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Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño son accesorios importantes que se utilizan en difractómetros de rayos X. Los accesorios para difractómetros de ángulo pequeño permiten realizar mediciones de difracción de rayos X dentro de un rango de ángulos muy pequeño, de 0° a 5°, para pruebas de espesor de nanopelículas multicapa. Desempeñan un papel importante en campos como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología. Tipos y características comunes: Accesorio de película delgada de luz paralela: este accesorio puede generar haces de rayos X paralelos y es adecuado para mediciones de difracción de ángulos pequeños de muestras de película delgada. Puede mejorar la precisión y la resolución de las mediciones, reducir los errores de medición causados ​​por la divergencia del haz y adaptarse mejor a muestras de película delgada de diferentes espesores y propiedades. Platina de muestra multifuncional: Equipada con accesorios de difracción de ángulo pequeño, la platina de muestra multifuncional puede proporcionar varios entornos de prueba para muestras, como calentamiento, enfriamiento, estiramiento in situ, etc. Esto hace que sea más conveniente estudiar los cambios estructurales de los materiales en diferentes condiciones externas y permite la observación en tiempo real de la respuesta estructural de los materiales durante la temperatura, el estrés y otros cambios. Los accesorios del difractómetro de ángulo pequeño juegan un papel importante en múltiples campos, como la ciencia de los materiales, la física, la química y la biología, al lograr una difracción de ángulo pequeño y una medición precisa del espesor de película nanométrica multicapa, proporcionando a los investigadores una herramienta poderosa para la exploración en profundidad de las microestructuras y propiedades de los materiales.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la cristalinidad de la fibra y el ancho de medio pico. Un componente especializado que se utiliza para analizar materiales de fibra como textiles, fibras poliméricas, fibras biológicas, etc. Se utiliza comúnmente para estudiar la estructura cristalina, la orientación y la disposición molecular de las fibras. Funciones principales de los accesorios de fibra: 1. Fijación de la muestra de fibra: Los accesorios de fibra se utilizan para fijar la muestra de fibra, asegurando su posición y estabilidad de dirección en el haz de rayos X. 2. Análisis de la orientación de las fibras: ajustando la posición y el ángulo de la muestra, se estudia la orientación de los cristales y la disposición molecular de las fibras. 3. Dispersión de rayos X de ángulo pequeño (SAXS): algunos accesorios de fibra admiten SAXS para analizar la estructura a nanoescala de las fibras. Tipos comunes de accesorios de fibra: 1. Dispositivo de estiramiento de fibra: puede aplicar tensión a las fibras durante el análisis XRD para estudiar cambios estructurales bajo estrés. 2. Platina de muestra giratoria: permite que las muestras de fibra giren, lo que facilita la recopilación de datos de difracción desde diferentes ángulos. 3. Accesorios de control de temperatura: se utilizan para analizar materiales de fibra a temperaturas específicas y estudiar el efecto de la temperatura en la estructura. Campos de aplicación de los accesorios de fibra: 1. Ciencia de los materiales: estudia la estructura cristalina y las propiedades mecánicas de fibras sintéticas como el nailon y el poliéster. 2. Biomateriales: Analizar la estructura de fibras naturales como el colágeno y la celulosa. 3. Textiles: Evaluar la orientación y cristalinidad de las fibras textiles. Pasos para utilizar accesorios de fibra: 1. Preparación de la muestra: Fije la muestra de fibra en el accesorio. 2. Ajustar parámetros: configure la fuente de rayos X, el detector y las posiciones de la muestra. 3. Recopilación de datos: Recopilar patrones de difracción. 4. Análisis de datos: Utilizar software para analizar datos de difracción y obtener información estructural. Asuntos que requieren atención: -Alineación de la muestra: asegúrese de que la muestra esté alineada con precisión con el haz de rayos X. -Optimización de parámetros: Optimice la energía de los rayos X, el tiempo de exposición, etc. en función de las características de la muestra. -Calidad de los datos: garantizar patrones de difracción claros y evitar interferencias de ruido. Nuestra empresa ofrece capacitación en sitio sobre el uso de instrumentos y conocimientos relacionados con la industria, así como el uso y mantenimiento posterior del software de análisis y servicios completos de mantenimiento de máquinas.

El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

Los accesorios de fibra se prueban para determinar su estructura cristalina única mediante el método de difracción (transmisión) de rayos X. Pruebe la orientación de la muestra en función de datos como la textura de la fibra y el ancho de medio pico.

El accesorio de temperatura media y baja está diseñado para comprender los cambios en la estructura cristalina durante el proceso de refrigeración a baja temperatura.

El accesorio de medición de película óptica paralela aumenta la longitud de la placa de rejilla para filtrar más líneas dispersas, lo que es beneficioso para reducir la influencia de la señal del sustrato en los resultados y mejorar la intensidad de la señal de la película.

Los accesorios de alta temperatura están diseñados para comprender los cambios en la estructura cristalina de las muestras durante el calentamiento a alta temperatura, así como los cambios en la disolución mutua de varias sustancias durante el calentamiento a alta temperatura.

El accesorio de alta temperatura in situ de Dandong Tongda permite el análisis en tiempo real de cambios estructurales en materiales de hasta 1600 °C con una precisión de ±1 °C. Ideal para la investigación de superconductores, cerámicas y películas delgadas, se exporta a todo el mundo.

El cambiador automático de muestras utiliza un motor paso a paso importado y un controlador lógico programable (PLC) como sistema de control principal. La selección de estos dos componentes clave garantiza significativamente la precisión, la estabilidad y la fiabilidad a largo plazo del funcionamiento del equipo. El flujo de trabajo del cambiador automático de muestras está diseñado para ser simple y eficiente: El operador precarga hasta seis muestras secuencialmente en posiciones designadas del cambiador de muestras. Después de configurar los parámetros de medición a través del sistema de control, el cambiador de muestras comienza a funcionar. Siguiendo las instrucciones del programa, entrega de manera automática y precisa cada muestra en secuencia a la posición de medición del difractómetro de rayos X. Una vez que se completa la medición de una muestra, el dispositivo la retira automáticamente y entrega rápidamente la siguiente muestra hasta que se midan todas las muestras. Los datos de medición se guardan automáticamente, lo que facilita la revisión y el análisis posteriores y reduce los errores de registro que pueden surgir de las operaciones manuales. Todo el proceso no requiere intervención manual, lo que permite al operador liberar tiempo para otras tareas y evitar posibles errores relacionados con la fatiga debido a una operación prolongada. Además de la función básica de cambio automático de muestra, el equipo también cuenta con varias características destacables: Mejora de la eficiencia: permite la medición automática continua sin supervisión, lo que lo hace especialmente adecuado para la detección rápida de muestras por lotes o análisis secuenciales durante períodos prolongados. Consistencia de los datos: el proceso automatizado reduce la intervención humana, lo que ayuda a mejorar la repetibilidad y comparabilidad de los datos de medición. Facilidad de operación: El sistema de control basado en PLC suele ser estable y fácil de usar, lo que reduce el umbral operativo. Aplicación flexible: se utiliza principalmente en campos como protección ambiental, electrónica/baterías y otras áreas que requieren tecnologías de análisis de materiales. Este cambiador automático de muestras sirve principalmente para el campo de aplicación del análisis de difracción de rayos X (XRD). Dandong Tongda Science and Technology Co., Ltd. cuenta con amplia experiencia en el campo de los instrumentos analíticos. Su serie TD de instrumentos analíticos y equipos de ensayos no destructivos se aplica en diversos campos de investigación de materiales. Este cambiador automático de muestras de 6 o 12 posiciones refleja el enfoque de la compañía de integrar la tecnología de automatización en los equipos de ensayo tradicionales para mejorar la eficiencia general. Como accesorio funcional, funciona en coordinación con los difractómetros de rayos X, optimizando las capacidades de automatización del instrumento anfitrión.

Este accesorio de película delgada para difractómetros de rayos X permite el análisis de alta precisión de películas sobre sustratos. Su óptica optimizada suprime la interferencia del sustrato, optimizando las señales débiles de la película para obtener datos fiables desde nanómetros hasta micrómetros. Esencial para I+D en electrónica, semiconductores y nuevas energías.