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Los estudios petrológicos suelen requerir la identificación de composiciones minerales en las rocas, especialmente aquellas que son menos abundantes. Por tanto, el análisis cualitativo de minerales es la aplicación más importante de la difracción de rayos X en el estudio de la petrología mineral.
Casi todos los laboratorios analíticos que apoyan a la industria farmacéutica tienen tanto instrumentos de análisis térmico como difractómetros de rayos X en polvo. Combinando DSC y XRD en una medición simultánea, datos térmicos y datos de difracción en la misma muestra se puede obtener información valiosa.
Los polímeros comúnmente se sintetizan como fibras, láminas y otras formas sólidas. Sus propiedades se ven muy afectadas por sus parámetros estructurales, como la cristalinidad, la estructura cristalina y la orientación, y pueden estudiarse mediante XRD.
La difracción de rayos X se divide en dos tipos de difracción de monocristal y difracción de polvo, el monocristal se utiliza principalmente para la determinación del peso molecular y la estructura cristalina, el polvo se utiliza principalmente para la identificación y pureza de sustancias cristalinas.
Dandong Tongda Technology Co., Ltd. es un fabricante profesional de difractómetros de rayos X, tiene una trayectoria de 14 años y ha cooperado con muchas universidades y empresas nacionales y extranjeras.
Con el desarrollo de la tecnología de detección XRD, la miniaturización de los instrumentos, el bajo consumo de energía y el uso sencillo, la detección inteligente se está volviendo cada vez más popular y se ha convertido en la tendencia de los instrumentos.
El nuevo espectrómetro de rayos X de imágenes de gran superficie y alta resolución angular revelará los impulsores fundamentales de la evolución galáctica que dejan su huella en el plasma cálido que los cosmólogos creen que existe en el espacio intergaláctico.
Un difractómetro de rayos X es un instrumento utilizado para medir la tensión residual dentro de un material. Al analizar el patrón de difracción de rayos X del material, se calcula la distribución de tensiones residuales dentro del material.
GIWAXS es una técnica para caracterizar la microestructura interna de muestras de películas delgadas. El tamaño de estructura correspondiente está entre 10 nm y 1 um, por lo que se usa ampliamente para caracterizar la cristalización dentro de células solares de película delgada.