Como uno de los medios importantes de caracterización de la estructura del material,XRDSe utiliza ampliamente en materiales, física, química, medicina y otros campos. Para obtener resultados de análisis precisos o explorar más información estructural, la calidad de los datos de difracción de rayos X es la base, pero también una parte clave del análisis de patrones XRD. 

                                               Figura 1. Composicion deXRDpatrón

Componentes del patrón de difracción de rayos X y parámetros físicos correspondientes:

1. Posición máxima: (1) Precisa. (2)Grupo espacial. (3) Parámetros de celda.

2. Fuerza máxima: (1) Alta resistencia. (2)Estructura cristalina.(3) Análisis cuantitativo.

3. Forma del pico: (1) FWHM es pequeño y la forma del pico es simétrica (Fig. 2). (2) Ampliación de instrumentos. (3) Microestructura de la muestra.

4. Parte posterior e inferior: (1) Parte posterior e inferior bajas, ángulo bajo suave, alta relación pico-posterior, alta relación señal-ruido. (2) Límite de detección de pico débil (Fig3). (3) Pico difuso amorfo,"cristalinidad".

                                   Patrones Fig2 XRD con diferentes resoluciones

                      Fig3 La relación pico-retroceso y la relación señal-ruido tienen picos débiles

difracción de rayos Xcalidad de los datos y eficiencia de las pruebas

1. La adquisición de datos de alta calidad suele ser inversamente proporcional a la eficiencia de la prueba y requiere mucho tiempo. Depuración fina de instrumentos, selección razonable de hardware y tiempo de prueba prolongado.

2.No todas las aplicaciones requieren una calidad de datos muy alta. Se deben seleccionar el hardware y las condiciones de medición apropiados de acuerdo con las diferentes necesidades de la aplicación para obtener la calidad de datos correspondiente y mejorar la eficiencia de las pruebas.