Difractómetro de rayos-X: de escritorio utilizado principalmente para el análisis de fase de polvos, sólidos, y materiales de pasta similares. Utiliza el principio de X -difracción de rayos para realizar análisis cualitativo o cuantitativo en materiales policristalinos como muestras de polvo y muestras de metal, así como análisis de estructura cristalina . Se utiliza ampliamente en industrias como la industria, agricultura, defensa nacional, farmacéutica, minerales, seguridad alimentaria, petróleo, educación, e investigación científica.