El espectro de difracción de rayos X analiza principalmente el estado cristalino y la microestructura del material, porque la longitud de onda del radiografíaes similar a la constante de red del cristal, irradiada sobre el material cristalino, y el patrón de difracción generado por el análisis puede determinar la estructura atómica y el tipo de cristal. Hay dos mediciones de difracción de rayos X paraanálisis de cristales.

1.Método del espectro de difracción de rayos X,X-ray difractometerLa estructura básica tiene tres partes: fuente de rayos X, goniómetro y detector.

Por lo general, la fuente de rayos X se produce mediante el uso de un haz de electrones para incidir en un objetivo de cobre. Los rayos X característicos de Ka se miden mediante un único selector de frecuencia. La longitud de onda óptica de Cu-KaX es 1.542A, lo que resulta en unadifracción de rayos Xespectro. Tome el patrón de difracción del monocristal como se muestra en la figura de la derecha. La dirección del plano del producto (400) se obtiene a partir del ángulo de la cresta de difracción en comparación con el gráfico estándar de difracción de cristales en polvo. Cuanto más fuerte sea la intensidad de la cresta y más estrecha sea la anchura de la media altura, mejores serán las características del producto.

2. Método Laue de retrorreflexión de rayos X

El método de Laue de reflexión de rayos X es un espectro que se obtiene utilizandoirradiación de rayos X de cristales. La irradiación de rayos X sobre una oblea única de silicio fija producirá un fenómeno de difracción en ciertos ángulos de acuerdo con la ley de Bragg, como se muestra en la figura de la izquierda, y el patrón de difracción de la reflexión de un solo cristal (100) de Laue se muestra en la figura de la bien. Este método se puede utilizar para distinguir la dirección del cristal de un solo cristal.