreo en tiempo real. En resumen, el analizador de orientación por rayos X es una potente herramienta analítica que resulta crucial para comprender y controlar la microestructura de los materiales. Con el continuo desarrollo de la tecnología, su aplicación en diversos campos se hará más extensa y profunda.

El analizador de orientación de rayos X es un dispositivo que utiliza el principio de difracción de rayos X para determinar la orientación de los cristales. Se utiliza ampliamente en campos como la ciencia de los materiales, la geología, la física, etc., para estudiar la estructura cristalina, los parámetros reticulares, los defectos de los cristales, etc. El principio de funcionamiento de un analizador de orientación de rayos X es irradiar un haz de rayos X monocromático sobre el cristal en prueba. Cuando los rayos X interactúan con los átomos del cristal, se produce dispersión. Según la ley de Bragg, cuando la longitud de onda de los rayos X es un múltiplo entero del espaciamiento atómico en un cristal, la luz dispersada interferirá y formará una serie de franjas brillantes y oscuras alternas, conocidas como reflexión de Bragg. Al medir los ángulos y las intensidades de estas reflexiones de Bragg, se puede calcular información como la orientación del cristal y los parámetros de la red. El analizador de orientación de rayos X generalmente incluye las siguientes partes principales: 1. Fuente de rayos X: dispositivo que produce rayos X monocromáticos, normalmente utilizando un tubo de rayos X o una fuente de radiación de sincrotrón. 2. Etapa de muestra: una plataforma utilizada para colocar el cristal a probar, que puede ajustar la posición y el ángulo del cristal. 3. Detector: se utiliza para recibir rayos X dispersos y convertirlos en señales eléctricas. Entre los detectores más comunes se encuentran los contadores de centelleo, los contadores proporcionales, etc. 4. Sistema de adquisición y procesamiento de datos: se utiliza para recopilar señales emitidas por detectores y realizar el procesamiento y análisis de datos. Generalmente incluye analizadores multicanal, computadoras y otros equipos. 5. Sistema de control: se utiliza para controlar el movimiento de la fuente de rayos X, la plataforma de muestra y el detector para lograr la medición de cristales en diferentes direcciones. Mediante el uso de un analizador de orientación de rayos X, los investigadores pueden determinar con precisión la orientación y los parámetros de red de los cristales, lo que les permite comprender mejor su estructura y sus propiedades. Esto es de gran importancia para el desarrollo de nuevos materiales, la exploración geológica, el crecimiento de cristales y otros campos.