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El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700, con todas las ventajas del difractómetro de rayos X TD-3500, está equipado con un detector de matriz de alto rendimiento. En comparación con los detectores de centelleo o los detectores proporcionales, la intensidad del cálculo de difracción se puede aumentar varias decenas de veces y se pueden obtener patrones de difracción completos de alta sensibilidad y alta resolución y una mayor intensidad de conteo en un período de muestreo más corto. El difractómetro de rayos X de alta resolución TD-3700 admite tanto el escaneo de datos de difracción convencional como los métodos de escaneo de datos de transmisión. La resolución del modo de transmisión es mucho mayor que la del modo de difracción, lo que es adecuado para el análisis estructural y otros campos. El modo de difracción tiene fuertes señales de difracción y es más adecuado para la identificación de fase de rutina en el laboratorio. Además, en el modo de transmisión, la muestra de polvo puede estar en cantidades traza, lo que es adecuado para la adquisición de datos en casos en los que el tamaño de la muestra es relativamente pequeño y no cumple con los requisitos del método de difracción para la preparación de la muestra.