fondo

Estructura fina de absorción de rayos X

1.XAFS es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales.
2. Campos de aplicación de XAFS: catálisis industrial, nanomateriales, también análisis de calidad, análisis de elementos pesados, etc.
3. Ventajas del producto XAFS: Resolución ultraalta (hasta 0,5 eV), patrón de fluorescencia (base trasera alta de bajo contenido), flujo luminoso ultraalto, límites de detección ultrabajos (hasta 0,3-0,5 %, 10.1039/D2CC05081A)

  • Tongda
  • Liaoning, China
  • 1—2 meses
  • 100 noches al año
  • información

La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS), también llamada espectroscopia de absorción de rayos X (XAS), es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de materiales basados ​​en una fuente de luz de radiación de sincrotrón, y es ampliamente utilizada en campos calientes como catálisis, energía y nano. 


Parámetro técnico

 

 




Rendimiento integral

Parámetro

Instrucciones

Rango de energía

5-19 keV

Modo espectral

Modo de transmisión

Flujo luminoso en la muestra

> 1.000.000 fotones /s/ev

Resolución energética

XANES: 0,5-1,5 eV EXAFS: 1,5-10 eV

Vía de rayos X

El acceso al helio reduce la absorción de aire.

Repetibilidad

Deriva de energía de adquisición repetida <50 meV


fuente de rayos X

Fuerza

1,6 kW, alto voltaje 10-40 kV, corriente 1-40 mA

Material objetivo

Objetivo W\Mo, se pueden seleccionar otros objetivos

Monocromador

Tipo

Cristal analítico esférico con radio de curvatura de 500 mm y tamaño de 100 mm.

Detector

Tipo

SDD de área grande, área efectiva de 150 mm2



Otra configuración

Rueda de muestra

Rueda de muestreo de 18 bits, prueba automatizada continua de múltiples muestras

Conjunto de muestras in situ

Electrocatálisis, temperatura variable, otros campos múltiples, condiciones mecánicas en la celda in situ

Cristal analítico

Monocromador de cristal de análisis personalizado para elementos especiales



Ventaja principal:

1. Productos con el mayor flujo luminoso.

El flujo de fotones es superior a 1.000.000 de fotones/seg/eV, y la eficiencia de adquisición espectral es varias veces mayor que la de otros productos; Obtenga la misma calidad de datos que el radio de sincrotrón.iación.

2. Excelente estabilidad

La estabilidad de la intensidad de la luz monocromática de la fuente de luz es mejor que 0,1% y la deriva de energía de adquisición repetida es < 50 meV.

Límite de detección del 3,1%

Un alto flujo luminoso, una excelente optimización de la trayectoria óptica y una excelente estabilidad de la fuente de luz garantizan datos EXAFS de alta calidad con un contenido de elementos medido de >1%.


Principio del instrumento

La estructura fina de absorción de rayos X (XAFS) es una herramienta poderosa para estudiar la estructura atómica o electrónica local de los materiales, que se utiliza ampliamente en catálisis, energía, nano y otros campos importantes.

X-ray Absorption Fine Structure

                                                                          El monocromador de laboratorio XES prueba estructuras geométricas

XAFS

                                                                 Datos de Mn, datos XAFS de borde K de Mn, datos consistentes con la fuente de radiación de sincrotrón

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

                                                        Datos del espectro de emisión de la muestra de Fe Kβ: XES de núcleo a núcleo y XES de valencia a núcleo



Datos de prueba

Datos EXAFS de lámina

X-ray Absorption Fine Structure


Elementos medibles: la parte verde puede medir el lado K, la parte amarilla puede medir el lado L

XAFS


Campos de aplicación: catálisis industrial, materiales de almacenamiento de energía, nanomateriales, toxicología ambiental, también análisis de calidad, análisis de elementos pesados, etc.

X-ray Absorption Fine Structure Spectrum

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