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+86-415-6123805El sistema de fijación para películas delgadas permite un análisis preciso de difracción de rayos X (DRX) de películas nanométricas/micrométricas, ideal para semiconductores, recubrimientos y polímeros. Mejora la señal, reduce la interferencia del sustrato y admite escaneo de alta velocidad, siendo ampliamente utilizado en I+D y control de calidad con difractómetros de la serie TD.
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El accesorio de medición de película delgada de Dandong Tongda Technology mejora el rendimiento al incorporar láminas de rejilla más largas. Este diseño filtra eficazmente la radiación dispersa, reduciendo la interferencia de las señales del sustrato y reforzando significativamente las señales de difracción de la película delgada.
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