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El analizador de cristales por rayos X de la serie TDF ofrece un rendimiento excepcional en el análisis de microestructuras, permitiendo la orientación de monocristales, la detección de defectos y la medición de tensiones. Con un diseño de tubo vertical, operación multiventana y control PLC importado, garantiza alta precisión y cumplimiento de las normas de seguridad (radiación).<0.1 µSv/h), and adaptability across industries. Backed by ISO certification and global exports, this instrument empowers scientific and industrial advancements worldwide

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 ofrece un rendimiento analítico excepcional gracias a su innovadora tecnología de detectores y sus modos de escaneo duales. Con una rápida adquisición de datos, un funcionamiento sencillo y una seguridad mejorada, permite un análisis preciso de materiales en aplicaciones de investigación e industriales, estableciendo nuevos estándares para los instrumentos científicos chinos.

El difractómetro de rayos X TD-5000 rompe el monopolio internacional en instrumentos científicos de alta gama. Esta innovación china ofrece una precisión excepcional (0,0001°) y capacidades de detección avanzadas, al servicio de investigadores en farmacia, ciencia de materiales y química mediante análisis estructurales exhaustivos.

Avance en instrumentos científicos: el difractómetro de rayos X TD-3700 de Dandong Tongda impulsa la innovación en investigación. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es una empresa de alta tecnología especializada en la investigación, el desarrollo y la producción de instrumentos de análisis de rayos X. Su producto estrella, el difractómetro de rayos X TD-3700, integra análisis rápido, un manejo intuitivo y sólidas funciones de seguridad. La perfecta sinergia entre su hardware modular y sus sistemas de software personalizados lo convierte en una potente herramienta para campos de investigación como la ciencia de los materiales, la química y la mineralogía. El difractómetro de rayos X TD-3700 presenta importantes ventajas tanto en la tecnología de detección como en los modos de medición, lo que le permite satisfacer una amplia gama de necesidades analíticas. Tecnología central y rendimiento Detectores de alto rendimiento: El instrumento puede equiparse con detectores de matriz 1D de alta velocidad opcionales (p. ej., MYTHEN2R), detectores SDD o detectores 2D. Gracias a la tecnología híbrida de conteo de fotones, funciona sin ruido de lectura, alcanza velocidades de adquisición de datos de decenas a cientos de veces más rápidas que los detectores de centelleo tradicionales y elimina eficazmente los efectos de fluorescencia para lograr una excelente resolución energética. Por ejemplo, el detector de matriz 1D cuenta con 640 canales con un tiempo de lectura excepcionalmente corto de tan solo 89 microsegundos, lo que contribuye a una excelente relación señal-ruido. Modos de escaneo flexibles: El difractómetro de rayos X TD-3700 admite dos métodos principales de escaneo de datos: el modo de reflexión (difracción) convencional y el modo de transmisión. El modo de transmisión proporciona una mayor resolución, lo que lo hace ideal para analizar muestras limitadas o realizar análisis estructurales. El modo de reflexión ofrece una señal más potente, más apropiada para la identificación rutinaria de fases en entornos de laboratorio. Esta flexibilidad permite al instrumento procesar una amplia variedad de tipos de muestras, desde trazas de polvo y sólidos a granel hasta incluso líquidos y muestras viscosas. Sistema de Goniómetro de Precisión: Utiliza un goniómetro vertical θS-θd donde la muestra permanece horizontal y estacionaria durante la medición. Este diseño no solo facilita la preparación de la muestra, sino que también ayuda a prevenir la posible corrosión del sistema de ejes del goniómetro por las muestras, prolongando así su vida útil. Con un amplio rango de escaneo 2θ (-110° a 161°) y una excepcional precisión repetitiva de 0,0001°, garantiza mediciones altamente precisas y repetibles. Características del instrumento y garantía de seguridad El difractómetro de rayos X TD-3700 está diseñado con un fuerte énfasis en la experiencia del usuario y la seguridad operativa. Diseño fácil de usar: Operación sin esfuerzo: cuenta con un sistema de adquisición de un solo clic e incorpora una interfaz de pantalla táctil para monitoreo en tiempo real del estado del instrumento. Diseño modular: los componentes están diseñados para una funcionalidad plug-and-play, sin necesidad de calibración y garantizando un mantenimiento sencillo. Protección de seguridad integral: Incorpora un sistema de enclavamiento electrónico de puerta principal para protección de doble capa, garantizando la seguridad del usuario. La fuga de radiación externa del sistema de protección es ≤ 0,1 μSv/h, cumpliendo con estrictos estándares internacionales de seguridad. Incluye múltiples funciones de protección contra kV excesivamente alto/bajo, mA excesivamente alto/bajo, falla del flujo de agua y sobrecalentamiento del tubo de rayos X. Sistema estable y confiable: Utiliza un generador de rayos X de alta frecuencia y alto voltaje, reconocido por su rendimiento estable y confiable, con una estabilidad del sistema ≤ 0,005 %. El enfriador de recirculación integrado cuenta con una función de enfriamiento integrada, lo que elimina la necesidad de una unidad externa de circulación de agua. Aplicaciones y reconocimiento global El difractómetro de rayos X TD-3700 se utiliza ampliamente para análisis de fase cualitativo/cuantitativo, análisis de estructura cristalina, investigación de estructura de materiales, determinación del tamaño de grano y medición de cristalinidad. Reconocida por su confiable calidad, los productos de Dandong Tongda se han exportado a numerosos países y regiones, como Estados Unidos, Corea del Sur, Irán, Azerbaiyán, Irak y Jordania, lo que les ha valido el reconocimiento internacional. La empresa también ha obtenido la certificación ISO 9001 y otras certificaciones internacionales de sistemas de gestión de calidad. Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. ofrece a sus clientes un servicio y soporte integrales, que incluyen servicio posventa, capacitación profesional y apoyo comercial internacional. Agradecemos sus consultas y esperamos su compra.

El minidifractómetro de rayos X TDM-20 es un instrumento analítico de sobremesa de alto rendimiento desarrollado y fabricado por Dandong Tongda Technology Co., Ltd. Se utiliza principalmente para el análisis de fases de materiales policristalinos como polvos, sólidos, muestras a granel y pastas. Utilizando el principio de difracción de rayos X, el instrumento permite el análisis cualitativo y cuantitativo, el análisis de la estructura cristalina y otras funciones. Tiene amplias aplicaciones en diversos campos, como la industria, la agricultura, la defensa, la industria farmacéutica, la mineralogía, la seguridad alimentaria, el petróleo y la investigación educativa. El difractómetro de rayos X de sobremesa TDM-20 supera la limitación convencional de 600 W, ofreciendo una potencia de salida máxima de 1200 W para un rendimiento de alta potencia. Además, incorpora una fuente de alimentación de alta frecuencia y alto voltaje, lo que resulta en un menor consumo total de energía. Incorpora tecnología de goniómetro de alta precisión con una repetibilidad angular de 0,0001°, una precisión de medición de la posición del pico de difracción de 0,001° y una linealidad del ángulo de difracción de perfil completo de ±0,010°. El instrumento incorpora un sistema de control avanzado basado en tecnología PLC (controlador lógico programable) y un diseño modular para un funcionamiento preciso. Para la detección, puede equiparse con un detector proporcional o un nuevo detector de matriz de alto rendimiento, lo que mejora significativamente el rendimiento general y la velocidad de adquisición de datos. El TDM-20 también ofrece opciones de configuración muy flexibles, compatible con diversos accesorios, como una platina de muestra giratoria, un detector de matriz 1D y un cambiador automático de muestras de 6 posiciones. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 se caracteriza además por su gran ventaja: es compacto y portátil, ocupa poco espacio y es ligero. Es reconocido como uno de los difractómetros de rayos X de sobremesa más pequeños del mundo, lo que lo hace ideal para entornos de laboratorio con espacio limitado. Además, el instrumento cuenta con un triple sistema de aislamiento antiinterferencias. La radiación de fuga de rayos X se mantiene a ≤ 0,12 μSv/h, lo que garantiza el cumplimiento de la norma de protección GBZ 115-2002. Por lo tanto, el uso del minidifractómetro de rayos X TDM-20 es seguro y fiable. El minidifractómetro de rayos X TDM-20 combina alta potencia, alta precisión y un diseño compacto en una sola plataforma. Supera las limitaciones de los difractómetros de rayos X tradicionales a gran escala, ofreciendo una solución de análisis de materiales eficiente, práctica y fiable para diversas industrias. Gracias a su avanzado rendimiento técnico, su completo servicio técnico y su flexible funcionamiento, el TDM-20 es una potente herramienta para el análisis de materiales en laboratorio. Si necesita equipos de difracción de rayos X, le invitamos a elegir los productos de Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd.

El difractómetro de rayos X monocristalino TD-5000 es un instrumento de alto rendimiento desarrollado por Dandong Tongda Technology. Aprobado en el marco del Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Clave de China, cubre una necesidad nacional crucial en este campo. Su función principal es determinar la estructura espacial tridimensional y la distribución de la densidad electrónica de sustancias cristalinas, incluyendo compuestos inorgánicos, compuestos orgánicos y complejos metálicos, a la vez que analiza las estructuras de materiales especiales como cristales maclados, estructuras moduladas inconmensurablemente y cuasicristales. Mide con precisión la estructura espacial tridimensional de nuevos compuestos cristalinos (incluyendo longitudes de enlace, ángulos de enlace, configuración, conformación y densidad electrónica de enlace) y la disposición real de las moléculas dentro de la red cristalina. El sistema proporciona información estructural completa, como parámetros de la celda unitaria, grupo espacial, estructura molecular, enlaces de hidrógeno intermoleculares e interacciones débiles, y configuración/conformación molecular. Se utiliza ampliamente para la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. Tecnología central: una doble revolución en precisión e inteligencia (1) El "ojo mecánico" con posicionamiento a nivel atómico Difractómetro concéntrico de cuatro círculos: supera las limitaciones de desplazamiento mecánico tradicionales, manteniendo un centro de rotación constante para garantizar que los errores de coordenadas del punto de difracción permanezcan por debajo del nivel nanométrico. Detector PILATUS: Combina tecnología de conteo de fotones individuales con píxeles ultrafinos de 172 μm. Alcanza velocidades de fotogramas de hasta 20 Hz y una capacidad de supresión de ruido tres veces superior a la de los detectores CCD convencionales. (2) Flujo de trabajo de circuito cerrado totalmente inteligente Control PLC de un solo toque: automatiza todo el proceso desde el posicionamiento del cristal hasta la adquisición de datos, reduciendo el tiempo de operación manual en un 90%. Sistema de mejora criogénica: cuenta con un control de temperatura de precisión de ±0,3 K (100 K–300 K), que aumenta la intensidad de la señal para cristales de difracción débil en un 50 % con un consumo de nitrógeno líquido de solo 1,1–2 L/h. (3) Doble garantía: seguridad y capacidad de expansión Bloqueo de puerta de plomo + protección contra fugas (≤0,12 µSv/h), que supera los estándares de seguridad nacionales. Óptica de enfoque multicapa opcional (objetivo dual Mo/Cu), que permite un análisis a gran escala desde productos farmacéuticos de moléculas pequeñas hasta minerales con celdas unitarias grandes. La llegada del difractómetro monocristalino de rayos X TD-5000 representa más que un avance instrumental: marca la era en la que los equipos de investigación científica de alta gama de China alcanzan oficialmente la precisión autónoma. Hasta 2025, este sistema ha prestado servicio a más de 30 instituciones líderes en campos como la química, la ciencia de los materiales y la industria aeroespacial. A medida que los cristales revelan los secretos de la vida bajo la mirada inquisitiva de instrumentos desarrollados nacionalmente, el ojo científico chino, que discierne la esencia de la materia, brilla ahora con una claridad deslumbrante.

Producto destacado: Soluciones de análisis de cristales por rayos X de Dandong Tongda Dandong Tongda Science and Technology presenta su avanzado equipo de análisis de cristales por rayos X, que ofrece precisión y fiabilidad para aplicaciones industriales. El analizador de cristales por rayos X de la serie TDF combina potentes capacidades analíticas con una fiabilidad de grado industrial. Con cuatro ventanas operativas y tecnología de control PLC, da servicio a sectores de fabricación de alta gama, como la inspección de obleas de semiconductores, la evaluación de tensiones en componentes aeroespaciales y el procesamiento de cristales por láser. Nuestros orientadores de cristal por rayos X (TYX-200/TYX-2H8) permiten la medición rápida y precisa de ángulos de corte de cristales con una exactitud de hasta ±30 segundos de arco. Capaces de manejar muestras de hasta 30 kg, estos instrumentos permiten el corte direccional de cristales piezoeléctricos, ópticos, láser y semiconductores. Ambas líneas de productos utilizan tecnología de difracción de rayos X no destructiva, reemplazando los métodos radiactivos tradicionales y mejorando la eficiencia y precisión del procesamiento para la investigación y fabricación de materiales cristalinos.

El difractómetro de rayos X de cristal único TD-5000 se utiliza principalmente para determinar la estructura espacial tridimensional y la densidad de nubes de electrones de sustancias cristalinas como complejos inorgánicos, orgánicos y metálicos, y para analizar la estructura de materiales especiales como maclado, cristales no conmensurables, cuasicristales, etc. Determine el espacio tridimensional preciso (incluyendo longitud de enlace, ángulo de enlace, configuración, conformación e incluso densidad de electrones de enlace) de nuevas moléculas compuestas (cristalinas) y la disposición real de las moléculas en la red; El difractómetro de rayos X de cristal único puede proporcionar información sobre los parámetros de la celda cristalina, el grupo espacial, la estructura molecular del cristal, el enlace de hidrógeno intermolecular y las interacciones débiles, así como información estructural como la configuración y conformación molecular. La XRD de cristal único se utiliza ampliamente en la investigación analítica en cristalografía química, biología molecular, farmacología, mineralogía y ciencia de los materiales. El difractómetro monocristalino adopta la técnica de concentricidad de cuatro círculos para garantizar que el centro del instrumento de medición de ángulos permanezca inalterado independientemente de la rotación, logrando así el objetivo de obtener los datos más precisos y una mayor integridad. La concentricidad de cuatro círculos es una condición necesaria para el escaneo monocristalino convencional. El personal técnico de la empresa ha completado la instalación y la depuración del difractómetro de rayos X de cristal único extranjero, y los resultados de las pruebas han satisfecho enormemente a los usuarios extranjeros. Al mismo tiempo, la funcionalidad, la estabilidad y el servicio posventa del instrumento han recibido elogios unánimes de los usuarios extranjeros.

El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales similares a pastas. El XRD de sobremesa utiliza el principio del difractómetro de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos, análisis de la estructura cristalina y otros materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal. El difractómetro de rayos X de escritorio TDM-20 se utiliza ampliamente en industrias como la industria, la agricultura, la defensa nacional, los productos farmacéuticos, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica. La carga de un nuevo detector de matriz de alto rendimiento ha dado lugar a una mejora significativa en el rendimiento de la difracción de rayos X de sobremesa. Los equipos XRD de sobremesa tienen un volumen pequeño y son ligeros; La potencia de trabajo de la fuente de alimentación de alto voltaje de Benchtop XRD puede alcanzar los 1600 vatios; El XRD de sobremesa puede calibrar y probar muestras rápidamente; El control del circuito XRD de sobremesa es simple y fácil de depurar e instalar; La repetibilidad del ángulo XRD de sobremesa puede alcanzar 0,0001.

El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con un detector de matriz de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto. El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 admite tanto el escaneo de datos de difracción convencional como los métodos de escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede estar en cantidades traza, lo que es adecuado para la adquisición de datos en casos en los que el tamaño de la muestra es relativamente pequeño y no cumple con los requisitos del método de difracción para la preparación de la muestra.