El analizador de cristales de rayos X es un tipo de instrumento analítico grande para estudiar la microestructura interna de sustancias, utilizado principalmente en la orientación de un solo cristal, detección de defectos, determinación de tensión residual, dislocación de un solo cristal, etc.

Difracción de rayos X, a través de la difracción de rayos X de un material, el análisis de su patrón de difracción, para obtener la composición del material, la estructura o forma de los átomos o moléculas dentro del material y otros medios de investigación.

Los instrumentos XRF utilizan rayos X para "excitar" un material con el fin de caracterizar su composición identificando elementos en la muestra (análisis cualitativo) o determinando la resistencia de un elemento en la muestra (análisis cuantitativo).

Este procedimiento es un procedimiento de desarrollo propio. Contiene una variedad de funciones de análisis cuantitativo desarrolladas por nosotros mismos, que están de acuerdo con la teoría de la difracción y se calculan por intensidad integral.

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