En el campo de la investigación y el desarrollo de baterías de iones de litio, comprender los cambios dinámicos en la microestructura de los materiales de los electrodos durante los procesos de carga y descarga es crucial. Los métodos tradicionales de detección fuera de línea no pueden capturar estos cambios en tiempo real, mientras que la aparición de técnicas de caracterización in situ proporciona a los investigadores una herramienta poderosa. Aprovechando su experiencia en tecnología de difracción de rayos X (DRX), Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ha desarrollado un accesorio in situ para la investigación de baterías, que ofrece una ventana eficiente para explorar los procesos de reacción dentro de la "caja negra" de las baterías. Principio técnico: Monitoreo dinámico de cambios a microescala en materiales de baterías El objetivo principal del diseño del accesorio de batería original de Dandong Tongda es permitir el monitoreo en tiempo real de la evolución de la estructura cristalina de los materiales de los electrodos utilizando tecnología de difracción de rayos X (XRD) mientras la batería está funcionando normalmente (durante la carga y descarga). Este accesorio suele funcionar en sinergia con un sistema de pruebas electroquímicas (como el sistema de pruebas de baterías LAND) y un difractómetro de rayos X (como el modelo TD-3500 de Tongda Tech). Forma una cámara de batería especializada que permite que los rayos X penetren y exploren los materiales de los electrodos de la batería durante su funcionamiento. La clave reside en el diseño de los materiales de las ventanas (como las ventanas de berilio) con tasas de absorción de rayos X extremadamente bajas en los componentes de la batería, lo que garantiza una incidencia y emisión efectivas de rayos X. Simultáneamente, el accesorio integra los electrodos, el aislamiento y los componentes de sellado necesarios para garantizar reacciones electroquímicas normales y mantener un sellado excelente durante las pruebas. Funciones clave y valor de la aplicación El valor de este accesorio de batería in situ radica en su capacidad de ayudar a los investigadores a observar de forma intuitiva y dinámica una serie de cambios microscópicos en los materiales de los electrodos durante los procesos de carga y descarga de la batería: Observación en tiempo real de los procesos de transición de fase: Muchos materiales de electrodos experimentan transiciones de fase durante la intercalación y desintercalación de iones de litio. La difracción de rayos X in situ permite capturar la formación, desaparición y transformación de estas fases en tiempo real, lo cual es crucial para comprender los mecanismos de reacción de la batería. Monitoreo de los cambios en los parámetros de red: Mediante el seguimiento preciso de los cambios en los picos de difracción de XRD, se pueden calcular cambios sutiles en los parámetros de red, que reflejan la expansión y contracción de la red. Esto está estrechamente relacionado con las métricas de rendimiento de la batería, como las plataformas de voltaje y el ciclo de vida. Descubriendo los mecanismos de disminución de la capacidad: La disminución de la capacidad durante el ciclo de la batería suele estar relacionada con la degradación estructural de los materiales de los electrodos, reacciones secundarias y otros factores. El monitoreo in situ puede correlacionar la degradación del rendimiento electroquímico con cambios estructurales, lo que proporciona información directa para mejorar los materiales de la batería y optimizar el diseño. Aceleración del desarrollo de nuevos materiales: para evaluar nuevos materiales de electrodos, la tecnología XRD in situ puede proporcionar rápidamente información clave sobre la estabilidad estructural y las vías de reacción, acelerando el proceso de I+D.

Originalmente, los accesorios de batería son dispositivos experimentales diseñados específicamente para pruebas electroquímicas, utilizados principalmente para la caracterización in situ de materiales de batería durante los procesos de carga y descarga, comúnmente encontrados en difracción de rayos X (XRD). 1. Funciones principales y escenarios de aplicación de los accesorios de batería originales (1)Prueba original: La monitorización en tiempo real de los cambios en la estructura de fase del material (como la estructura cristalina y la transición de fase) durante la carga y descarga de la batería puede evitar la contaminación de la muestra o los cambios de estado causados ​​por el desmontaje de la batería. Compatible con múltiples sistemas electroquímicos, incluyendo compuestos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, incrustaciones metálicas, etc. (2) Compatibilidad multimodal: Difracción de rayos X (DRX): se utiliza para analizar la evolución estructural de los materiales de los electrodos positivos/negativos durante los procesos de carga y descarga. 2. Composición estructural y características técnicas de los accesorios de batería originales (1) Componentes clave: Cubierta de aislamiento inferior: generalmente hecha de cerámica de alúmina o material de politetrafluoroetileno, que contiene canales de flujo de refrigerante o tuberías de instalación de cables de resistencia, que se utilizan para controlar la temperatura. Cubierta conductora superior: conectada a la cubierta aislante inferior mediante pernos para formar un espacio cerrado, con una ventana de berilio (diámetro 15 mm, espesor 0,1 mm) en la parte superior para transmitir rayos X. Sistema de electrodos: originalmente los accesorios de batería incluyen un electrodo inferior (con una columna de soporte) y un resorte de mariposa, los cuales se conectan eléctricamente a través de fijación por compresión, simplificando el proceso de montaje. (2) Innovación tecnológica: Diseño formal: En comparación con el método invertido tradicional, la estructura formal no requiere ensamblaje giratorio, lo que facilita su operación en la guantera y garantiza la planitud de la ventana de berilio y el diafragma. Sellado y control de temperatura: Tubería de circulación de refrigerante integrada y dispositivo de calentamiento de cable de resistencia, adecuado para un rango de temperatura de -400 ℃ a 400 ℃. 3. Ventajas técnicas de los accesorios de batería originales (1) Operación simplificada: Reduzca los pasos de montaje, disminuya el tiempo de operación dentro de las cajas de guantes y mejore la eficiencia. El resorte de mariposa fija el electrodo sin necesidad de girarlo ni apretarlo, evitando interferencias con la estructura simulada de la batería. (2) Mejora del rendimiento: La alta transmitancia de rayos X (>90%) de las ventanas de berilio garantiza la intensidad de la señal de detección. La etapa de muestra multifuncional admite el cambio automático de muestra y es adecuada para pruebas de alto rendimiento. En general, los accesorios de batería originales son herramientas importantes para la investigación electroquímica, ya que su diseño optimiza el proceso de ensamblaje de las estructuras de simulación de baterías tradicionales y mejora la confiabilidad y aplicabilidad de las pruebas originales.

El accesorio de medición integrado multifuncional del difractómetro de rayos X (DRX) es un componente clave para el análisis multiescena y multiescala. Gracias a su diseño modular, satisface las necesidades de difracción de polvo, dispersión angular pequeña, análisis de tensiones residuales, ensayos in situ, etc. A continuación, se presentan los accesorios de medición integrados multifuncionales más comunes y sus funciones principales: 1. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de temperatura y ambiente. (1) Función: Admite pruebas de muestras bajo control de alta temperatura, baja temperatura y humedad, y se utiliza para estudiar los cambios en la estructura cristalina de los materiales en diferentes condiciones de temperatura o humedad. (2) Características: Rango de temperatura: desde temperatura ambiente hasta 1500 ℃; Control automático de temperatura y regulación de humedad, adecuado para catálisis in situ, análisis de cambio de fase y otros experimentos. (3) Aplicación: Transición de fase de materiales metálicos, análisis de la cristalinidad de polímeros, investigación sobre la estabilidad térmica de materiales inorgánicos. 2. Muestreador automático y platina de muestra para accesorios de medición integrados multifuncionales (1) Función: Implementa el cambio automático y el posicionamiento preciso de múltiples muestras para mejorar la eficiencia de la prueba. (2) Características: Accesorios de apoyo como mesas de rotación de muestras y mesas de microdifracción para pruebas direccionales de muestras complejas; Colabore con software inteligente para optimizar los parámetros de medición e identificar automáticamente las configuraciones de muestra. (3) Aplicación: Pruebas de muestras por lotes, análisis de películas delgadas o microáreas. 3. Accesorios de medición integrados multifuncionales adecuados para detectores bidimensionales y detectores unidimensionales de alta velocidad (1) Función: Admite la recopilación de datos multidimensionales para mejorar la capacidad de análisis de muestras complejas. (2) Características: Detector unidimensional de alta velocidad, adecuado para difracción de polvo convencional; Detector de matriz de semiconductores bidimensional que puede cambiar entre modos de dimensión cero, unidimensional o bidimensional, ampliando las capacidades de prueba in situ dinámicas o de área micro. (3) Aplicación: Análisis de orientación de cristales de materiales 2D, monitoreo dinámico de reacciones in situ. 4. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de difracción de microárea y tensión residual. (1) Función: Realizar pruebas direccionales en la distribución de tensión o en pequeñas áreas de la superficie de los materiales. (2) Características: Combina el sistema óptico θ/θ con una fuente de rayos X de microfoco para lograr una microdifracción de nivel submilimétrico; medición no destructiva, utilizada para el análisis de tensión de piezas de metal y dispositivos semiconductores. (3) Aplicación: Pruebas de fatiga de componentes aeroespaciales, caracterización de tensiones de películas delgadas de semiconductores. 5. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de automatización y calibración inteligente. (1) Función: Garantizar la precisión y consistencia de las pruebas mediante el reconocimiento de componentes y la tecnología de calibración automática. (2) Características: Configuración de accesorios de reconocimiento automático de código QR, condiciones de prueba óptimas guiadas por software; Programa de calibración completamente automático para reducir errores de operación humana. (3) Aplicación: Cambio de accesorios complejos (como modo de alta temperatura + AXS), operación fácil para principiantes. El diseño de accesorios de los difractómetros de rayos X modernos prioriza la modularidad, la inteligencia y la automatización. Mediante la colaboración entre software y hardware, es posible cambiar rápidamente los accesorios, optimizar los parámetros y estandarizar los datos. Las tendencias futuras incluyen capacidades de análisis de microáreas de mayor precisión, soluciones integradas para pruebas dinámicas in situ y sistemas inteligentes de gestión de accesorios basados ​​en inteligencia artificial.

El accesorio de difracción de ángulo pequeño es un componente especializado que se utiliza en instrumentos de difracción de rayos X, principalmente para el análisis de la estructura y el espesor de materiales a nanoescala. 1. Funciones principales de los accesorios de difracción de ángulo pequeño (1) Rango de ángulo de difracción: cubre un rango de ángulo pequeño de 0° a 5°, adecuado para el análisis de difracción de materiales a nanoescala. (2) Aplicación principal: Puede probar con precisión el espesor de películas nano multicapa y respaldar el estudio de la superficie del material o la estructura de la interfaz. 2. Dispositivos compatibles con accesorios de difracción de ángulo pequeño Este accesorio se utiliza normalmente junto con difractómetros de rayos X (como TD-3500, TD-3700, TDM-20, etc.). 3. Escenarios de aplicación de accesorios de difracción de ángulo pequeño (1) Ciencia de los Materiales: Caracterización de Estructuras de Nanopelículas y Películas Multicapa. (2) Química e Ingeniería Química: Tratamiento de Superficies de Materiales, Ensayos de Espesor de Recubrimientos. (3) Otros campos: Análisis a nanoescala de materiales como geología, minerales, cerámica y productos farmacéuticos. 4. Información del fabricante Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es el principal fabricante de este tipo de accesorio, y sus instrumentos analíticos de la serie TD se han destacado por alcanzar o incluso alcanzar los estándares internacionales, exportándose a países como Estados Unidos y Azerbaiyán. En general, los accesorios de difracción de ángulo pequeño son herramientas clave para el análisis de nanomateriales y la medición del espesor de películas delgadas, y deben utilizarse en combinación con instrumentos especializados de difracción de rayos X. Sus aplicaciones se centran en campos de vanguardia como la ciencia de los materiales y la ingeniería química.

El accesorio de medición de película óptica paralela es un componente especializado utilizado en difractómetros de rayos X, principalmente para mejorar la intensidad de la señal y la precisión de detección de muestras de película delgada. 1. Funciones principales de los accesorios de medición de película óptica paralela Supresión de interferencias por dispersión: al aumentar la longitud de la rejilla, se filtran más rayos dispersos, se reduce la interferencia de la señal del sustrato en los resultados de difracción de la película delgada y, por lo tanto, se mejora la intensidad de la señal de la película delgada. Mejora de la precisión del análisis de películas delgadas: adecuado para pruebas de espesor y otros escenarios de películas delgadas nano multicapa, combinado con accesorios de difracción de ángulo pequeño, se puede lograr un análisis de difracción de ángulo bajo en el rango de 0° ~ 5°. 2. Características estructurales de los accesorios de medición de película óptica paralela Diseño de rejilla: al extender la longitud de la rejilla, se optimiza la trayectoria de los rayos X, se mejora la capacidad de filtrado de los rayos dispersos y se garantiza la pureza de la señal de difracción de película delgada. 3. Ámbito de aplicación del accesorio de medición de película óptica paralela Investigación en materiales de película delgada: análisis de la estructura cristalina de películas nano multicapa y películas ultradelgadas. Pruebas de semiconductores y recubrimientos: se utilizan para evaluar la uniformidad, la calidad cristalina y otras características de películas delgadas. 4. Equipo compatible para accesorio de medición de película óptica paralela Este accesorio se puede adaptar a varios modelos de difractómetros de rayos X, incluidos: Difractómetro de rayos X TD-3500 Difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 Difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 Difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 En general, el accesorio de medición de película óptica paralela mejora significativamente la calidad de la señal de difracción de muestras de película delgada a través de la optimización estructural y la supresión de dispersión, y se usa ampliamente en la ciencia de los materiales, la fabricación de semiconductores y otros campos, especialmente adecuado para las necesidades de análisis de alta precisión de películas delgadas a nanoescala.

Los accesorios in situ para temperatura media y baja son accesorios de equipos experimentales utilizados para el análisis de materiales, principalmente para ensayos in situ en entornos de temperatura baja o media-baja. Combinados con un entorno de vacío, control de temperatura y un diseño especial de material de ventana, se utilizan ampliamente en campos como la química, la ciencia de los materiales y la investigación catalítica. 1. Funciones principales y parámetros técnicos de los accesorios in situ de temperatura media y baja (1) Rango de temperatura y precisión de control Admite un rango de temperatura de -196 °C a 500 °C en un entorno de vacío (como refrigeración con nitrógeno líquido), con una precisión de control de temperatura de ± 0,5 °C. Algunos modelos pueden abarcar temperaturas de -150 °C a 600 °C, lo que los hace adecuados para una gama más amplia de necesidades experimentales. (2) Método de refrigeración y sistema de enfriamiento Utiliza refrigeración con nitrógeno líquido, con un consumo inferior a 4 L/h, y mantiene una temperatura estable mediante un sistema de refrigeración con circulación de agua desionizada. Opcionalmente, se puede optar por un sistema de refrigeración con nitrógeno líquido de baja temperatura (como la serie Cryostream). (3) Materiales de ventanas y diseño estructural El material de la ventana es principalmente película de poliéster (como la serie TD) y algunas configuraciones infrarrojas utilizan ventanas de KBr o SiO2. La estructura incluye un diseño resistente a alta presión (como 133 kPa) y está equipada con múltiples entradas/salidas de gas, adecuadas para reacciones in situ o control de atmósfera. 2. Campos de aplicación de los accesorios in situ de temperatura media y baja (1) Investigación de materiales Se utiliza para ensayos in situ de difractómetros de rayos X (como el TD-3500) para estudiar cambios en la estructura cristalina y los procesos de transición de fase a bajas temperaturas. Apoya la investigación sobre catálisis heterogénea, interacciones gas-sólido, reacciones fotoquímicas, etc. (2) Investigación electroquímica y de baterías Se puede extender a accesorios de batería in situ para probar compuestos en sistemas electroquímicos (como carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, etc.), con una resistencia a la temperatura de hasta 400 ℃. (3) Aplicaciones industriales Los productos de Dandong Tongda Technology (serie TD) se han aplicado en los campos de la química, la ingeniería química, la geología, la metalurgia, etc., y se han exportado a países como Estados Unidos y Azerbaiyán. 3. Productos y marcas típicas de accesorios in situ para temperatura media y baja Tecnología Dandong Tongda (Serie TD) Los accesorios para difractómetros de rayos X, como el TD-3500 y el TD-3700, destacan por su control de temperatura de alta precisión (± 0,5 °C) y su eficiente refrigeración con nitrógeno líquido. Son ideales para mediciones por espectroscopia de reflectancia difusa, con cámara de reacción de acero inoxidable, configuración multiventana (compatible con FTIR o UV-VIS) y compatibilidad con entornos de alto vacío hasta 133 kPa. En general, los accesorios in situ de temperatura media y baja se han convertido en una herramienta importante para el análisis in situ de materiales gracias al control preciso de la temperatura, el entorno de vacío y el diseño de ventanas adaptado a diferentes instrumentos. Desempeñan un papel fundamental en el estudio de las estructuras cristalinas a baja temperatura y la exploración de los mecanismos de reacción catalítica.

Comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura y los cambios en la disolución mutua de diversas sustancias durante dicho calentamiento. El dispositivo de alta temperatura in situ es un dispositivo experimental utilizado para la caracterización in situ de materiales en condiciones de alta temperatura, principalmente para estudiar procesos dinámicos como cambios en la estructura cristalina, transiciones de fase y reacciones químicas de los materiales durante el calentamiento a alta temperatura. A continuación, se presenta una introducción detallada sobre parámetros técnicos, escenarios de aplicación y precauciones: Más, Parámetros técnicos de los accesorios de alta temperatura in situ 1. Rango de temperatura de los accesorios de alta temperatura in situ Ambiente de gas inerte/vacío: La temperatura máxima puede alcanzar los 1600 ℃. Entorno estándar: Temperatura ambiente hasta 1200 ℃ (como se proporciona en el accesorio TD-3500 XRD). 2. Precisión del control de temperatura de los accesorios de alta temperatura in situ: generalmente ± 0,5 ℃ (como los accesorios de alta temperatura in situ), y la precisión de algunos equipos por encima de 1000 ℃ es ± 0,5 ℃. 3. Materiales de ventanas y métodos de enfriamiento para fijaciones de alta temperatura in situ Material de la ventana: Película de poliéster (resistente a temperaturas de 400 ℃) o lámina de berilio (espesor 0,1 mm), utilizada para la penetración de rayos X. Método de enfriamiento: El enfriamiento por circulación de agua desionizada garantiza un funcionamiento estable del equipo en condiciones de alta temperatura. 4. Control de atmósfera y presión de accesorios de alta temperatura in situ: Admite gases inertes (como Ar, N₂), vacío o ambientes atmosféricos y algunos modelos pueden soportar presiones inferiores a 10 bar. El caudal de gas atmosférico se puede ajustar (0,7-2,5 L/min), adecuado para entornos con gases corrosivos. Más, Escenarios de aplicación de accesorios de alta temperatura in situ 1. Investigación de materiales sobre fijaciones de alta temperatura in situ Analizar los cambios en la estructura cristalina (como la transición de fase del platino) y los procesos de transición de fase (como la fusión y la sublimación) a altas temperaturas. Estudiar las reacciones químicas de los materiales a altas temperaturas, como la disolución y la oxidación. 2. Adaptabilidad de los equipos de fijación in situ para altas temperaturas Se utiliza principalmente en difractómetros de rayos X (XRD), como TD-3500, TD-3700, etc. También se puede utilizar para pruebas de tracción in situ mediante microscopía electrónica de barrido (SEM), con conexiones de brida personalizadas requeridas. Precauciones para el uso de accesorios de alta temperatura in situ 1. Requisitos de muestra para accesorios de alta temperatura in situ Es necesario comprobar previamente la estabilidad química de la muestra en el rango de temperatura objetivo para evitar su descomposición en ácidos/bases fuertes o la formación de enlaces cerámicos. La forma de la muestra debe cumplir con los requisitos del accesorio (por ejemplo, grosor de 0,5 a 4,5 mm y diámetro de 20 mm). 2. Procedimientos operativos experimentales para accesorios de alta temperatura in situ Es necesario controlar la velocidad de calentamiento (p. ej., máximo 200 °C/min a 100 °C) para evitar el sobrecalentamiento y dañar el equipo. Tras el experimento, la muestra debe enfriarse a temperatura ambiente para evitar daños estructurales.

Funciones principales y escenarios de aplicación de los accesorios de batería originales Posicionamiento funcional de los accesorios de batería originales: 1. Implementar pruebas en tiempo real durante los procesos de carga y descarga de la batería (como XRD, observación óptica, etc.) para evitar la pérdida de datos o la contaminación de la muestra causada por el desmontaje tradicional. 2. Simule el entorno de trabajo de baterías reales, admita control de temperatura, adición de electrolitos y garantía de sellado. Escenarios de aplicación típicos de los accesorios de batería originales: 1. Pruebas in situ de XRD: analizan los cambios de fase cristalina de los materiales de los electrodos (como LiFePO4) durante los procesos de carga y descarga. 2.Observación óptica in situ: Observe la reacción de la superficie del electrodo a través de una ventana de berilio (película de poliéster). 3. Prueba de alto rendimiento: admite la investigación del rendimiento de la batería en múltiples condiciones (temperatura, presión, electrolito). 4. Ampliamente utilizado en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos incrustados en metales, etc.    Composición estructural y propiedades de los materiales de los accesorios de batería originales 1.Componentes principales de los accesorios de batería originales: Cubierta de aislamiento inferior: hecha principalmente de cerámica de alúmina o material de politetrafluoroetileno, incluye cámara de instalación y canal de flujo de refrigerante, lo que favorece el control de temperatura. Cubierta conductora superior: diseñada con orificios pasantes, atornillada a la cubierta aislante inferior para formar una ruta de corriente. Electrodo inferior: incluye placa superior y columna de soporte, fijado mediante compresión de resorte mariposa, simplificando el proceso de montaje. Ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable), espesor 0,1 mm (personalizable), utilizada para penetración de rayos X u observación óptica. 2. Mejora técnica de los accesorios de batería originales: Ensamblaje formal: reemplaza los métodos invertidos tradicionales, simplifica el proceso de operación y reduce el impacto de la compresión en los materiales del separador y del electrodo positivo. Refrigeración y calefacción: La cubierta de aislamiento inferior integra un canal de refrigerante o una tubería de cable de resistencia, que admite un control de temperatura de -400 ℃. Diseño de sellado: El resorte de mariposa comprime y fija el electrodo inferior y coopera con el flujo de aire del asiento de instalación para soplar y evitar la formación de escarcha y hielo. Ventajas técnicas de los accesorios de batería originales 1. Operación conveniente de los accesorios de batería originales: La estructura formal reduce el tiempo de operación dentro de la guantera y disminuye la complejidad del montaje. El diseño modular de componentes (como ventanas de berilio reemplazables y mangas de aislamiento) mejora la eficiencia del mantenimiento. 2. Parámetros de rendimiento: Rango de prueba: Rango de temperatura de 0,5 a 160 ℃, resistencia a temperaturas de hasta 400 ℃. Sellado: favorece el almacenamiento estable a largo plazo del electrolito para evitar fugas. Compatibilidad: Adecuado para difractómetros de rayos X y otros equipos.

1、Principales funciones y aplicaciones de los accesorios de fibra: Accesorios de fibra del difractómetro de rayos X: Utilizando el método de difracción (transmisión) de rayos X, se prueban la orientación y la estructura cristalina de la muestra analizando la cristalinidad, el ancho de medio pico y otros datos de la fibra. Accesorios de fibra para espectrómetro infrarrojo por transformada de Fourier: incluye microscopio, reflectancia difusa, reflectancia total atenuada (ATR) y otros accesorios, utilizados para identificación de composición de fibra, determinación de relación de mezcla, análisis de fibra individual, etc. Por ejemplo, el microinfrarrojo puede identificar fibras individuales de dos componentes, y los accesorios ATR son adecuados para análisis de estructura de superficie sin la necesidad de preparación de muestra. 2、Tipos y características comunes de los accesorios de fibra: Accesorios específicos para difractómetros de rayos X: como accesorios de difracción de ángulo pequeño, accesorios de película delgada de luz paralela, accesorios in situ para temperaturas altas/medias-bajas, etc., adecuados para diferentes requisitos de prueba. Algunos instrumentos incluyen funciones como cambiadores automáticos de muestras y mesas de muestras giratorias para mejorar la eficiencia de las pruebas. Accesorios para espectrómetro infrarrojo: incluye herramientas de muestreo de transmisión (como el dispositivo de compresión de bromuro de potasio), accesorios microinfrarrojos (para análisis de fibras individuales), andamios de reflexión difusa (adecuados para fibras opacas) y accesorios ATR (para pruebas rápidas no destructivas), etc. 3、 Escenarios de aplicación típicos de los accesorios de fibra: Investigación de materiales: Analizar la estructura cristalina y la orientación molecular de fibras naturales (algodón, lino, etc.) y fibras químicas (poliéster, acrílico, etc.). Inspección de calidad industrial: se utiliza para determinar la proporción de mezcla de textiles y optimizar la tecnología de procesamiento de fibras (como el monitoreo de la orientación de la tracción). Campo de investigación: Estudiar el dicroísmo de polímeros, orientación del estiramiento del microárea de la fibra, etc. En resumen, los accesorios de fibra son herramientas indispensables para el análisis de materiales y las pruebas de fibra, y su desarrollo se basa en los avances en la tecnología de instrumentos (como XRD y FTIR) y la innovación en el diseño de accesorios. La selección específica depende de los requisitos de las pruebas (como la estructura cristalina y la identificación de la composición) y del modelo del instrumento.

El accesorio de medición integrado multifuncional se utiliza para analizar películas en placas, bloques y sustratos, y puede realizar pruebas como detección de fase cristalina, orientación, textura, tensión y estructura en el plano de películas delgadas. Características funcionales de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión; Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación; Prueba de película delgada (rotación de muestras en el plano) Áreas de aplicación de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Evaluación de estructuras de ensamblajes metálicos tales como placas laminadas; Evaluación de la orientación cerámica; Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada; Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.); Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.); Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas; Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.); Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes. Especificaciones técnicas de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Distancia mínima de paso del eje alfa (inclinación): 0,001 °/paso, rango dinámico: - 45°-90° Paso mínimo del eje β (rotación): 0,001°/paso, rango dinámico: 0° -360° Distancia mínima de paso en el eje z: 0,001 °/paso, rango dinámico: 0-10 mm Tamaño de la muestra: diámetro máximo de 100 mm, espesor ajustable.

En el difractómetro de rayos X, los accesorios de medición integrados multifuncionales son un componente crucial que mejora considerablemente la funcionalidad y la flexibilidad del instrumento. Se utilizan para el análisis de películas en placas, bloques y sustratos, y permiten realizar pruebas como la detección de fase cristalina, la orientación, la textura, la tensión y la estructura en el plano de películas delgadas. Descripción básica de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Definición: Es un término general para una serie de dispositivos o módulos adicionales utilizados en el difractómetro de rayos X para ampliar las funciones del instrumento, mejorar la precisión y la eficiencia de la medición. Propósito: Estos accesorios tienen como objetivo permitir que el difractómetro de rayos X satisfaga una gama más amplia de necesidades experimentales y proporcione información más completa y precisa sobre la estructura del material. Características funcionales de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión; Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación; Prueba de película delgada (rotación en el plano de la muestra). Características técnicas de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Alta precisión: generalmente utilizan tecnología de detección avanzada y sistemas de control para garantizar una alta precisión y repetibilidad de las mediciones. Automatización: muchos accesorios admiten operaciones automatizadas y pueden integrarse perfectamente con el host del difractómetro de rayos X para lograr una medición con un solo clic. Diseño modular: facilita a los usuarios seleccionar y combinar diferentes módulos de accesorios según sus necesidades reales. Áreas de aplicación de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Ampliamente utilizado en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química, la biología y la geología; Evaluación de estructuras de conjuntos metálicos tales como placas laminadas; Evaluación de la orientación cerámica; Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada; Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.); Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.); Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas; Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.); Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes. Los accesorios de medición multifuncionales integrados en el difractómetro de rayos X son clave para mejorar el rendimiento del instrumento. No solo mejoran su funcionalidad, sino que también mejoran la precisión y la eficiencia de la medición, proporcionando a los investigadores métodos de análisis de materiales más completos y profundos. Con el continuo avance tecnológico, estos accesorios seguirán desempeñando un papel importante en el fomento de la investigación científica en campos relacionados para lograr nuevos avances.