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El accesorio de medición de películas ópticas paralelas de Dandong Tongda es un componente especializado para difractómetros de rayos X que mejora significativamente el rendimiento de las pruebas de muestras de películas delgadas. Su diseño de rejilla alargada suprime eficazmente la interferencia de dispersión, mejorando la claridad de la señal para películas ultrafinas y nanomulticapa. Este accesorio permite realizar análisis de difracción de ángulo pequeño (0°–5°), lo que posibilita la medición precisa del espesor de la película y las estructuras de la interfaz. Compatible con los difractómetros TD-3500, TD-5000, TD-3700 y TDM-20, garantiza un rendimiento uniforme en todas las plataformas. Esta herramienta, ampliamente utilizada en la inspección de semiconductores, la evaluación de recubrimientos ópticos y la investigación de nuevos materiales energéticos, permite superar desafíos como las señales débiles y el ruido de fondo. Con el avance de las industrias de nanomateriales y semiconductores, este accesorio está destinado a desempeñar un papel cada vez más crucial en la investigación de vanguardia y el control de calidad.

Los accesorios in situ para temperatura media y baja son accesorios de equipos experimentales utilizados para el análisis de materiales, principalmente para ensayos in situ en entornos de temperatura baja o media-baja. Combinados con un entorno de vacío, control de temperatura y un diseño especial de material de ventana, se utilizan ampliamente en campos como la química, la ciencia de los materiales y la investigación catalítica. 1. Funciones principales y parámetros técnicos de los accesorios in situ de temperatura media y baja (1) Rango de temperatura y precisión de control Admite un rango de temperatura de -196 °C a 500 °C en un entorno de vacío (como refrigeración con nitrógeno líquido), con una precisión de control de temperatura de ± 0,5 °C. Algunos modelos pueden abarcar temperaturas de -150 °C a 600 °C, lo que los hace adecuados para una gama más amplia de necesidades experimentales. (2) Método de refrigeración y sistema de enfriamiento Utiliza refrigeración con nitrógeno líquido, con un consumo inferior a 4 L/h, y mantiene una temperatura estable mediante un sistema de refrigeración con circulación de agua desionizada. Opcionalmente, se puede optar por un sistema de refrigeración con nitrógeno líquido de baja temperatura (como la serie Cryostream). (3) Materiales de ventanas y diseño estructural El material de la ventana es principalmente película de poliéster (como la serie TD) y algunas configuraciones infrarrojas utilizan ventanas de KBr o SiO2. La estructura incluye un diseño resistente a alta presión (como 133 kPa) y está equipada con múltiples entradas/salidas de gas, adecuadas para reacciones in situ o control de atmósfera. 2. Campos de aplicación de los accesorios in situ de temperatura media y baja (1) Investigación de materiales Se utiliza para ensayos in situ de difractómetros de rayos X (como el TD-3500) para estudiar cambios en la estructura cristalina y los procesos de transición de fase a bajas temperaturas. Apoya la investigación sobre catálisis heterogénea, interacciones gas-sólido, reacciones fotoquímicas, etc. (2) Investigación electroquímica y de baterías Se puede extender a accesorios de batería in situ para probar compuestos en sistemas electroquímicos (como carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, etc.), con una resistencia a la temperatura de hasta 400 ℃. (3) Aplicaciones industriales Los productos de Dandong Tongda Technology (serie TD) se han aplicado en los campos de la química, la ingeniería química, la geología, la metalurgia, etc., y se han exportado a países como Estados Unidos y Azerbaiyán. 3. Productos y marcas típicas de accesorios in situ para temperatura media y baja Tecnología Dandong Tongda (Serie TD) Los accesorios para difractómetros de rayos X, como el TD-3500 y el TD-3700, destacan por su control de temperatura de alta precisión (± 0,5 °C) y su eficiente refrigeración con nitrógeno líquido. Son ideales para mediciones por espectroscopia de reflectancia difusa, con cámara de reacción de acero inoxidable, configuración multiventana (compatible con FTIR o UV-VIS) y compatibilidad con entornos de alto vacío hasta 133 kPa. En general, los accesorios in situ de temperatura media y baja se han convertido en una herramienta importante para el análisis in situ de materiales gracias al control preciso de la temperatura, el entorno de vacío y el diseño de ventanas adaptado a diferentes instrumentos. Desempeñan un papel fundamental en el estudio de las estructuras cristalinas a baja temperatura y la exploración de los mecanismos de reacción catalítica.

Comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura y los cambios en la disolución mutua de diversas sustancias durante dicho calentamiento. El dispositivo de alta temperatura in situ es un dispositivo experimental utilizado para la caracterización in situ de materiales en condiciones de alta temperatura, principalmente para estudiar procesos dinámicos como cambios en la estructura cristalina, transiciones de fase y reacciones químicas de los materiales durante el calentamiento a alta temperatura. A continuación, se presenta una introducción detallada sobre parámetros técnicos, escenarios de aplicación y precauciones: Más, Parámetros técnicos de los accesorios de alta temperatura in situ 1. Rango de temperatura de los accesorios de alta temperatura in situ Ambiente de gas inerte/vacío: La temperatura máxima puede alcanzar los 1600 ℃. Entorno estándar: Temperatura ambiente hasta 1200 ℃ (como se proporciona en el accesorio TD-3500 XRD). 2. Precisión del control de temperatura de los accesorios de alta temperatura in situ: generalmente ± 0,5 ℃ (como los accesorios de alta temperatura in situ), y la precisión de algunos equipos por encima de 1000 ℃ es ± 0,5 ℃. 3. Materiales de ventanas y métodos de enfriamiento para fijaciones de alta temperatura in situ Material de la ventana: Película de poliéster (resistente a temperaturas de 400 ℃) o lámina de berilio (espesor 0,1 mm), utilizada para la penetración de rayos X. Método de enfriamiento: El enfriamiento por circulación de agua desionizada garantiza un funcionamiento estable del equipo en condiciones de alta temperatura. 4. Control de atmósfera y presión de accesorios de alta temperatura in situ: Admite gases inertes (como Ar, N₂), vacío o ambientes atmosféricos y algunos modelos pueden soportar presiones inferiores a 10 bar. El caudal de gas atmosférico se puede ajustar (0,7-2,5 L/min), adecuado para entornos con gases corrosivos. Más, Escenarios de aplicación de accesorios de alta temperatura in situ 1. Investigación de materiales sobre fijaciones de alta temperatura in situ Analizar los cambios en la estructura cristalina (como la transición de fase del platino) y los procesos de transición de fase (como la fusión y la sublimación) a altas temperaturas. Estudiar las reacciones químicas de los materiales a altas temperaturas, como la disolución y la oxidación. 2. Adaptabilidad de los equipos de fijación in situ para altas temperaturas Se utiliza principalmente en difractómetros de rayos X (XRD), como TD-3500, TD-3700, etc. También se puede utilizar para pruebas de tracción in situ mediante microscopía electrónica de barrido (SEM), con conexiones de brida personalizadas requeridas. Precauciones para el uso de accesorios de alta temperatura in situ 1. Requisitos de muestra para accesorios de alta temperatura in situ Es necesario comprobar previamente la estabilidad química de la muestra en el rango de temperatura objetivo para evitar su descomposición en ácidos/bases fuertes o la formación de enlaces cerámicos. La forma de la muestra debe cumplir con los requisitos del accesorio (por ejemplo, grosor de 0,5 a 4,5 mm y diámetro de 20 mm). 2. Procedimientos operativos experimentales para accesorios de alta temperatura in situ Es necesario controlar la velocidad de calentamiento (p. ej., máximo 200 °C/min a 100 °C) para evitar el sobrecalentamiento y dañar el equipo. Tras el experimento, la muestra debe enfriarse a temperatura ambiente para evitar daños estructurales.

Funciones principales y escenarios de aplicación de los accesorios de batería originales Posicionamiento funcional de los accesorios de batería originales: 1. Implementar pruebas en tiempo real durante los procesos de carga y descarga de la batería (como XRD, observación óptica, etc.) para evitar la pérdida de datos o la contaminación de la muestra causada por el desmontaje tradicional. 2. Simule el entorno de trabajo de baterías reales, admita control de temperatura, adición de electrolitos y garantía de sellado. Escenarios de aplicación típicos de los accesorios de batería originales: 1. Pruebas in situ de XRD: analizan los cambios de fase cristalina de los materiales de los electrodos (como LiFePO4) durante los procesos de carga y descarga. 2.Observación óptica in situ: Observe la reacción de la superficie del electrodo a través de una ventana de berilio (película de poliéster). 3. Prueba de alto rendimiento: admite la investigación del rendimiento de la batería en múltiples condiciones (temperatura, presión, electrolito). 4. Ampliamente utilizado en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, complejos incrustados en metales, etc.    Composición estructural y propiedades de los materiales de los accesorios de batería originales 1.Componentes principales de los accesorios de batería originales: Cubierta de aislamiento inferior: hecha principalmente de cerámica de alúmina o material de politetrafluoroetileno, incluye cámara de instalación y canal de flujo de refrigerante, lo que favorece el control de temperatura. Cubierta conductora superior: diseñada con orificios pasantes, atornillada a la cubierta aislante inferior para formar una ruta de corriente. Electrodo inferior: incluye placa superior y columna de soporte, fijado mediante compresión de resorte mariposa, simplificando el proceso de montaje. Ventana de berilio (película de poliéster): diámetro 15 mm (personalizable), espesor 0,1 mm (personalizable), utilizada para penetración de rayos X u observación óptica. 2. Mejora técnica de los accesorios de batería originales: Ensamblaje formal: reemplaza los métodos invertidos tradicionales, simplifica el proceso de operación y reduce el impacto de la compresión en los materiales del separador y del electrodo positivo. Refrigeración y calefacción: La cubierta de aislamiento inferior integra un canal de refrigerante o una tubería de cable de resistencia, que admite un control de temperatura de -400 ℃. Diseño de sellado: El resorte de mariposa comprime y fija el electrodo inferior y coopera con el flujo de aire del asiento de instalación para soplar y evitar la formación de escarcha y hielo. Ventajas técnicas de los accesorios de batería originales 1. Operación conveniente de los accesorios de batería originales: La estructura formal reduce el tiempo de operación dentro de la guantera y disminuye la complejidad del montaje. El diseño modular de componentes (como ventanas de berilio reemplazables y mangas de aislamiento) mejora la eficiencia del mantenimiento. 2. Parámetros de rendimiento: Rango de prueba: Rango de temperatura de 0,5 a 160 ℃, resistencia a temperaturas de hasta 400 ℃. Sellado: favorece el almacenamiento estable a largo plazo del electrolito para evitar fugas. Compatibilidad: Adecuado para difractómetros de rayos X y otros equipos.

Los accesorios de fibra para XRD y FTIR ofrecen soluciones completas para la caracterización de materiales. Las unidades XRD analizan la estructura y orientación cristalina, mientras que los sistemas FTIR identifican la composición mediante microimagen y tecnología ATR. Entre los accesorios se incluyen difracción de ángulo pequeño, película delgada de haz paralelo y etapas de temperatura in situ para análisis a nanoescala. La manipulación automatizada de muestras mejora la eficiencia. Sus aplicaciones abarcan la investigación de materiales, el control de calidad industrial y los estudios científicos del dicroísmo de polímeros. Estas herramientas continúan evolucionando, impulsando innovaciones en la ciencia de las fibras y sus aplicaciones industriales.

El accesorio de medición integrado multifuncional permite un análisis preciso de textura, tensión y películas delgadas. Admite mapeo de figuras polares, medición de tensión biaxial y rotación en el plano. Ideal para metales, cerámicas, recubrimientos y polímeros. Ofrece una precisión de paso de 0,001° y una capacidad de muestra de Φ100 mm.

En el difractómetro de rayos X, los accesorios de medición integrados multifuncionales son un componente crucial que mejora considerablemente la funcionalidad y la flexibilidad del instrumento. Se utilizan para el análisis de películas en placas, bloques y sustratos, y permiten realizar pruebas como la detección de fase cristalina, la orientación, la textura, la tensión y la estructura en el plano de películas delgadas. Descripción básica de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Definición: Es un término general para una serie de dispositivos o módulos adicionales utilizados en el difractómetro de rayos X para ampliar las funciones del instrumento, mejorar la precisión y la eficiencia de la medición. Propósito: Estos accesorios tienen como objetivo permitir que el difractómetro de rayos X satisfaga una gama más amplia de necesidades experimentales y proporcione información más completa y precisa sobre la estructura del material. Características funcionales de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Realizar pruebas de diagrama polar utilizando métodos de transmisión o reflexión; Las pruebas de estrés se pueden realizar utilizando el método de inclinación paralela o el mismo método de inclinación; Prueba de película delgada (rotación en el plano de la muestra). Características técnicas de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Alta precisión: generalmente utilizan tecnología de detección avanzada y sistemas de control para garantizar una alta precisión y repetibilidad de las mediciones. Automatización: muchos accesorios admiten operaciones automatizadas y pueden integrarse perfectamente con el host del difractómetro de rayos X para lograr una medición con un solo clic. Diseño modular: facilita a los usuarios seleccionar y combinar diferentes módulos de accesorios según sus necesidades reales. Áreas de aplicación de los accesorios de medición integrados multifuncionales: Ampliamente utilizado en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química, la biología y la geología; Evaluación de estructuras de conjuntos metálicos tales como placas laminadas; Evaluación de la orientación cerámica; Evaluación de la orientación prioritaria del cristal en muestras de película delgada; Ensayos de tensión residual de diversos materiales metálicos y cerámicos (evaluación de resistencia al desgaste, resistencia al corte, etc.); Pruebas de tensión residual de películas multicapa (evaluación del desprendimiento de películas, etc.); Análisis de oxidación superficial y películas de nitruro en materiales superconductores de alta temperatura como películas delgadas y placas metálicas; Vidrio Si, Análisis de películas multicapa sobre sustratos metálicos (películas delgadas magnéticas, películas de endurecimiento de superficies metálicas, etc.); Análisis de materiales de galvanoplastia como materiales macromoleculares, papel y lentes. Los accesorios de medición multifuncionales integrados en el difractómetro de rayos X son clave para mejorar el rendimiento del instrumento. No solo mejoran su funcionalidad, sino que también mejoran la precisión y la eficiencia de la medición, proporcionando a los investigadores métodos de análisis de materiales más completos y profundos. Con el continuo avance tecnológico, estos accesorios seguirán desempeñando un papel importante en el fomento de la investigación científica en campos relacionados para lograr nuevos avances.

El accesorio de alta temperatura de un difractómetro es un dispositivo adicional que permite realizar análisis de difracción de rayos X en muestras a alta temperatura. Este dispositivo permite comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura, así como los cambios en la disolución mutua de diversas sustancias durante dicho calentamiento. Principio de funcionamiento del accesorio de alta temperatura: Mediante métodos como calentamiento por resistencia, calentamiento por inducción o calentamiento por radiación, la muestra se calienta dentro de un rango de temperatura establecido. Al mismo tiempo, está equipado con sensores de temperatura de alta precisión y sistemas de control para monitorear y ajustar la temperatura de la muestra en tiempo real, garantizando la estabilidad y precisión de la temperatura. La precisión del control de temperatura puede alcanzar ±0,5 °C o incluso más. Para mantener la estabilidad de la muestra a altas temperaturas y evitar que reaccione con el oxígeno del aire, los accesorios de alta temperatura suelen requerir un sistema de protección de atmósfera. Las atmósferas comunes incluyen gases inertes como argón, nitrógeno, etc. El sistema de control de atmósfera puede controlar con precisión el caudal y la presión de la atmósfera, proporcionando un entorno experimental estable para la muestra. Las funciones principales del accesorio de alta temperatura son: El monitoreo en tiempo real de la transición de fase de la muestra, las reacciones químicas, los cambios en la estructura cristalina y otros procesos se puede realizar en entornos de alta temperatura para obtener información sobre la estructura y las propiedades de las sustancias a diferentes temperaturas. Mediante el análisis de la posición, la intensidad y la forma de los picos de difracción, se pueden obtener los parámetros de la celda cristalina, la estructura cristalina, la composición de la fase y otra información de la muestra, y se puede medir con precisión el contenido de cada componente. Estudie la velocidad, el mecanismo y el comportamiento de difusión de las reacciones químicas. Por ejemplo, observe los cambios estructurales de los catalizadores durante las reacciones a alta temperatura, comprenda la formación y desaparición de sus centros activos y optimice su rendimiento. Área de aplicación del accesorio de alta temperatura: Se utiliza para estudiar la transición de fase, la evolución de la estructura cristalina y los cambios de rendimiento de materiales superconductores de alta temperatura, aleaciones metálicas, materiales cerámicos, etc., a diferentes temperaturas, lo que proporciona una base para el diseño y la preparación de materiales. El seguimiento de los cambios en las sustancias durante las reacciones químicas, como el estudio de los cambios estructurales de los catalizadores y la evolución de los centros activos en reacciones catalíticas de alta temperatura, puede contribuir al desarrollo de catalizadores eficientes. Estudia las propiedades físicas de las sustancias a altas temperaturas, como el magnetismo, la estructura electrónica y su relación con la temperatura, y explora nuevos fenómenos y leyes físicas. Parámetros técnicos del accesorio de alta temperatura: Ajuste de temperatura: Entorno de gas inerte desde temperatura ambiente hasta 1200 ℃ Entorno de vacío: alta temperatura de 1600 ℃ Precisión del control de temperatura: ± 0,5 ℃ Material de la ventana: Película de poliéster Método de enfriamiento: enfriamiento por circulación de agua desionizada En resumen, el accesorio de alta temperatura en el difractómetro es una herramienta de prueba importante que puede realizar análisis de difracción de rayos X en muestras en condiciones de alta temperatura, lo que proporciona un fuerte respaldo para la investigación en campos como la ciencia de los materiales, la ingeniería química y la física.

El accesorio de medición de película óptica paralela es un componente óptico que se utiliza para mejorar la intensidad de la señal de películas delgadas y reducir la influencia de las señales del sustrato en los resultados de la medición. Generalmente se utiliza en experimentos o instrumentos ópticos, principalmente para generar haces paralelos o realizar mediciones ópticas en muestras de película delgada. Al aumentar la longitud de la rejilla, se puede lograr un control y filtrado de la luz más precisos. Cuando la luz pasa a través de ella, la placa de rejilla puede filtrar más líneas dispersas, lo que hace que la luz transmitida sea más pura y más concentrada, reduciendo así la interferencia de la luz dispersa en la señal de la película delgada y mejorando la intensidad de la señal de la propia película delgada, mejorando la precisión y confiabilidad de la medición. 1. Función principal del accesorio de medición de película óptica paralela Mejora de la precisión de la medición: en la detección y el análisis relacionados con películas delgadas, como la medición del espesor de películas delgadas, la determinación de la constante óptica, etc., los accesorios de película delgada de luz paralela pueden reducir eficazmente la influencia de las señales del sustrato, haciendo que los resultados de la medición sean más cercanos a las características reales de la película delgada, mejorando así la precisión y exactitud de la medición. Mejora de la intensidad de la señal: ayuda a aumentar la intensidad de la señal luminosa reflejada o transmitida por la película fina, lo que es particularmente importante para algunas muestras de película fina con señales más débiles. La señal mejorada puede ser recibida y reconocida con mayor claridad por el detector, lo que reduce el límite de detección y mejora la sensibilidad del instrumento para detectar muestras de película fina. Mejora de la calidad de la imagen: en algunas aplicaciones que requieren la observación de imágenes de películas delgadas, como la observación de la morfología de la superficie de películas delgadas bajo un microscopio, los accesorios de película delgada de luz paralela pueden reducir el ruido de fondo y la borrosidad causada por la luz dispersa, lo que hace que la imagen de la película delgada sea más clara, tenga mayor contraste y sea más fácil observar y analizar la estructura detallada de la película delgada. 2. Componentes principales del accesorio de medición de película óptica paralela Fuente de luz: normalmente se utilizan láseres, LED u otras fuentes de luz monocromáticas. Lente colimadora: convierte los haces de luz divergentes en luz paralela. Soporte de muestra: se utiliza para colocar muestras de película, generalmente ajustable en posición y ángulo. Detector: se utiliza para recibir señales de luz transmitidas o reflejadas para medición y análisis. 3. Campos de aplicación del accesorio de medición de película óptica paralela Investigación óptica: se utiliza para estudiar las propiedades ópticas de películas delgadas, como interferencia, difracción, etc. Ciencia de los materiales: se utiliza para medir el espesor y el índice de refracción de películas delgadas y evaluar las propiedades del material. Pruebas industriales: se utilizan para el control de calidad y las pruebas en la producción de películas. 4. Instrucciones para el accesorio de medición de película óptica paralela Ajuste la fuente de luz: asegúrese de que la fuente de luz sea estable y el haz sea uniforme. Haz colimado: ajusta el haz de luz a través de una lente colimadora para hacerlo paralelo. Colocar la muestra: Coloque la muestra de película en la platina de muestra, ajuste la posición y el ángulo. Medición y análisis: Utilice detectores para recibir señales de luz, registrar datos y realizar análisis. 5. Precauciones Estabilidad de la fuente de luz: asegúrese de la estabilidad de la fuente de luz para evitar errores de medición. Limpieza de componentes ópticos: Mantenga los componentes ópticos limpios para evitar que el polvo y las manchas afecten los resultados de la medición. Preparación de la muestra: Asegúrese de que la muestra de película sea uniforme y libre de defectos para obtener resultados de medición precisos. En resumen, el accesorio de medición de película óptica paralela es un componente óptico importante que juega un papel crucial en múltiples campos y es de gran importancia en la promoción de la investigación científica y el progreso tecnológico en campos relacionados.

El accesorio de temperatura media y baja de un difractómetro de rayos X es un componente clave utilizado para el análisis de difracción de rayos X en entornos de baja temperatura. El accesorio de temperatura media y baja se usa ampliamente en trabajos de investigación y desarrollo en ciencia de materiales, física, química y otros campos, especialmente adecuado para escenarios que requieren análisis estructural de materiales en diferentes condiciones de temperatura. Para comprender los cambios en la estructura cristalina durante el proceso de refrigeración a baja temperatura, los siguientes son los parámetros técnicos del accesorio de temperatura media y baja: Entorno de vacío: 196 ~ 500 ℃ Precisión del control de temperatura: ± 0,5 ℃ Método de refrigeración: nitrógeno líquido (consumo inferior a 4L/h) Material de la ventana: Película de poliéster. Método de enfriamiento: enfriamiento por circulación de agua desionizada. En resumen, el accesorio de temperatura media y baja del difractómetro de rayos X es un componente importante del equipo que puede brindar un fuerte apoyo para la investigación científica y el análisis de materiales. El accesorio de temperatura media y baja de un difractómetro es una de las herramientas importantes en el campo del análisis de la estructura de los materiales, con amplias perspectivas de aplicación y un valor de investigación significativo. El accesorio de temperatura media y baja del difractómetro es un componente clave para garantizar el funcionamiento normal y la medición precisa del instrumento en condiciones de baja temperatura. Su diseño y rendimiento afectan directamente la precisión y confiabilidad de los resultados experimentales. Al seleccionar y aplicar el accesorio de temperatura media y baja, se deben considerar completamente los requisitos experimentales, las características de la muestra, así como los parámetros técnicos y las características de rendimiento de los accesorios para garantizar los mejores resultados experimentales.