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Este artículo analiza principalmente la causa del fenómeno de un punto negro en la superficie negativa de una batería de fosfato de hierro y litio.
Un nuevo estudio de BESSY II analiza la formación de skomingons en películas ferromagnéticas de disprosio y cobalto en tiempo real con alta resolución espacial.
En este artículo, analizamos brevemente uno (en realidad dos) defectos cristalinos, una falla y una falla de capa en estas tres estructuras cristalinas. Otras estructuras cristalinas también tienen fallas y fallas de capas.
La tecnología de rayos X desempeña un papel vital en la investigación médica y científica, y los avances recientes en la tecnología de rayos X están permitiendo haces e imágenes más brillantes y potentes de sistemas cada vez más complejos en condiciones del mundo real.
Como medio para caracterizar la estructura cristalina y su regla de cambio, la XRD se utiliza ampliamente en muchos campos como materiales, química, cerámica, metalurgia y minerales.
En los últimos años, con la demanda de energía limpia y el desarrollo de una economía con cero emisiones netas de gases de efecto invernadero, el campo de la electrocatálisis ha atraído un gran interés.
El espacio tridimensional de los átomos está organizado en un orden de largo alcance, y la unidad más pequeña de disposición repetida se llama celda, que se puede dividir en 7 tipos de sistemas cristalinos, 14 tipos de redes y 230 tipos de grupos espaciales. según la ley de arreglos.
Los principales indicadores de los materiales poliméricos incluyen el tipo de polímero o su cristalinidad. Los polímeros también exhiben una microestructura diferente, que también puede afectar las propiedades mecánicas de los materiales poliméricos.
La difracción de rayos X (DRX) es un medio de investigación para obtener información como la composición de un material, la estructura o forma de un átomo o molécula interna analizando su patrón de difracción mediante difracción de rayos X.
Los cristales, aunque admirados durante mucho tiempo por su regularidad y simetría, no se estudiaron científicamente hasta el siglo XVII. Echemos un vistazo a la historia temprana de la cristalografía.
Un indicador importante de XRD es que hay una muy buena fuente de luz de rayos X. La denominada buena fuente de luz de rayos X suele referirse a alta intensidad, alto paralelismo y alta pureza. Este artículo presentará una de las tecnologías centrales del neoconfucianismo, el camino óptico CBO.