fondo

Estructura fina de absorción de rayos X

1.XAFS es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales.
2.Campos de aplicación de XAFS: catálisis industrial, nanomateriales, también análisis de calidad, análisis de elementos pesados, etc.
3.Ventaja del producto XAFS: resolución ultraalta (tan baja como 0,5 eV), patrón de fluorescencia (base trasera alta de bajo contenido), flujo luminoso ultraalto, límites de detección ultrabajos (tan bajos como 0,3-0,5%, 10.1039/ D2CC05081A)

  • Tongda
  • Liaoning, China
  • 1—2 meses
  • 100 noches por año
  • información

Estructura fina de absorción de rayos X (XAFS), también llamada espectro de absorción de rayos X scopy (XAS), es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local. ure de materiales basados ​​en fuente de luz de radiación sincrotrón, y es ampliamente utilizado en campos calientes como catálisis, energía y nano. 

Parámetro técnico

 

 




Rendimiento integral

Parámetro

Instrucciones

Rango de energía

5-19keV

Modo espectral

Modo de transmisión

Flujo luminoso en la muestra.

>1.000.000 fotones/s/ev

Resolución energética

XANES:0,5-1,5eV  EXAFS:1,5-10eV

vía de rayos x

El acceso al helio reduce la absorción de aire.

Repetibilidad

Deriva de energía de adquisición repetida <50 meV


fuente de rayos x

Fuerza

1,6 kW, alto voltaje 10-40 kV, corriente 1-40 mA

Material objetivo

Objetivo W\Mo, se pueden seleccionar otros objetivos

monocromador

Tipo

Cristal analítico esférico con radio de curvatura de 500 mm, tamaño 100 mm

Detector

Tipo

SDD de gran área, área efectiva de 150 mm2



Otra configuración

rueda de muestra

Rueda de muestra de 18 bits, prueba automatizada continua de múltiples muestras

Conjunto de muestras in situ

Electrocatálisis, temperatura variable, otros campos múltiples, condiciones mecánicas, celda in situ

cristal analítico

Monocromador de cristal de análisis personalizado para elementos especiales.



Ventaja principal:

1.Productos de mayor flujo luminoso.

El flujo de fotones es superior a 1.000.000 de fotones/SEC/eV y la eficiencia de adquisición espectral es varias veces mayor que la de otros productos; Obtenga la misma calidad de datos que el rad sincrotróniación.

2.Excelente estabilidad

La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que el 0,1% y la deriva de energía de adquisición repetida es <50 meV.

Límite de detección del 3,1%

El alto flujo luminoso, la excelente optimización de la trayectoria óptica y la excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan datos EXAFS de alta calidad con el contenido de elementos medidos.>1%.


Principio del instrumento

La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una poderosa herramienta para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales, que se usa ampliamente en catálisis, energía, nano y otros campos calientes.

X-ray Absorption Fine Structure

                                                                          El monocromador de laboratorio XES prueba estructuras geométricas

XAFS

                                                                 Datos de Mn, datos XAFS de Mn K-edge, datos consistentes con la fuente de radiación sincrotrón

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

                                                        Datos del espectro de emisión de la muestra de Fe Kβ: núcleo a núcleo XES y valencia a núcleo XES



Datos de prueba

Datos EXAFS de lámina

X-ray Absorption Fine Structure


Elementos medibles: la parte verde puede medir el lado K, la parte amarilla puede medir el lado L

XAFS


Campos de aplicación: catálisis industrial, materiales de almacenamiento de energía, nanomateriales, toxicología ambiental, también análisis de calidad, análisis de elementos pesados, etc.

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

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