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Pruebas polarográficas mediante transmisión o reflexión. Las pruebas de resistencia pueden realizarse mediante el método de inclinación o el mismo método de inclinación. Pruebas de película delgada (rotación en el plano de la muestra).

1. Nombre: Accesorios de fibra 2. Función: Determinar la estructura cristalina especial de la fibra y determinar la orientación de la muestra de acuerdo con la cristalinidad de la fibra y el ancho de medio pico.

1.Nombre: Accesorios para altas temperaturas. 2. Aplicación: Accesorios para difractómetro. 3. Función: Comprender los cambios en la estructura cristalina de la muestra o la disolución mutua de diversas sustancias en el proceso de calentamiento a alta temperatura.

El portamuestras multifunción permite el análisis directo por difracción de rayos X (DRX) de muestras irregulares, a granel y micropolvo sin preparación destructiva. Garantiza un posicionamiento preciso con mandril de vacío y abrazaderas ajustables. Ideal para investigación avanzada de materiales, productos farmacéuticos y geología.

Está equipado con un difractómetro de rayos X y es un tipo de accesorio para difractómetro. Se utiliza ampliamente en sistemas electroquímicos que contienen carbono, oxígeno, nitrógeno, azufre, intercalación de metales, etc.

El accesorio de difracción de ángulo pequeño de Dandong Tongda mide con precisión el espesor de películas nanomulticapa (rango de 0° a 5°). Totalmente compatible con los difractómetros de la serie TD, ofrece una instalación sencilla y una reproducibilidad de 0,0001°, lo que impulsa la investigación en energías renovables y semiconductores.

1. Nombre: Monocromador de cristal curvado de grafito. 2. Aplicación: Accesorios para difractómetros. 3. Función: aumentar la relación de retroceso del pico y la resolución del pico débil, reducir el ángulo de difracción.

1. Alta precisión de los accesorios de temperatura. 2. Los accesorios de temperatura son duraderos y tienen una larga vida útil. 3. Para comprender el cambio en la estructura cristalina de la muestra durante el proceso de refrigeración a baja temperatura.

El accesorio de medición de película delgada de Dandong Tongda Technology mejora el rendimiento al incorporar láminas de rejilla más largas. Este diseño filtra eficazmente la radiación dispersa, reduciendo la interferencia de las señales del sustrato y reforzando significativamente las señales de difracción de la película delgada.