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+86-415-6123805El sistema de fijación para películas delgadas permite un análisis preciso de difracción de rayos X (DRX) de películas nanométricas/micrométricas, ideal para semiconductores, recubrimientos y polímeros. Mejora la señal, reduce la interferencia del sustrato y admite escaneo de alta velocidad, siendo ampliamente utilizado en I+D y control de calidad con difractómetros de la serie TD.
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