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El Accesorio de Medición Integrado Multifuncional de Dandong Tongda es una plataforma de análisis de muestras de alta precisión, montada sobre goniómetros de ángulo amplio, que mejora significativamente las capacidades analíticas de rayos X. Este sistema multieje permite un análisis sofisticado de materiales, incluyendo identificación de fases, pruebas de tensión residual y caracterización de la estructura en el plano de películas delgadas. Con inclinación del eje α (-45°-90°), rotación de 360° del eje β y traslación XYZ (±10 mm) con una resolución de 0,001°/0,001 mm, admite mediciones de figuras polares de transmisión/reflexión y métodos de tensión de isoinclinación/inclinación lateral. Esencial para la investigación avanzada de materiales, facilita el análisis de textura, la evaluación de tensiones y los estudios de películas multicapa en metales, cerámicas y diversos sustratos, lo que lo convierte en una herramienta potente tanto para aplicaciones de investigación como de inspección industrial.

El accesorio para altas temperaturas de Dandong Tongda es un instrumento de precisión diseñado específicamente para la investigación de materiales en entornos de alta temperatura. Permite la observación y el análisis en tiempo real de muestras bajo estas condiciones, lo que ayuda a los investigadores a obtener información sobre los cambios dinámicos de los materiales a temperaturas elevadas. El accesorio de alta temperatura Dandong Tongda demuestra un rendimiento técnico excepcional, capaz de satisfacer las demandas de la mayoría de los entornos experimentales de alta temperatura. Dependiendo del entorno experimental, el rango de temperatura del accesorio varía: en una atmósfera de gas inerte, la temperatura puede oscilar entre la temperatura ambiente y 1200 °C; en un entorno de vacío, la temperatura máxima puede alcanzar los 1600 °C. Este amplio rango de temperaturas permite que el accesorio se adapte a diversos escenarios de investigación complejos, brindando un soporte técnico integral para el estudio del comportamiento de los materiales a altas temperaturas. En cuanto al control de temperatura, el accesorio también funciona excepcionalmente bien, con una precisión de hasta ±0,5 °C. Esto garantiza una alta estabilidad durante los experimentos, ofreciendo una sólida garantía para la exactitud y la reproducibilidad de los datos experimentales. El diseño y la construcción del accesorio para altas temperaturas reflejan un equilibrio entre profesionalismo y practicidad. Este accesorio utiliza una película de poliéster como material de la ventana, una elección que garantiza una buena claridad de observación y estabilidad en entornos de alta temperatura. El sistema de refrigeración emplea refrigeración por circulación de agua desionizada, lo que garantiza eficazmente el funcionamiento estable del equipo en condiciones prolongadas de alta temperatura y extiende su vida útil. Este diseño tiene en cuenta los requisitos de los experimentos de larga duración a altas temperaturas, lo que permite a los investigadores realizar observaciones continuas sin preocuparse por el sobrecalentamiento del equipo. Ya sea para estudiar las transiciones de fase de la estructura cristalina, el comportamiento de expansión térmica de los materiales u observar las reacciones químicas de los materiales a altas temperaturas, este accesorio puede proporcionar datos experimentales intuitivos y precisos.

Desde su fundación en 2010, Dandong Tongda Science & Technology Co., Ltd. se ha centrado en la investigación, el desarrollo y la producción de instrumentos analíticos de rayos X y equipos de ensayos no destructivos. La empresa cuenta con una amplia experiencia en tecnología de rayos X. En 2013, se convirtió en la unidad responsable del "Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos Principales" para el difractómetro monocristalino de rayos X, financiado por el Ministerio de Ciencia y Tecnología de China. El sistema de enfriamiento de nitrógeno líquido de baja temperatura Cryostream, lanzado por Dandong Tongda Science & Technology, es un producto representativo de su accesorio de temperatura media-baja. Este sistema está diseñado específicamente para experimentos científicos que requieren entornos precisos de baja temperatura e integra múltiples tecnologías avanzadas. El control preciso de la temperatura es la principal ventaja del sistema. El accesorio de temperatura media-baja puede mantener una estabilidad de temperatura de hasta 0,3 K dentro del rango estándar de 100 a 300 K. Esta alta estabilidad de temperatura proporciona un entorno fiable para experimentos científicos, garantizando la precisión y reproducibilidad de los datos experimentales. Su eficiente rendimiento de refrigeración es otro punto a destacar. El sistema solo necesita 35 minutos para enfriarse desde temperatura ambiente hasta 100 K. Esta rápida velocidad de enfriamiento mejora significativamente la eficiencia del trabajo de los investigadores, lo que lo hace especialmente adecuado para escenarios experimentales que requieren cambios frecuentes de temperatura. ​ El sistema de control inteligente simplifica la operación. Mediante un algoritmo de control de temperatura PID difuso, el sistema logra un control preciso y estable en tiempo real de la temperatura del gas nitrógeno a baja temperatura. Este enfoque de control inteligente reduce considerablemente la complejidad operativa, permitiendo a los investigadores centrarse más en los experimentos en sí que en los ajustes del equipo.

En el análisis de difracción de rayos X, las muestras de película delgada presentan importantes desafíos debido a su espesor extremadamente reducido, señales débiles y su frecuente adhesión al sustrato. Los métodos de prueba tradicionales son propensos a la interferencia de las señales del sustrato, lo que provoca que las señales de la propia película delgada queden enmascaradas o distorsionadas. El diseño principal del accesorio de película delgada de haz paralelo reside en aumentar la longitud de las láminas de la rejilla para filtrar los rayos más dispersos. Este enfoque ofrece dos ventajas significativas: Reduce la interferencia de la señal del sustrato: suprime eficazmente las señales no objetivo que se originan en el sustrato de la muestra. Mejora la intensidad de la señal de la película delgada: hace que las señales analíticas de la película delgada objetivo sean más prominentes, lo que produce resultados de análisis más claros y precisos. Campos de aplicación: El accesorio de película delgada de haz paralelo se aplica principalmente en campos de vanguardia como la protección ambiental y la electrónica. En estas industrias, el rendimiento de los materiales de película delgada suele determinar directamente la calidad del producto final. Por ejemplo, en la industria electrónica, diversas películas delgadas funcionales se utilizan ampliamente en productos como dispositivos semiconductores, pantallas y células solares. La estructura cristalina, la orientación y el estado de tensión de las películas delgadas influyen significativamente en sus propiedades eléctricas, ópticas y mecánicas. Mediante el uso de la fijación de película delgada de haz paralelo, los investigadores pueden evaluar estos parámetros clave con mayor precisión, lo que proporciona un sólido soporte para el desarrollo de productos y el control de calidad. ​ Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. es una empresa nacional de alta tecnología especializada en la producción de instrumentos de análisis de rayos X y equipos de ensayos no destructivos. También fue la unidad ejecutora del "Proyecto Nacional de Desarrollo de Instrumentos y Equipos Científicos de Primera Instancia", iniciado por el Ministerio de Ciencia y Tecnología en 2013. Tongda Science and Technology ha completado la serialización de sus dos principales líneas de productos: instrumentos analíticos e instrumentos de ensayos no destructivos.

Los accesorios de fibra utilizan el método de difracción (transmisión) de rayos X para analizar la estructura cristalina única de las fibras. Parámetros como la cristalinidad y el ancho completo a la mitad del máximo (FWHM) se utilizan para determinar el grado de orientación de la muestra. ​ Funciones y características principales de los accesorios de fibra: Mantenimiento de la orientación de las fibras: Este es el aspecto más crítico. Las fibras suelen presentar una alta anisotropía, con cristales alineados preferentemente a lo largo de su eje. Los accesorios de fibra pueden enderezar y fijar los haces de fibras, conservando su orientación original para medir el grado y la distribución de la orientación. Adaptación a diferentes formatos de muestra: Fibra única: Extremadamente delgada, requiriendo abrazaderas o marcos especiales para su fijación. Haz de fibras: múltiples fibras dispuestas en paralelo; los accesorios de fibra deben alinearlas y tensarlas uniformemente. Tejido de fibra: Los materiales como la tela requieren un marco plano para estirarlos y tensarlos. Habilitación de modos de prueba especiales: Modo de transmisión: Adecuado para haces de fibras delgadas o fibras individuales. Los accesorios de fibra incluyen un marco específico para tensar la fibra, lo que permite que los rayos X penetren directamente en la muestra. Modo de reflexión: Se utiliza para haces de fibras o tejidos más gruesos. Los accesorios de fibra proporcionan una superficie de muestra plana para este modo. Portamuestras de fibra: Se trata de un marco sencillo de metal o plástico con ranuras o perillas. Durante el funcionamiento, ambos extremos del haz de fibras se fijan al soporte, y las perillas giran para tensar la fibra, manteniéndola recta y paralela. Todo el soporte puede colocarse en el goniómetro de XRD para realizar pruebas, de forma similar a una muestra estándar. En resumen, los accesorios de fibra para XRD son dispositivos especializados de fijación de muestras, diseñados para analizar muestras fibrosas con estructuras anisotrópicas. Su función principal es mantener y regular la orientación de la fibra, mientras que las versiones avanzadas pueden permitir el estiramiento in situ y otras funciones, proporcionando información crucial sobre la orientación de las estructuras cristalinas en las fibras.

En el campo de la investigación en ciencia de materiales, la medición precisa es clave para descifrar las propiedades de los materiales. El accesorio de medición integrado multifuncional, desarrollado por Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd., es una herramienta de alta precisión diseñada para mejorar las capacidades de análisis por difracción de rayos X. Este accesorio de medición integrado multifuncional está diseñado específicamente para su instalación en goniómetros de gran angular. Su función principal es analizar con precisión materiales en placa, materiales a granel y películas delgadas depositadas sobre sustratos. El accesorio puede realizar diversas tareas de medición, como la detección de fase cristalina, el análisis del grado de orientación y las pruebas de tensión. Es compatible con el análisis de textura, la determinación de la tensión residual y las pruebas de estructura en el plano de películas delgadas, lo que proporciona un amplio soporte de datos para la investigación de materiales. Las principales características técnicas de este accesorio se reflejan en su sistema mecánico de precisión coordinado de múltiples ejes y sus métodos de medición altamente adaptables. El accesorio de medición integrado multifuncional admite mediciones de figuras polares mediante métodos de transmisión o reflexión, lo que ofrece flexibilidad para diferentes muestras y requisitos de prueba. Para las pruebas de tensión, puede emplear tanto el método de inclinación lateral como el de inclinación normal. Para muestras de película delgada, el accesorio también permite realizar pruebas de rotación en el plano, lo que permite un análisis exhaustivo de las estructuras de la película. Su sistema mecánico de precisión asegura una alta precisión de medición y repetibilidad, con incrementos mínimos de paso de 0,001° (para ejes de rotación) y 0,001mm (para ejes de traslación). El alcance de aplicación del accesorio de medición integrado multifuncional es extremadamente amplio y cubre casi todos los campos de fabricación avanzada e I+D que requieren análisis de la estructura del material. En el campo de los materiales metálicos, se utiliza para evaluar la organización colectiva de metales como placas laminadas; en cerámica, se centra en evaluar la orientación de la cerámica. Para materiales de película delgada, el accesorio puede analizar la orientación preferida del cristal de muestras de película y probar la tensión residual de películas multicapa (evaluando propiedades como el desprendimiento de la película). También puede analizar películas de nitruración y oxidación de superficies en películas de materiales superconductores de alta temperatura y placas de metal, así como películas multicapa sobre sustratos de vidrio, silicio y metal. En particular, también se puede aplicar al análisis de materiales macromoleculares, papel, materiales de recubrimiento de lentes y más, lo que demuestra su potencial de aplicación interdisciplinaria. Accesorio de medición

En el campo de la investigación y el desarrollo de baterías de iones de litio, comprender los cambios dinámicos en la microestructura de los materiales de los electrodos durante los procesos de carga y descarga es crucial. Los métodos tradicionales de detección fuera de línea no pueden capturar estos cambios en tiempo real, mientras que la aparición de técnicas de caracterización in situ proporciona a los investigadores una herramienta poderosa. Aprovechando su experiencia en tecnología de difracción de rayos X (DRX), Dandong Tongda Technology Co., Ltd. ha desarrollado un accesorio in situ para la investigación de baterías, que ofrece una ventana eficiente para explorar los procesos de reacción dentro de la "caja negra" de las baterías. Principio técnico: Monitoreo dinámico de cambios a microescala en materiales de baterías El objetivo principal del diseño del accesorio de batería original de Dandong Tongda es permitir el monitoreo en tiempo real de la evolución de la estructura cristalina de los materiales de los electrodos utilizando tecnología de difracción de rayos X (XRD) mientras la batería está funcionando normalmente (durante la carga y descarga). Este accesorio suele funcionar en sinergia con un sistema de pruebas electroquímicas (como el sistema de pruebas de baterías LAND) y un difractómetro de rayos X (como el modelo TD-3500 de Tongda Tech). Forma una cámara de batería especializada que permite que los rayos X penetren y exploren los materiales de los electrodos de la batería durante su funcionamiento. La clave reside en el diseño de los materiales de las ventanas (como las ventanas de berilio) con tasas de absorción de rayos X extremadamente bajas en los componentes de la batería, lo que garantiza una incidencia y emisión efectivas de rayos X. Simultáneamente, el accesorio integra los electrodos, el aislamiento y los componentes de sellado necesarios para garantizar reacciones electroquímicas normales y mantener un sellado excelente durante las pruebas. Funciones clave y valor de la aplicación El valor de este accesorio de batería in situ radica en su capacidad de ayudar a los investigadores a observar de forma intuitiva y dinámica una serie de cambios microscópicos en los materiales de los electrodos durante los procesos de carga y descarga de la batería: Observación en tiempo real de los procesos de transición de fase: Muchos materiales de electrodos experimentan transiciones de fase durante la intercalación y desintercalación de iones de litio. La difracción de rayos X in situ permite capturar la formación, desaparición y transformación de estas fases en tiempo real, lo cual es crucial para comprender los mecanismos de reacción de la batería. Monitoreo de los cambios en los parámetros de red: Mediante el seguimiento preciso de los cambios en los picos de difracción de XRD, se pueden calcular cambios sutiles en los parámetros de red, que reflejan la expansión y contracción de la red. Esto está estrechamente relacionado con las métricas de rendimiento de la batería, como las plataformas de voltaje y el ciclo de vida. Descubriendo los mecanismos de disminución de la capacidad: La disminución de la capacidad durante el ciclo de la batería suele estar relacionada con la degradación estructural de los materiales de los electrodos, reacciones secundarias y otros factores. El monitoreo in situ puede correlacionar la degradación del rendimiento electroquímico con cambios estructurales, lo que proporciona información directa para mejorar los materiales de la batería y optimizar el diseño. Aceleración del desarrollo de nuevos materiales: para evaluar nuevos materiales de electrodos, la tecnología XRD in situ puede proporcionar rápidamente información clave sobre la estabilidad estructural y las vías de reacción, acelerando el proceso de I+D.

Originalmente, los accesorios de batería son dispositivos experimentales diseñados específicamente para pruebas electroquímicas, utilizados principalmente para la caracterización in situ de materiales de batería durante los procesos de carga y descarga, comúnmente encontrados en difracción de rayos X (XRD). 1. Funciones principales y escenarios de aplicación de los accesorios de batería originales (1)Prueba original: La monitorización en tiempo real de los cambios en la estructura de fase del material (como la estructura cristalina y la transición de fase) durante la carga y descarga de la batería puede evitar la contaminación de la muestra o los cambios de estado causados ​​por el desmontaje de la batería. Compatible con múltiples sistemas electroquímicos, incluyendo compuestos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, incrustaciones metálicas, etc. (2) Compatibilidad multimodal: Difracción de rayos X (DRX): se utiliza para analizar la evolución estructural de los materiales de los electrodos positivos/negativos durante los procesos de carga y descarga. 2. Composición estructural y características técnicas de los accesorios de batería originales (1) Componentes clave: Cubierta de aislamiento inferior: generalmente hecha de cerámica de alúmina o material de politetrafluoroetileno, que contiene canales de flujo de refrigerante o tuberías de instalación de cables de resistencia, que se utilizan para controlar la temperatura. Cubierta conductora superior: conectada a la cubierta aislante inferior mediante pernos para formar un espacio cerrado, con una ventana de berilio (diámetro 15 mm, espesor 0,1 mm) en la parte superior para transmitir rayos X. Sistema de electrodos: originalmente los accesorios de batería incluyen un electrodo inferior (con una columna de soporte) y un resorte de mariposa, los cuales se conectan eléctricamente a través de fijación por compresión, simplificando el proceso de montaje. (2) Innovación tecnológica: Diseño formal: En comparación con el método invertido tradicional, la estructura formal no requiere ensamblaje giratorio, lo que facilita su operación en la guantera y garantiza la planitud de la ventana de berilio y el diafragma. Sellado y control de temperatura: Tubería de circulación de refrigerante integrada y dispositivo de calentamiento de cable de resistencia, adecuado para un rango de temperatura de -400 ℃ a 400 ℃. 3. Ventajas técnicas de los accesorios de batería originales (1) Operación simplificada: Reduzca los pasos de montaje, disminuya el tiempo de operación dentro de las cajas de guantes y mejore la eficiencia. El resorte de mariposa fija el electrodo sin necesidad de girarlo ni apretarlo, evitando interferencias con la estructura simulada de la batería. (2) Mejora del rendimiento: La alta transmitancia de rayos X (>90%) de las ventanas de berilio garantiza la intensidad de la señal de detección. La etapa de muestra multifuncional admite el cambio automático de muestra y es adecuada para pruebas de alto rendimiento. En general, los accesorios de batería originales son herramientas importantes para la investigación electroquímica, ya que su diseño optimiza el proceso de ensamblaje de las estructuras de simulación de baterías tradicionales y mejora la confiabilidad y aplicabilidad de las pruebas originales.

El accesorio de medición integrado multifuncional del difractómetro de rayos X (DRX) es un componente clave para el análisis multiescena y multiescala. Gracias a su diseño modular, satisface las necesidades de difracción de polvo, dispersión angular pequeña, análisis de tensiones residuales, ensayos in situ, etc. A continuación, se presentan los accesorios de medición integrados multifuncionales más comunes y sus funciones principales: 1. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de temperatura y ambiente. (1) Función: Admite pruebas de muestras bajo control de alta temperatura, baja temperatura y humedad, y se utiliza para estudiar los cambios en la estructura cristalina de los materiales en diferentes condiciones de temperatura o humedad. (2) Características: Rango de temperatura: desde temperatura ambiente hasta 1500 ℃; Control automático de temperatura y regulación de humedad, adecuado para catálisis in situ, análisis de cambio de fase y otros experimentos. (3) Aplicación: Transición de fase de materiales metálicos, análisis de la cristalinidad de polímeros, investigación sobre la estabilidad térmica de materiales inorgánicos. 2. Muestreador automático y platina de muestra para accesorios de medición integrados multifuncionales (1) Función: Implementa el cambio automático y el posicionamiento preciso de múltiples muestras para mejorar la eficiencia de la prueba. (2) Características: Accesorios de apoyo como mesas de rotación de muestras y mesas de microdifracción para pruebas direccionales de muestras complejas; Colabore con software inteligente para optimizar los parámetros de medición e identificar automáticamente las configuraciones de muestra. (3) Aplicación: Pruebas de muestras por lotes, análisis de películas delgadas o microáreas. 3. Accesorios de medición integrados multifuncionales adecuados para detectores bidimensionales y detectores unidimensionales de alta velocidad (1) Función: Admite la recopilación de datos multidimensionales para mejorar la capacidad de análisis de muestras complejas. (2) Características: Detector unidimensional de alta velocidad, adecuado para difracción de polvo convencional; Detector de matriz de semiconductores bidimensional que puede cambiar entre modos de dimensión cero, unidimensional o bidimensional, ampliando las capacidades de prueba in situ dinámicas o de área micro. (3) Aplicación: Análisis de orientación de cristales de materiales 2D, monitoreo dinámico de reacciones in situ. 4. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de difracción de microárea y tensión residual. (1) Función: Realizar pruebas direccionales en la distribución de tensión o en pequeñas áreas de la superficie de los materiales. (2) Características: Combina el sistema óptico θ/θ con una fuente de rayos X de microfoco para lograr una microdifracción de nivel submilimétrico; medición no destructiva, utilizada para el análisis de tensión de piezas de metal y dispositivos semiconductores. (3) Aplicación: Pruebas de fatiga de componentes aeroespaciales, caracterización de tensiones de películas delgadas de semiconductores. 5. El accesorio de medición integrado multifuncional es un accesorio de control de automatización y calibración inteligente. (1) Función: Garantizar la precisión y consistencia de las pruebas mediante el reconocimiento de componentes y la tecnología de calibración automática. (2) Características: Configuración de accesorios de reconocimiento automático de código QR, condiciones de prueba óptimas guiadas por software; Programa de calibración completamente automático para reducir errores de operación humana. (3) Aplicación: Cambio de accesorios complejos (como modo de alta temperatura + AXS), operación fácil para principiantes. El diseño de accesorios de los difractómetros de rayos X modernos prioriza la modularidad, la inteligencia y la automatización. Mediante la colaboración entre software y hardware, es posible cambiar rápidamente los accesorios, optimizar los parámetros y estandarizar los datos. Las tendencias futuras incluyen capacidades de análisis de microáreas de mayor precisión, soluciones integradas para pruebas dinámicas in situ y sistemas inteligentes de gestión de accesorios basados ​​en inteligencia artificial.

Dandong Tongda Technology se especializa en el desarrollo de adaptadores de difracción de ángulo pequeño, componentes específicos para difractómetros de rayos X. Con un rango de ángulo de difracción de 0° a 5°, estos adaptadores permiten la medición precisa del espesor de películas multicapa a nanoescala y facilitan el análisis estructural de nanomateriales. Diseñados para una compatibilidad perfecta con los difractómetros TD-3500, TD-3700 y otras series, se utilizan ampliamente para la caracterización de materiales a nanoescala en campos como la ciencia de los materiales, la ingeniería química, la geología y la mineralogía. Gracias a la incorporación de tecnología de control PLC importada y un diseño modular, estos adaptadores mejoran significativamente la automatización y la estabilidad operativa del equipo. Los instrumentos de la serie TD cumplen con los estándares internacionales y se han exportado con éxito a países como Estados Unidos y Azerbaiyán, brindando un apoyo técnico crucial para la investigación global de nanomateriales.