El accesorio de medición integrado multifuncional del difractómetro de rayos X (DRX) es un componente clave para el análisis multiescena y multiescala. Gracias a su diseño modular, satisface las necesidades de difracción de polvo, dispersión angular pequeña, análisis de tensiones residuales, ensayos in situ, etc. A continuación, se presentan los accesorios de medición integrados multifuncionales más comunes y sus funciones principales: 1. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de temperatura y ambiente. (1) Función: Admite pruebas de muestras bajo control de alta temperatura, baja temperatura y humedad, y se utiliza para estudiar los cambios en la estructura cristalina de los materiales en diferentes condiciones de temperatura o humedad. (2) Características: Rango de temperatura: desde temperatura ambiente hasta 1500 ℃; Control automático de temperatura y regulación de humedad, adecuado para catálisis in situ, análisis de cambio de fase y otros experimentos. (3) Aplicación: Transición de fase de materiales metálicos, análisis de la cristalinidad de polímeros, investigación sobre la estabilidad térmica de materiales inorgánicos. 2. Muestreador automático y platina de muestra para accesorios de medición integrados multifuncionales (1) Función: Implementa el cambio automático y el posicionamiento preciso de múltiples muestras para mejorar la eficiencia de la prueba. (2) Características: Accesorios de apoyo como mesas de rotación de muestras y mesas de microdifracción para pruebas direccionales de muestras complejas; Colabore con software inteligente para optimizar los parámetros de medición e identificar automáticamente las configuraciones de muestra. (3) Aplicación: Pruebas de muestras por lotes, análisis de películas delgadas o microáreas. 3. Accesorios de medición integrados multifuncionales adecuados para detectores bidimensionales y detectores unidimensionales de alta velocidad (1) Función: Admite la recopilación de datos multidimensionales para mejorar la capacidad de análisis de muestras complejas. (2) Características: Detector unidimensional de alta velocidad, adecuado para difracción de polvo convencional; Detector de matriz de semiconductores bidimensional que puede cambiar entre modos de dimensión cero, unidimensional o bidimensional, ampliando las capacidades de prueba in situ dinámicas o de área micro. (3) Aplicación: Análisis de orientación de cristales de materiales 2D, monitoreo dinámico de reacciones in situ. 4. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de difracción de microárea y tensión residual. (1) Función: Realizar pruebas direccionales en la distribución de tensión o en pequeñas áreas de la superficie de los materiales. (2) Características: Combina el sistema óptico θ/θ con una fuente de rayos X de microfoco para lograr una microdifracción de nivel submilimétrico; medición no destructiva, utilizada para el análisis de tensión de piezas de metal y dispositivos semiconductores. (3) Aplicación: Pruebas de fatiga de componentes aeroespaciales, caracterización de tensiones de películas delgadas de semiconductores. 5. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de automatización y calibración inteligente. (1) Función: Garantizar la precisión y consistencia de las pruebas mediante el reconocimiento de componentes y la tecnología de calibración automática. (2) Características: Configuración de accesorios de reconocimiento automático de código QR, condiciones de prueba óptimas guiadas por software; Programa de calibración completamente automático para reducir errores de operación humana. (3) Aplicación: Cambio de accesorios complejos (como modo de alta temperatura + AXS), operación fácil para principiantes. El diseño de accesorios de los difractómetros de rayos X modernos prioriza la modularidad, la inteligencia y la automatización. Mediante la colaboración entre software y hardware, es posible cambiar rápidamente los accesorios, optimizar los parámetros y estandarizar los datos. Las tendencias futuras incluyen capacidades de análisis de microáreas de mayor precisión, soluciones integradas para pruebas dinámicas in situ y sistemas inteligentes de gestión de accesorios basados ​​en inteligencia artificial.

El accesorio de medición de película óptica paralela es un componente especializado utilizado en difractómetros de rayos X, principalmente para mejorar la intensidad de la señal y la precisión de detección de muestras de película delgada. 1. Funciones principales de los accesorios de medición de película óptica paralela Supresión de interferencias por dispersión: al aumentar la longitud de la rejilla, se filtran más rayos dispersos, se reduce la interferencia de la señal del sustrato en los resultados de difracción de la película delgada y, por lo tanto, se mejora la intensidad de la señal de la película delgada. Mejora de la precisión del análisis de películas delgadas: adecuado para pruebas de espesor y otros escenarios de películas delgadas nano multicapa, combinado con accesorios de difracción de ángulo pequeño, se puede lograr un análisis de difracción de ángulo bajo en el rango de 0° ~ 5°. 2. Características estructurales de los accesorios de medición de película óptica paralela Diseño de rejilla: al extender la longitud de la rejilla, se optimiza la trayectoria de los rayos X, se mejora la capacidad de filtrado de los rayos dispersos y se garantiza la pureza de la señal de difracción de película delgada. 3. Ámbito de aplicación del accesorio de medición de película óptica paralela Investigación en materiales de película delgada: análisis de la estructura cristalina de películas nano multicapa y películas ultradelgadas. Pruebas de semiconductores y recubrimientos: se utilizan para evaluar la uniformidad, la calidad cristalina y otras características de películas delgadas. 4. Equipo compatible para accesorio de medición de película óptica paralela Este accesorio se puede adaptar a varios modelos de difractómetros de rayos X, incluidos: Difractómetro de rayos X TD-3500 Difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 Difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 Difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 En general, el accesorio de medición de película óptica paralela mejora significativamente la calidad de la señal de difracción de muestras de película delgada a través de la optimización estructural y la supresión de dispersión, y se usa ampliamente en la ciencia de los materiales, la fabricación de semiconductores y otros campos, especialmente adecuado para las necesidades de análisis de alta precisión de películas delgadas a nanoescala.

El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

Los accesorios de medición integrados multifuncionales se utilizan para analizar películas sobre placas, bloques y sustratos, y pueden realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Los accesorios de medición integrados multifuncionales suelen estar diseñados para mejorar la funcionalidad del difractómetro de rayos X, lo que les permite adaptarse a necesidades de prueba más diversas. Existe una estrecha relación entre los accesorios de medición integrados multifuncionales y el difractómetro de rayos X. Estos accesorios no solo mejoran la funcionalidad y el rendimiento del difractómetro de rayos X, sino que también mejoran su facilidad de operación y seguridad. En aplicaciones prácticas, los usuarios pueden elegir los accesorios adecuados según sus necesidades específicas para ampliar los escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X y mejorar la eficiencia de la medición.

El accesorio de medición de película óptica paralela es una herramienta especializada para el análisis de difracción de rayos X, que filtra más líneas dispersas al aumentar la longitud de la placa de rejilla, reduciendo así la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorando la intensidad de la señal de la película delgada. En el campo de la ciencia de los materiales, el accesorio de medición de película óptica paralela se usa comúnmente para estudiar la estructura cristalina, el comportamiento de transición de fase y el estado de tensión de los materiales de película delgada. Con el desarrollo de la nanotecnología, el accesorio de medición de película óptica paralela también se ha utilizado ampliamente en pruebas de espesor y análisis de difracción de ángulo pequeño de películas nano multicapa. El diseño y la fabricación del accesorio de medición de película óptica paralela persiguen una alta precisión para cumplir con los requisitos de la investigación científica y la producción industrial para la precisión de los datos. Durante el uso, el accesorio de medición de película óptica paralela debe mantener un alto grado de estabilidad para garantizar la confiabilidad de los resultados de la prueba. Con el avance de la tecnología y el desarrollo de la industria, la demanda de instrumentos analíticos de alta precisión y alta estabilidad aumenta constantemente. Los accesorios de medición de película óptica paralela, como un componente importante, también están experimentando un crecimiento sostenido de la demanda del mercado. Para satisfacer la demanda del mercado y mejorar el rendimiento del producto, la tecnología de los accesorios de medición de película óptica paralela está innovando y mejorando constantemente. Por ejemplo, mejorar el material y el diseño de las placas de rejilla, optimizar el sistema óptico y otros medios pueden mejorar el efecto de filtrado y la capacidad de mejora de la señal. En resumen, los accesorios de medición de película óptica paralela juegan un papel crucial en el análisis de difracción de rayos X. Con el avance de la tecnología y el desarrollo de la industria, sus perspectivas de aplicación serán aún más amplias.

El goniómetro es el corazón del difractómetro de rayos X, y el difractómetro de rayos X de la serie TD tiene una precisión de medición extremadamente alta.