La tensión residual tiene un gran impacto en la estabilidad dimensional, la resistencia a la corrosión por tensión, la resistencia a la fatiga, el cambio de fase y otras propiedades de los materiales y componentes. Su medición ha sido ampliamente preocupada por la academia y la industria.

Recientemente, un nuevo estudio fusionó con éxito óxidos metálicos con zeolita A y reveló el misterio de este proceso mediante la tecnología XRD y FTIR.

XRD, es la abreviatura de difracción de rayos X. Como persona material, no importa qué material se haga, XRD es el medio de caracterización más básico y más utilizado.

La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basada en una fuente de luz de radiación sincrotrón.

Cuando un haz de rayos X extremadamente delgado pasa a través de un material con una densidad electrónica desigual de tamaño nanométrico, los rayos X se dispersarán en una pequeña región angular cerca de la dirección del haz original; este fenómeno se llama ángulo X pequeño. -dispersión de rayos.

La dispersión de rayos X de ángulo pequeño es la dispersión difusa de electrones en rayos X en el rango de ángulo pequeño cerca del haz original. La dispersión de ángulo pequeño ocurre en todos los materiales con una densidad de electrones no uniforme en la escala nanométrica.

La difracción de rayos X de ángulo pequeño (SAXD) se utiliza principalmente para determinar el espaciado de caras de cristales muy grandes o la estructura de películas delgadas.

¡Feliz día de la mujer! ¡En este feliz festival, puedes pasar unas felices y agradables vacaciones! ¡Disfruta, tómatelo con calma y descansa! Espero que puedas ser feliz todos los días, ¡ten siempre buen humor!

El uso de rayos X para estudiar la estructura de los cristales principalmente a través del fenómeno de difracción de rayos X en el cristal.