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TDM-20
Difractómetro de rayos X de escritorio: se utiliza principalmente para el análisis de fases de polvos, sólidos y materiales pastosos similares. Utiliza el principio de difracción de rayos X para realizar análisis cualitativos o cuantitativos de materiales policristalinos, como muestras de polvo y muestras de metales, así como análisis de estructuras cristalinas. Se utiliza ampliamente en industrias como la industrial, la agricultura, la defensa nacional, la farmacéutica, los minerales, la seguridad alimentaria, el petróleo, la educación y la investigación científica.
2024/09/19
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