El Accesorio de Medición Integrado Multifuncional de Dandong Tongda es una plataforma de análisis de muestras de alta precisión, montada sobre goniómetros de ángulo amplio, que mejora significativamente las capacidades analíticas de rayos X. Este sistema multieje permite un análisis sofisticado de materiales, incluyendo identificación de fases, pruebas de tensión residual y caracterización de la estructura en el plano de películas delgadas. Con inclinación del eje α (-45°-90°), rotación de 360° del eje β y traslación XYZ (±10 mm) con una resolución de 0,001°/0,001 mm, admite mediciones de figuras polares de transmisión/reflexión y métodos de tensión de isoinclinación/inclinación lateral. Esencial para la investigación avanzada de materiales, facilita el análisis de textura, la evaluación de tensiones y los estudios de películas multicapa en metales, cerámicas y diversos sustratos, lo que lo convierte en una herramienta potente tanto para aplicaciones de investigación como de inspección industrial.

En el campo de la investigación en ciencia de materiales, la medición precisa es clave para descifrar las propiedades de los materiales. El accesorio de medición integrado multifuncional, desarrollado por Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd., es una herramienta de alta precisión diseñada para mejorar las capacidades de análisis por difracción de rayos X. Este accesorio de medición integrado multifuncional está diseñado específicamente para su instalación en goniómetros de gran angular. Su función principal es analizar con precisión materiales en placa, materiales a granel y películas delgadas depositadas sobre sustratos. El accesorio puede realizar diversas tareas de medición, como la detección de fase cristalina, el análisis del grado de orientación y las pruebas de tensión. Es compatible con el análisis de textura, la determinación de la tensión residual y las pruebas de estructura en el plano de películas delgadas, lo que proporciona un amplio soporte de datos para la investigación de materiales. Las principales características técnicas de este accesorio se reflejan en su sistema mecánico de precisión coordinado de múltiples ejes y sus métodos de medición altamente adaptables. El accesorio de medición integrado multifuncional admite mediciones de figuras polares mediante métodos de transmisión o reflexión, lo que ofrece flexibilidad para diferentes muestras y requisitos de prueba. Para las pruebas de tensión, puede emplear tanto el método de inclinación lateral como el de inclinación normal. Para muestras de película delgada, el accesorio también permite realizar pruebas de rotación en el plano, lo que permite un análisis exhaustivo de las estructuras de la película. Su sistema mecánico de precisión asegura una alta precisión de medición y repetibilidad, con incrementos mínimos de paso de 0,001° (para ejes de rotación) y 0,001mm (para ejes de traslación). El alcance de aplicación del accesorio de medición integrado multifuncional es extremadamente amplio y cubre casi todos los campos de fabricación avanzada e I+D que requieren análisis de la estructura del material. En el campo de los materiales metálicos, se utiliza para evaluar la organización colectiva de metales como placas laminadas; en cerámica, se centra en evaluar la orientación de la cerámica. Para materiales de película delgada, el accesorio puede analizar la orientación preferida del cristal de muestras de película y probar la tensión residual de películas multicapa (evaluando propiedades como el desprendimiento de la película). También puede analizar películas de nitruración y oxidación de superficies en películas de materiales superconductores de alta temperatura y placas de metal, así como películas multicapa sobre sustratos de vidrio, silicio y metal. En particular, también se puede aplicar al análisis de materiales macromoleculares, papel, materiales de recubrimiento de lentes y más, lo que demuestra su potencial de aplicación interdisciplinaria. Accesorio de medición

El accesorio de medición integrado multifuncional del difractómetro de rayos X (DRX) es un componente clave para el análisis multiescena y multiescala. Gracias a su diseño modular, satisface las necesidades de difracción de polvo, dispersión angular pequeña, análisis de tensiones residuales, ensayos in situ, etc. A continuación, se presentan los accesorios de medición integrados multifuncionales más comunes y sus funciones principales: 1. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de temperatura y ambiente. (1) Función: Admite pruebas de muestras bajo control de alta temperatura, baja temperatura y humedad, y se utiliza para estudiar los cambios en la estructura cristalina de los materiales en diferentes condiciones de temperatura o humedad. (2) Características: Rango de temperatura: desde temperatura ambiente hasta 1500 ℃; Control automático de temperatura y regulación de humedad, adecuado para catálisis in situ, análisis de cambio de fase y otros experimentos. (3) Aplicación: Transición de fase de materiales metálicos, análisis de la cristalinidad de polímeros, investigación sobre la estabilidad térmica de materiales inorgánicos. 2. Muestreador automático y platina de muestra para accesorios de medición integrados multifuncionales (1) Función: Implementa el cambio automático y el posicionamiento preciso de múltiples muestras para mejorar la eficiencia de la prueba. (2) Características: Accesorios de apoyo como mesas de rotación de muestras y mesas de microdifracción para pruebas direccionales de muestras complejas; Colabore con software inteligente para optimizar los parámetros de medición e identificar automáticamente las configuraciones de muestra. (3) Aplicación: Pruebas de muestras por lotes, análisis de películas delgadas o microáreas. 3. Accesorios de medición integrados multifuncionales adecuados para detectores bidimensionales y detectores unidimensionales de alta velocidad (1) Función: Admite la recopilación de datos multidimensionales para mejorar la capacidad de análisis de muestras complejas. (2) Características: Detector unidimensional de alta velocidad, adecuado para difracción de polvo convencional; Detector de matriz de semiconductores bidimensional que puede cambiar entre modos de dimensión cero, unidimensional o bidimensional, ampliando las capacidades de prueba in situ dinámicas o de área micro. (3) Aplicación: Análisis de orientación de cristales de materiales 2D, monitoreo dinámico de reacciones in situ. 4. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de difracción de microárea y tensión residual. (1) Función: Realizar pruebas direccionales en la distribución de tensión o en pequeñas áreas de la superficie de los materiales. (2) Características: Combina el sistema óptico θ/θ con una fuente de rayos X de microfoco para lograr una microdifracción de nivel submilimétrico; medición no destructiva, utilizada para el análisis de tensión de piezas de metal y dispositivos semiconductores. (3) Aplicación: Pruebas de fatiga de componentes aeroespaciales, caracterización de tensiones de películas delgadas de semiconductores. 5. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de automatización y calibración inteligente. (1) Función: Garantizar la precisión y consistencia de las pruebas mediante el reconocimiento de componentes y la tecnología de calibración automática. (2) Características: Configuración de accesorios de reconocimiento automático de código QR, condiciones de prueba óptimas guiadas por software; Programa de calibración completamente automático para reducir errores de operación humana. (3) Aplicación: Cambio de accesorios complejos (como modo de alta temperatura + AXS), operación fácil para principiantes. El diseño de accesorios de los difractómetros de rayos X modernos prioriza la modularidad, la inteligencia y la automatización. Mediante la colaboración entre software y hardware, es posible cambiar rápidamente los accesorios, optimizar los parámetros y estandarizar los datos. Las tendencias futuras incluyen capacidades de análisis de microáreas de mayor precisión, soluciones integradas para pruebas dinámicas in situ y sistemas inteligentes de gestión de accesorios basados ​​en inteligencia artificial.

El accesorio de medición de películas ópticas paralelas de Dandong Tongda es un componente especializado para difractómetros de rayos X que mejora significativamente el rendimiento de las pruebas de muestras de películas delgadas. Su diseño de rejilla alargada suprime eficazmente la interferencia de dispersión, mejorando la claridad de la señal para películas ultrafinas y nanomulticapa. Este accesorio permite realizar análisis de difracción de ángulo pequeño (0°–5°), lo que posibilita la medición precisa del espesor de la película y las estructuras de la interfaz. Compatible con los difractómetros TD-3500, TD-5000, TD-3700 y TDM-20, garantiza un rendimiento uniforme en todas las plataformas. Esta herramienta, ampliamente utilizada en la inspección de semiconductores, la evaluación de recubrimientos ópticos y la investigación de nuevos materiales energéticos, permite superar desafíos como las señales débiles y el ruido de fondo. Con el avance de las industrias de nanomateriales y semiconductores, este accesorio está destinado a desempeñar un papel cada vez más crucial en la investigación de vanguardia y el control de calidad.

El accesorio de medición integrado multifuncional permite un análisis preciso de textura, tensión y películas delgadas. Admite mapeo de figuras polares, medición de tensión biaxial y rotación en el plano. Ideal para metales, cerámicas, recubrimientos y polímeros. Ofrece una precisión de paso de 0,001° y una capacidad de muestra de Φ100 mm.

El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

Los accesorios de medición integrados multifuncionales se utilizan para analizar películas sobre placas, bloques y sustratos, y pueden realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Los accesorios de medición integrados multifuncionales suelen estar diseñados para mejorar la funcionalidad del difractómetro de rayos X, lo que les permite adaptarse a necesidades de prueba más diversas. Existe una estrecha relación entre los accesorios de medición integrados multifuncionales y el difractómetro de rayos X. Estos accesorios no solo mejoran la funcionalidad y el rendimiento del difractómetro de rayos X, sino que también mejoran su facilidad de operación y seguridad. En aplicaciones prácticas, los usuarios pueden elegir los accesorios adecuados según sus necesidades específicas para ampliar los escenarios de aplicación del difractómetro de rayos X y mejorar la eficiencia de la medición.

El accesorio de medición de película óptica paralela es una herramienta especializada para el análisis de difracción de rayos X, que filtra más líneas dispersas al aumentar la longitud de la placa de rejilla, reduciendo así la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorando la intensidad de la señal de la película delgada. En el campo de la ciencia de los materiales, el accesorio de medición de película óptica paralela se usa comúnmente para estudiar la estructura cristalina, el comportamiento de transición de fase y el estado de tensión de los materiales de película delgada. Con el desarrollo de la nanotecnología, el accesorio de medición de película óptica paralela también se ha utilizado ampliamente en pruebas de espesor y análisis de difracción de ángulo pequeño de películas nano multicapa. El diseño y la fabricación del accesorio de medición de película óptica paralela persiguen una alta precisión para cumplir con los requisitos de la investigación científica y la producción industrial para la precisión de los datos. Durante el uso, el accesorio de medición de película óptica paralela debe mantener un alto grado de estabilidad para garantizar la confiabilidad de los resultados de la prueba. Con el avance de la tecnología y el desarrollo de la industria, la demanda de instrumentos analíticos de alta precisión y alta estabilidad aumenta constantemente. Los accesorios de medición de película óptica paralela, como un componente importante, también están experimentando un crecimiento sostenido de la demanda del mercado. Para satisfacer la demanda del mercado y mejorar el rendimiento del producto, la tecnología de los accesorios de medición de película óptica paralela está innovando y mejorando constantemente. Por ejemplo, mejorar el material y el diseño de las placas de rejilla, optimizar el sistema óptico y otros medios pueden mejorar el efecto de filtrado y la capacidad de mejora de la señal. En resumen, los accesorios de medición de película óptica paralela juegan un papel crucial en el análisis de difracción de rayos X. Con el avance de la tecnología y el desarrollo de la industria, sus perspectivas de aplicación serán aún más amplias.

El goniómetro es el corazón del difractómetro de rayos X, y el difractómetro de rayos X de la serie TD tiene una precisión de medición extremadamente alta.